【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于测量技术，涉及对激光自准直测角技术方法的改进。
技术介绍
激光自准直测角技术自从60年代出现以来，已成为一门日益重要的小角度精密测试技术，在实现小角度的多维、非接触测量中具有独特的优点。任何一个激光自准直测角系统在构建完成之后，都需要经过一个标定过程来确定系统测量模型中未知参数的精确值，然后系统才能正确行使其功能。系统基准零位的测量是激光自准直测角系统标定的一个方面。激光自准直测角系统基准零位的标定通常采用的方法是将贴有反射镜的被测物体安装在三轴转动台中，要求在偏航和俯仰角为零的情况下内框的滚动轴指向为测角零位基准，偏航和俯仰角的测量是以零位基准开始的。在这种情况下，通常确定零位基准的方法是将反射镜放于转台的内框轴上，并使其法线方向与内框轴大体平行，这时转动转台的内框一周，并对光电接收器件上的像点轨迹进行椭圆拟合，以求解得到椭圆中心作为测角零位基准。这种处理方法在很多测角应用场合被广泛采用，但实际上这种方法只是一种近似，只有在①内框轴与光轴重合；②光电接收器件与转台内框轴垂直时，即光电接收器件上的像点为圆轨迹时，这种处理才是准确的。一般情况下，由...
【技术保护点】
一种激光自准直测角系统零位基准误差测量方法，其特征在于，１．１、本测量方法的实施基于以下装置：一个精度在角秒级的三自由度旋转台，在旋转台的旋转中心放置着平面反射镜；激光测角传感器，即测角系统的光学部分；光电接收器件；数据采集卡和计算 机；１．２、建立激光自准直测角系统基准零位的畸变模型，首先，建立ｘｙｚ坐标系，右手系。１．２．１、当光电接收器件的安装位置垂直于光轴且平面镜绕光轴旋转一周时，折射光线绕光轴旋转形成的正锥体的方程为：［ｚ＋Ｍ］↑［２］ ＝Ｎ（ｘ↑［２］＋ｙ↑［２］）（１）式中：Ｍ＝－ｆ.Ｌ.ｔａｎα／｜...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张广军，尚鸿雁，魏振忠，
申请(专利权)人：北京航空航天大学，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]
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