【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于计量测试技术，涉及对深小孔表面形貌测量装置的改进。
技术介绍
在计量测试领域，小尺寸尤其是深小孔内表面的测量，一直是精密测量中的技术难点之一。深小孔表面形貌测量的问题主要有三个，一是当孔径较小而孔深又较长时，受检测空间的限制而难于进行测量；二是要求传感器既具有高的分辨力，同时又具有比较大的动态范围；三是要求测量的参数比较复杂，可能同时包括宏观形状误差和微观表面粗糙度，从而进一步增加了测量的困难程度。常规的商品化圆度仪一般仅适合于普通零件圆度误差的测量。由于受到传感器结构的限制，很难对小孔类尤其是深小孔零件进行测量。深小孔类零件目前一般不使用圆度仪，而是通过专用仪器进行测量的。关于深孔或微孔的测量，虽然已有一些专利技术，但都存在着一定的局限性。例如“微孔自动测量方法及装置(申请号02137742.1)”，采用CCD摄像头将载波片上的微孔通过显微镜进行放大，可以对尺寸很小的孔径进行测量，但缺点是仅限于薄片状零件。“深孔表面粗糙度轮廓仪(申请号91108717.6)”可测的孔深范围为0-10米，孔径范围为38-100mm，采用五级圆锥齿轮的减速机构，不...
【技术保护点】
深小孔表面形貌综合测量装置，包括一个基座，在基座上安装着一个水平放置的回转台［１］，一个夹持被测件［３］的夹具［２］固定在回转台［１］上，还包括一个传感器［４］，其特征在于，（１）在基座上固定着一个圆柱形的立柱［１２］，有一个支座［ １１］，它的右侧有一个垂直的圆形贯通孔，在该贯通孔的孔壁上有一个贯通孔壁的窄槽和向外伸展的耳片，两个夹紧螺栓穿在耳片的螺栓孔中，支座［１１］的贯通孔套在立柱［１２］上；在支座［１１］的左侧有一个水平的圆形孔，该孔的上部和下部孔壁上各有一段贯通孔壁的窄槽，位于窄槽处的孔壁分别向上下延展，在延展的孔壁一侧有一个垂直于窄槽的螺纹孔，另一...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：王中宇，李柱，谢铁邦，魏天民，林敏，
申请(专利权)人：北京航空航天大学，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]
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