基于焦平面成像法的发射模块间同轴度测量方法技术

基于焦平面成像法的发射模块间同轴度测量方法，本发明专利技术涉及测量领域，它解决了不同波段的光束，不能使用同一探测器对出射光束进行探测，更换时要求可对模块间出射的同轴度进行精确测量的问题。步骤如下：首先对８００ｎｍ波段激光发射模块输出光成像光斑坐标为（ｘ↓［１］，ｙ↓［１］）；其次安装小孔光阑并记录小孔中心位置坐标为（ｘ↓［２］，ｙ↓［２］）；之后１５５０ｎｍ波段ＣＣＤ探测器定位，并记录小孔中心位置坐标为（ｘ↓［３］，ｙ↓［３］）；接下来对１５５０ｎｍ波段激光发射模块输出光成像进行坐标记录为（ｘ↓［４］，ｙ↓［４］）；最终得出方向角度偏差和俯仰角度偏差分别为α＝［（ｘ↓［１］－ｘ↓［２］）－（ｘ↓［４］－ｘ↓［３］）］／Ｆ，β＝［（ｙ↓［１］－ｙ↓［２］）－（ｙ↓［４］－ｙ↓［３］）］／Ｆ。利用长焦平行光管、不同波段带显微镜头的ＣＣＤ探测器等器件，基于焦平面成像法可将测量精度提高到０．５μｒａｄ以上。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测量领域，具体涉及基于焦平面成像法的发射模块间同轴度测 量方法。
技术介绍
为适应800nm、 1550nm两波段光学系统性能参数的测量，测试系统需要 改变其发射激光光束波长。采用模块化设计，针对不同发射波长设计不同的发 射模块，共用同一发射天线，是实现这一功能的有效手段。对光学系统进行测 试时，可通过更换模块的方式实现输出不同波长。由于测试系统对发射光束的出射方向要求极高，因此更换不同发射模块 时，要求可对模块间出射的同轴度进行精确测量，并以此为基准对模块间的激 光发射方向进行调整。目前并无方法对其进行测量，特别是对于800nm、 1550nm波段，不能使用同一探测器对出射光束进行探测，对发射模块间同轴 度测量带来很大困难。
技术实现思路
本专利技术为了解决不同波段的光束，不能使用同一探测器对出射光束进行探 测，更换时要求可对模块间出射的同轴度进行精确测量的问题，而提出了一种 。本专利技术的步骤如下步骤一对800nm波段激光发射模块6输出光成像首先安装800nm波 段激光发射模块6于机械承载平台4上，并通过望远镜系统5发出激光光束， 激光光束经过长焦平行光管1聚焦，在成本文档来自技高网...

【技术保护点】
基于焦平面成像法的发射模块间同轴度测量方法，其特征在于它的步骤如下：步骤一：对８００ｎｍ波段激光发射模块（６）输出光成像：首先安装８００ｎｍ波段激光发射模块（６）于机械承载平台（４）上，并通过望远镜系统（５）发出激光光束，激光光束经过长焦平行光管（１）聚焦，在成像屏（３）上成点像，带有显微镜头的８００ｎｍ波段ＣＣＤ探测器（２）对成像点位置进行记录，坐标为（ｘ↓［１］，ｙ↓［１］）；步骤二：安装小孔光阑：关闭激光发射系统，将显微镜头前的成像屏（３）移除，替换具有小孔的遮光板（７），再由带有显微镜头的８００ｎｍ波段ＣＣＤ探测器（２）准确探测小孔中心位置，记录其坐标为（ｘ↓［２］，ｙ↓［２］）；步骤...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：谭立英，马晶，韩琦琦，刘剑峰，于思源，杨玉强，俞建杰，
申请(专利权)人：哈尔滨工业大学，
类型：发明
国别省市：93[中国|哈尔滨]