【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及测量领域，具体涉及基于辅助光源的激光发射轴与机械基准面 同轴度测量方法。技术背景将激光发射系统安装于机械承载平台时，要求其激光发射轴与承载平台的 基准面法线精确对准，这就要求在安装过程中可对激光发射轴与机械基准面同 轴度进行高精度测量。目前大多数光学系统对光学轴与机械轴间的角度差要求 并不严格，不需要对其间的差异进行精度测量。但对于光束发散角小、指向控 制精度要求高的光学测试系统，其激光发射轴与机械基准面的夹角需要严格测 出，目前并无方法对其进行测量。
技术实现思路
本专利技术为了解决在光束发散角小、指向控制精度要求高的光学测试系统 中，激光发射轴与机械基准面的夹角需要严格测出，目前并无方法对其进行测 量的问题，而提出了一种基于辅助光源的激光发射轴与机械基准面同轴度测量 方法。本专利技术的步骤如下步骤一探测被测激光发射系统9出射光斑被测激光发射系统9发出激 光光東，激光光束经过长焦平行光管1聚焦，聚焦后被测激光光束照射在长焦 平行光管1出光口与焦点之间的1: 1分光器3上，50%被测激光光束经分光 器3反射聚焦于CCD探测器4上，并记录成像光斑位置...
【技术保护点】
基于辅助光源的激光发射轴与机械基准面同轴度测量方法，其特征在于它的步骤如下：步骤一：探测被测激光发射系统（９）出射光斑：被测激光发射系统（９）发出激光光束，激光光束经过长焦平行光管（１）聚焦，聚焦后被测激光光束照射在长焦平行光管（１）出光口与焦点之间的１∶１分光器（３）上，５０％被测激光光束经分光器（３）反射聚焦于ＣＣＤ探测器（４）上，并记录成像光斑位置为Ａ（ｘ↓［１］，ｙ↓［１］），另５０％被测激光光束在成像屏（５）上成点像，通过显微ＣＣＤ探测器（７）对光斑位置进行记录；步骤二：安装小孔光阑：关闭激光发射系统，将成像屏（５）移除，替换具有小孔的遮光板（６），通过显微ＣＣＤ...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：谭立英，马晶，韩琦琦，刘剑峰，于思源，杨玉强，俞建杰，
申请(专利权)人：哈尔滨工业大学，
类型：发明
国别省市：93[中国|哈尔滨]
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