一种温控箱内的芯片测试支架制造技术

技术编号:25069891 阅读:17 留言:0更新日期:2020-07-29 06:00
本实用新型专利技术提供的温控箱内的芯片测试支架。所述设备分为左右两部分支架,左右两部支架分别由相同的模块组成。支架的左右部分采用滑道设计,可通过滑道移动,放大和缩小整个支架,方便在狭小的空间内进行排线的安装和维护。温箱内的测试支架通过排线连接外部的测试电脑,排线的一端(连接测试基板端)固定在支架的模块上,测试基板沿着两边的导向滑道模块插入排线的固定端的接口内,这样相同的多组导向滑道模块排线固定模块和排线都固定在左右两部分的支架上,最大限度的提高了测试数量,减少了空间的浪费,支架上的导向滑槽模块,方便了芯片在测试中取放,提高了效率。

【技术实现步骤摘要】
一种温控箱内的芯片测试支架
本技术涉及半导体芯片测试的
,特别涉及一种芯片在高低温状态下性能测试的应用领域,本技术的测试支架可以满足多个芯片同时测试,减少了测试的时间,提高生产效率。
技术介绍
闪存只是对芯片存储速度特点的一种形容,芯片内存指的是存储器,闪存是一种非易失性存储器,即断电数据也不会丢失;是一种可以储存任何格式文件和数据的移动数据储存器,它小巧轻便,便于携带,可以说是一个小小的个人移动数据库。
技术实现思路
本技术所要解决的问题是:温箱内部空间小,芯片同时测试的数量少;密度高测试时,芯片不好取放;温箱高低温状态切换后形成的水,对测试基板易造成损坏。为了解决以上技术问题,本技术提供了温控箱内的芯片测试支架。本技术分为左右两部分支架,左右两部支架分别由相同的模块组成。支架的左右部分采用滑道设计,可通过滑道移动,放大和缩小整个支架,方便在狭小的空间内进行排线的安装和维护。温箱内的测试支架通过排线连接外部的测试电脑,排线的一端(连接测试基板)固定在支架的模块上,测试基板沿着两边的导向滑道模块插入排线的固定端的接口内,这样相同的多组导向滑道模块、排线固定模块和排线都固定在左右两部分的支架上,最大限度的提高了测试数量,减少了空间的浪费,支架上的导向滑槽模块,方便了芯片在测试中取放,提高了效率。支架反面固定的积水隔断模块,可防止高低温箱在测试过程中,温度切换形成的水珠通过排线流到接口上,引起的短路,会对测试电脑和测试的芯片造成损坏。支架包括左右支架模块、导向滑道模块、排线固定模块、积水隔断模块。本技术的优越功效在于:1)本技术支架滑道设计,左右支架能进行伸缩变换,方便了排线的安装和维护;2)本技术导向滑道设计,测试基板沿着导向滑道滑动,方便测试芯片的取放,提高了测试的效率;3)本技术的积水隔断模块,隔绝了积水对排线的影响,减少了测试电脑及芯片的损坏,提高了芯片测试效率。附图说明构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本架构开发的进一步理解,本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术,并不构成对本技术的不当限定,在附图中:图1为技术的整体结构的示意图;图2技术的导向滑道模块和排线固定模块的放大图;1—右支架模块;2—左支架模块;3—导向滑道模块;4—积水隔断模块;5—排线固定模块。具体实施方式以下结合附图对本技术的实施例进行详细说明。图1示出了本技术整体结构示意图;由图1所示本支架是由左右支架模块、导向滑道模块、积水隔断模块、排线固定模块组成,左右支架模块中间有定位滑道可让整个支架放大或者缩小,方便对支架上的排线进行安装和维护;温箱内的测试基板通过导向滑道与排线的一端连接,再通过排线与温箱外的测试电脑进行通讯;温箱的温度变化易形成积水,积水隔断模块对排线上的积水进行隔断,防止积水流入排线接口,造成短路,损坏测试电脑和芯片。图2示出了导向轨道模块及排线固定模块。以上所述仅为本技术的优先实施例而已,并不用于限制本技术,对于本领域的技术人员来说,本技术可以有各种更改和变化,凡在本技术的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本技术的保护范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种温控箱内的芯片测试支架,其特征在于:本支架由左右两部分组成,左右两部分支架模块有定位滑道可让整个支架放大或者缩小,方便对支架上的排线进行安装和维护;温箱内的测试基板通过导向滑道与排线的一端连接,再通过排线与温箱外的测试电脑进行通讯;温箱的温度变化易形成积水,积水隔断模块对排线上的积水进行隔断,防止积水流入排线接口,造成短路,损坏测试电脑和芯片;每个模块设计有通风口,方便气体在温箱内循环流动。/n

【技术特征摘要】
1.一种温控箱内的芯片测试支架,其特征在于:本支架由左右两部分组成,左右两部分支架模块有定位滑道可让整个支架放大或者缩小,方便对支架上的排线进行安装和维护;温箱内的测试基板通过导向滑道与排线的一端连接,再通过排线与温箱外的测试电脑进行通讯;温箱的温度变化易形成积水,积水隔断模块对排线上的积水进行隔断,防止积水流入排线接口,造成短路,损坏测试电脑和芯片;每个模块设计有通风口,方便气体在温箱内循环流动。


2.根据权利要求1所述的一种温控箱内的芯片测试支架,其特征在于:该支架整体是由几种相同的模块根据一定的关...

【专利技术属性】
技术研发人员:许斌
申请(专利权)人:上海优异达机电有限公司
类型:新型
国别省市:上海;31

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