【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于被测物体试验用具，具体涉及一种精密件智能测长称重一体的检测设备。
技术介绍
1、工程建设需要大量精密件，诸如各种特钢进场需进行大量的精密件的质量偏差检测。传统人工进行精密件质量偏差检测通过用钢尺逐支量取被测物体试验尺寸，用电子天平对被测物体试样进行称重，费时费力。现今市面上存在的精密件质量偏差仪可单独对每个被测物体试件进行测长和称重，但其存在三个缺点：一、利用激光位移传感器测长，其原理是利用激光检测光圈照射被测物体试件两端截面，而检测光圈是一固定小圆点，不同待测被测物体试件两端的截面不能保证完全相同，被测物体稍微有点弯曲时，被测物体截面被照射的位置发生改变，就会增大测量误差；二、单独称重导致单个测量试件质量误差的累积，使测量质量结果偏差增大；三、该仪器每根被测物体试样的测量均需要人工将试件放到仪器指定的位置，工作效率不高。因此，这种大批量的检测试验亟需一种精准、高效的检测设备来实现试件的批量检测。
技术实现思路
1、鉴于上述考虑本专利技术提供一种精密外形尺寸、质量偏差智能检测设备，包括：测量台支架、试样放置台、伺服滑台模组、对射光幕装置、测重装置、检测装置及附件。
2、其中，所述测量台支架具有上板面，其底部可拆卸固定安装了伺服滑台模组，所述上板面两端上表面可拆卸安装所述对射光幕装置，所述试样放置台由所述伺服滑台模组控制而可移动地安装于所述上板面上的开槽上，且位于所述对射光幕装置之间。
3、可选地，所述伺服滑台模组包括设置于上板面底部而通过所述开
4、优选地，所述滑移组件上安装定位光纤传感器，用于对所述移动的距离进行传感，从而控制所述移动的行程范围。
5、可选地，所述试样放置台底部表面，或所述试样放置台底部外延出的水平侧翼板下表面上，等间距设置有多个凸起，此时在所述上板面上，且在所述开槽面向定位光纤传感器的一侧还具有供所述多个凸起嵌入，且在移动过程中起到导向作用的避让通槽，用于使得定位光纤传感器能够扫描到嵌入所述避让通槽的不同的所述凸起，从而计算出移动过程中所经的所述行程范围。
6、优选地，所述多个凸起之间突出所述上板面底部表面向下，且高度不相同，且各自的高度差在5-20mm。
7、可以理解的是，对于所述计算，当经过每一个所述凸起时，在定位光纤传感器的信号函数的时间轴上会产生特征反馈延时（采用锁模激光技术，光谱时间分辨到达皮秒，因此即便是毫米的高度差仍然可以分辨），从而判断所经历的凸起对应的上面板上的位置。这是因为，每个固定位置的定位光纤传感器扫描到某一具有对应特征反馈延时的凸起时，所述试样放置台在所述上板面上的位置是唯一确定的。
8、优选地，所述定位光纤传感器为多个。通过每一个定位光纤传感器的扫描过的凸起，以及移动起止时间点，就能够计算出移动距离。
9、优选地，在移动开始前，将试样放置台移动到所选定的一个定位光纤传感器刚识别到预选的一个凸起时所处的位置。由此就获得起始位置坐标，从而通过接下来移动过程所经历的各个凸起的时刻以及移动停止时间，和预设移动速度。就能计算出任意移动的距离。当设置多个定位光纤传感器时能够按照定位光纤传感器计算出的多个移动距离作算术平均而更精确测量移动距离；所述试样放置台移动过程中，当移动距离过长，使得至少一个所述定位光纤传感器扫描到的多个凸起存在范围之外时，其他在所述存在范围之内的至少一个所述定位光纤传感器能够继续识别凸起，从而不妨碍位移的测量。
10、更优选地，所述预选的一个凸起是该凸起的中心线与所述上板面底部表面在长度方向上的对称线重合，或者，该凸起的中心线的投影与所述对称线的延长线重合。
11、优选地，当所述样品放置台移动（向左或向右）到与对射光幕装置接触的极限位置时，尚有至少一个凸起未被扫描到，或至少仍然有一个凸起正好被扫描到。
12、可选地，以替代凸起的方案。所述上板面底部表面安装有光栅尺，从而配合定位光纤传感器，获取到位移距离。
13、所述附件包括但不仅限于设置于所述测试台支架下板面的上表面上的用于连接伺服电机、定位光纤传感器、对射光幕装置、测重装置之电源线的接线排，机械手，以及控制所述伺服电机和机械手运行的远程处理器。
14、可选地，所述对射光幕装置包括对射光幕主体，以及对射光幕主体固定支架，所述对射光幕主体固定支架具有让被测物体穿过的通口，且所述对射光幕装置能够在所述上板面上相向或相离方向而相对移动调节间距，以适合不同长度的被测物体试件。
15、可选地，所述相对移动调节间距借助避让通槽实现。
16、优选地，所述相对移动调节间距借助避让通槽，以及设置于所述上板面在远离定位光纤传感器的所述开槽的另一侧的导向槽实现。
17、优选地，所述被测物体试件的长度尺寸，需要满足如下条件：
18、当其架设定位在所述检测装置上时，能通过机械手移动微调被测物体位置，得至少一侧的对射光幕装置额度光路能够不被遮挡，且控制（即经由控制所述伺服电机来控制）所述试样放置台移动时，被测物体至少一端能够穿过所述通口而露出端面，使得机械手能够可靠抓握所述至少一端。
19、可以理解的是，相对移动调节间距，以及机械手的微调动作，都能使得上述条件满足，除非长度太长。其中相对移动调节间距可以人工调节。
20、由此能够例如通过确定好试样放置台初始位置时，再继续移动调试，使得一个对射光幕装置刚被遮挡时停止移动，从而计算出此时的初始测试位置，或者通过所述凸起或光栅尺计算得到初始测试位置。一般地，初始测试位置可以是被测物体上任一预选的位置，不必是所述刚被遮挡时的端面位置。
21、可选地，所述机械手可一次性抓取1-5个试样架设定位在检测装置上。
22、优选地，在架设定位前，检测装置识别其上是否留有未移走的被测物体，若是则所述机械手将所有未移走的被测物体移走，再进行所述架设定位；若否则直接进行所述架设定位。
23、所述检测装置和测重装置设置于所述试样放置台，所述检测装置用于测量前将至少一个被测物体试样架设定位，当完成所述定位后，所述检测装置和测重装置分别能够识别被测物体是否满载以及当前定位被测物体的总质量，所述检测装置还用于识别试样放置台上是否有正被测试的试样存在，以防止误操作机器人夹爪而与试样碰撞。
24、可选地，所述检测装置由一对具有多个v字形架设槽的架设支架，以及一对设置在至少一侧架设支架上的光学对射传感器组成，所述光学对射传感器根据光是否被遮挡而在架设定位前判断是否存在未移走的所述被测物体。
25、优选地，检测时所述v字形架设槽表面涂覆润滑剂（其微小质量不能被测重装置感测到，可忽略不计），使得机械手微调或抽离被测物体时顺滑。
26、所述对射光幕装置能够通过所述主体来检测遮挡对射光路的被测物体表面两侧的发本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种精密外形尺寸、质量偏差智能检测设备，其特征在于，包括：测量台支架、试样放置台、伺服滑台模组、对射光幕装置、测重装置、检测装置及附件；
2.根据权利要求1所述的检测设备，其特征在于，所述伺服滑台模组包括设置于上板面底部而通过所述开槽连接所述试样放置台的滑移组件，以及滑移组件下方可拆卸连接的伺服电机，用于驱动所述滑移组件以实现所述试样放置台的可移动。
3.根据权利要求2所述的检测设备，其特征在于，所述滑移组件上安装定位光纤传感器，用于对移动的距离进行传感，从而能够借由控制移动的行程范围。
4.根据权利要求1-3中任一项所述的检测设备，其特征在于，所述附件包括所述测试台支架下板面的上表面上的用于连接伺服电机、定位光纤传感器、对射光幕装置、测重装置之电源线的接线排，机械手，以及控制所述伺服电机和机械手运行的远程处理器。
5.根据权利要求1所述的检测设备，其特征在于，通过远程处理器控制试样放置台从任一侧通口将被测物体自其一端面遮挡该侧的对射光幕光路时开始，向所述该侧的对射光幕装置移动至极限位置后，再控制机械臂继续沿着移动方向将被测物体
6.根据权利要求5所述的检测设备，其特征在于，被测物体两侧长度偏差取平均值，被测物体总长偏差取平均值。
...【技术特征摘要】
1.一种精密外形尺寸、质量偏差智能检测设备，其特征在于，包括：测量台支架、试样放置台、伺服滑台模组、对射光幕装置、测重装置、检测装置及附件；
2.根据权利要求1所述的检测设备，其特征在于，所述伺服滑台模组包括设置于上板面底部而通过所述开槽连接所述试样放置台的滑移组件，以及滑移组件下方可拆卸连接的伺服电机，用于驱动所述滑移组件以实现所述试样放置台的可移动。
3.根据权利要求2所述的检测设备，其特征在于，所述滑移组件上安装定位光纤传感器，用于对移动的距离进行传感，从而能够借由控制移动的行程范围。
4.根据权利要求1-3中任一项所述的检测设备，其特征在于，所述附件包括所述测试台支架下板...
【专利技术属性】
技术研发人员：郑搏，孙铁清，马亚平，张子文，刘杰，吕承家，李一波，段其伟，沈高航，
申请(专利权)人：上海优异达机电有限公司，
类型：发明
国别省市：
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