【技术实现步骤摘要】
一种半导体硅片表面清洗机构及其清洗工艺
本专利技术属于半导体硅片清洗
,尤其是涉及一种半导体硅片表面清洗机构及其清洗工艺。
技术介绍
随着半导体集成电路制程工艺节点越来越先进,对实际制造的几个环节也提出了新要求,清洗环节的重要性日益凸显。清洗的关键性则是由于随着特征尺寸的不断缩小,半导体对杂质含量越来越敏感,而半导体制造中不可避免会引入一些颗粒、有机物、金属和氧化物等污染物。为了减少杂质对芯片良率的影响,实际生产中不仅仅需要提高单次的清洗效率,还需要在几乎所有制程前后都频繁的进行清洗,清洗步骤约占整体步骤的33%,清洗主要是以多步骤的高度无污染洗净程序,包含各种高度洁净的清洗液处理,以去除芯片表面的所有污染物质,使芯片达到可进行芯片加工的状态。大尺寸化是如今半导体硅片发展趋势,而随着硅片尺寸面积的增加,在切割过程中产生大量的硅粉,同时硅片表面在空气、砂浆液及水液中极易被氧化,形成二氧化硅;而随着硅粉含量的增加,势必会在切割过程中会形成团聚的颗粒型硅粉,这些颗粒型硅粉和散装的硅粉会将会与二氧化硅氧化物、砂浆中的有 ...
【技术保护点】
1.一种半导体硅片表面清洗机构,其特征在于,至少依次具有预清洗单元和酸洗单元;其中,/n在所述预清洗单元和所述酸洗单元之间还依次具有预酸洗单元和碱洗单元,所述预酸洗单元靠近所述预清洗单元设置;/n所述预酸洗单元、所述碱洗单元和所述酸洗单元之后分别设有清洗槽;/n或所述预酸洗单元和所述酸洗单元之后分别设有所述清洗槽。/n
【技术特征摘要】
1.一种半导体硅片表面清洗机构,其特征在于,至少依次具有预清洗单元和酸洗单元;其中,
在所述预清洗单元和所述酸洗单元之间还依次具有预酸洗单元和碱洗单元,所述预酸洗单元靠近所述预清洗单元设置;
所述预酸洗单元、所述碱洗单元和所述酸洗单元之后分别设有清洗槽;
或所述预酸洗单元和所述酸洗单元之后分别设有所述清洗槽。
2.根据权利要求1所述的一种半导体硅片表面清洗机构,其特征在于,所述预酸洗单元、所述碱洗单元和所述酸洗单元分别至少包括一个预酸洗槽、一个碱洗槽和一个酸洗槽。
3.根据权利要求2所述的一种半导体硅片表面清洗机构,其特征在于,所述酸洗单元后设有两个所述清洗槽,靠近所述酸洗单元的所述清洗槽为快排冲水槽。
4.根据权利要求2或3所述的一种半导体硅片表面清洗机构,其特征在于,所述预酸洗槽、所述碱洗槽和所述酸洗槽均设有发射兆声波的兆声装置,所述预酸洗槽、所述碱洗槽和所述酸洗槽中的兆声波频率相同;
所述预酸洗槽、所述碱洗槽和所述酸洗槽中的兆声波频率为860-950kHz。
5.根据权利要求4所述的一种半导体硅片表面清洗机构,其特征在于,所述预酸洗槽、所述碱洗槽和所述酸洗槽中均设有加热器,所述加热器在所述预酸洗槽中的温度与在所述碱洗槽和所述酸洗槽中的温度不同。
6.根据权利要求2-3、5任一项所述的一种半导体硅片表面清洗机构,其特征在...
【专利技术属性】
技术研发人员:常雪岩,武卫,刘园,刘建伟,祝斌,刘姣龙,裴坤羽,袁祥龙,孙晨光,王彦君,王聚安,由佰玲,杨春雪,谢艳,刘秒,吕莹,徐荣清,
申请(专利权)人:天津中环领先材料技术有限公司,中环领先半导体材料有限公司,
类型:发明
国别省市:天津;12
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