一种eMMC芯片测试方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供了一种eMMC芯片测试方法与装置，该方法包括：加载U‑Boot测试程序；在所述U‑Boot测试程序对应的显示界面上接收第一测试指令；将所述第一测试指令解析成U‑Boot格式的U‑Boot测试命令；根据所述U‑Boot测试命令，确定所述eMMC芯片的运行方式和测试内容；采用所述运行方式，针对所述测试内容，对所述eMMC芯片进行对应的测试。即本发明专利技术实施例中，通过加载U‑Boot测试程序，在U‑Boot环境下对eMMC芯片进行测试，能够在任何Linux系统的测试平台上对eMMC芯片，提升eMMC芯片在Linux系统下测试的便利性与灵活性。

An EMMC chip test method and device

【技术实现步骤摘要】
一种eMMC芯片测试方法和装置
本专利技术涉及存储器处理
，特别是涉及一种eMMC芯片测试方法和装置。
技术介绍
嵌入式多媒体卡(eMMC)是MMC协会订立的，主要针对手机或平板电脑等产品的内嵌式存储器标准规格，其包括至少一个NAND和控制器，控制器中配置有软件，能够对eMMC的运行过程进行控制，eMMC可安装在各种电子设备中作为存储器使用。其中，eMMC主要应用在具有安卓系统和Linux系统的电子设备中。现有技术中，通常是配置一个或多个测试平台，测试平台需要具有所需的硬件设备和软件环境，并连接某款型号的eMMC芯片进行测试，而eMMC芯片在Linux平台下的测试，通常是使用Linux的内核测试，而由于各种测试平台的环境不同，对应的内核环境比较复杂，不易于需求的添加，使eMMC芯片的测试不够灵活。
技术实现思路
鉴于上述问题，提出了本专利技术实施例的一种eMMC芯片测试方法和装置，以提升eMMC芯片在Linux系统下测试的便利性与灵活性。根据本专利技术的第一方面，提供了一种eMMC芯片测试方法，所述方法包括：加载U-Boot测试程序；在所述U-Boot测试程序对应的显示界面上接收第一测试指令；将所述第一测试指令解析成U-Boot格式的U-Boot测试命令；根据所述U-Boot测试命令，确定所述eMMC芯片的运行方式和测试内容；采用所述运行方式，针对所述测试内容，对所述eMMC芯片进行对应的测试。根据本专利技术的第二方面，提供了一种eMMC芯片测试装置，应用于上述任一项所述的方法，所述装置包括：加载模块，用于加载U-Boot测试程序；接收模块，用于在所述U-Boot测试程序对应的显示界面上接收第一测试指令；解析模块，用于将所述第一测试指令解析成U-Boot格式的U-Boot测试命令；确定模块，用于根据所述U-Boot测试命令，确定所述eMMC芯片的运行方式和测试内容；测试模块，用于采用所述运行方式，针对所述测试内容，对所述eMMC芯片进行对应的测试。本专利技术实施例中，提供了一种eMMC芯片测试方法，该方法包括：加载U-Boot测试程序；在所述U-Boot测试程序对应的显示界面上接收第一测试指令；将所述第一测试指令解析成U-Boot格式的U-Boot测试命令；根据所述U-Boot测试命令，确定所述eMMC芯片的运行方式和测试内容；采用所述运行方式，针对所述测试内容，对所述eMMC芯片进行对应的测试。即本专利技术实施例中，通过加载U-Boot测试程序，在U-Boot环境下对eMMC芯片进行测试，能够在任何Linux系统的测试平台上对eMMC芯片，提升eMMC芯片在Linux系统下测试的便利性与灵活性。上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本专利技术的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本专利技术的具体实施方式。附图说明通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本专利技术的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：图1是本专利技术实施例提供的一种eMMC芯片测试方法的步骤流程图；图2是本专利技术实施例提供的一种eMMC芯片测试装置的结构框图。具体实施方式为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步详细的说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本专利技术，仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例，并不用于限定本专利技术。参照图1，示出了一种eMMC芯片测试方法的步骤流程图，该方法具体包括以下步骤：步骤101，加载U-Boot测试程序。在本专利技术实施例中，步骤101包括：在测试平台上移植和配置所述U-Boot测试程序。在本专利技术实施例中，U-Boot测试程序是基于Linux系统下U-Boot框架下的一个eMMC芯片测试程序；将该U-Boot测试程序加载在测试平台上，既可采用该U-Boot测试程序对eMMC芯片进行测试。在本专利技术实施例中，可以将该U-Boot测试程序加载在Linux系统的任何公司和任何型号的测试平台中，提高了eMMC芯片的测试的灵活性。步骤102，在所述U-Boot测试程序对应的显示界面上接收第一测试指令。在本专利技术实施例中，显示界面是指测试平台的显示界面，该测试平台中具有U-Boot测试程序。在本专利技术实施例中，第一测试指令是用户根据需求输入的测试指令，测试指令中具有多个测试参数。步骤103，将所述第一测试指令解析成U-Boot格式的U-Boot测试命令。在本专利技术实施例中，将用户输入的第一测试命令中的多个测试参数进行解析，解析成U-Boot格式的U-Boot测试命令，以供U-Boot测试程序读取。在本专利技术实施例汇总，将U-Boot测试命令发送给eMMC芯片，以对eMMC芯片进行测试。步骤104，根据所述U-Boot测试命令，确定所述eMMC芯片的运行方式和测试内容。在本专利技术实施例中，U-Boot测试命令中具有用户设定的eMMC芯片的运行方式和测试内容。在本专利技术实施例中U-Boot测试命令可以包括多个测试命令，每个测试命令对应着对eMMC芯片的测试项。步骤105，采用所述运行方式，针对所述测试内容，对所述eMMC芯片进行对应的测试。在本专利技术实施例中，当所述测试内容为应力测试时；步骤105，包括：针对所述应力测试，运行所述eMMC芯片，并对所述运行的时间进行计时；当所述eMMC芯片出现错误时，停止计时，确定eMMC芯片的单次运行时间。在本专利技术实施例中，当用户需对应力测试时，用户在显示界面输入stresstestflow(应力测试)的命令，U-Boot测试程序接收到该命令后，将其解析成对应U-Boot测试命令，该U-Boot测试命令中具有测试参数，其中，测试参数包括运行方式。U-Boot测试程采用该运行方式对eMMC芯片进行运行，直到出现错误为止，可以通过显示界面显示eMMC芯片从开始运行到出现错误的时间，即为eMMC芯片在用户侧单次运行正常不出错的时间。在本专利技术实施例中，当所述测试内容为性能测试时；所述运行方式包括写数据；步骤105，包括：接收每次写的单次数据大小；根据所述单次数据大小，对所述eMMC芯片进行写操作，并记录写完预设大小的总数据耗费的写时间；根据所述预设大小的总数据和所述写时间，确定所述eMMC芯片的写速度。在本专利技术实施例中，当所述测试内容为性能测试时；用户在显示界面输入Performancetestflow(性能测试)的命令；U-Boot测试程序接收到该命令后，将其解析成对应U-Boot测试命令。然后根据U-Boot测试命令进行运行，如U-Boot测试命令中确定本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种eMMC芯片测试方法，其特征在于，所述方法包括：/n加载U-Boot测试程序；/n在所述U-Boot测试程序对应的显示界面上接收第一测试指令；/n将所述第一测试指令解析成U-Boot格式的U-Boot测试命令；/n根据所述U-Boot测试命令，确定所述eMMC芯片的运行方式和测试内容；/n采用所述运行方式，针对所述测试内容，对所述eMMC芯片进行对应的测试。/n

【技术特征摘要】
1.一种eMMC芯片测试方法，其特征在于，所述方法包括：
加载U-Boot测试程序；
在所述U-Boot测试程序对应的显示界面上接收第一测试指令；
将所述第一测试指令解析成U-Boot格式的U-Boot测试命令；
根据所述U-Boot测试命令，确定所述eMMC芯片的运行方式和测试内容；
采用所述运行方式，针对所述测试内容，对所述eMMC芯片进行对应的测试。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述加载U-Boot测试程序之前还包括：
获取U-Boot源码；
将所述第一测试指令对应的U-Boot测试命令按照eMMC协议添加到所述U-Boot源码中，编译后获得所述U-Boot测试程序。


3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述加载U-Boot测试程序，包括：
在测试平台上移植和配置所述U-Boot测试程序。


4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，当所述测试内容为应力测试时；所述采用所述运行方式，针对所述测试内容，对所述eMMC芯片进行对应的测试，包括：
针对所述应力测试，运行所述eMMC芯片，并对所述运行的时间进行计时；
当所述eMMC芯片出现错误时，停止计时，确定eMMC芯片的单次运行时间。


5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，当所述测试内容为性能测试时；所述运行方式包括写数据；所述采用所述运行方式，针对所述测试内容，对所述eMMC芯片进行对应的测试，包括：
接收每次写的单次数据大小；
根据所述单次数据大小，对所述eMMC芯片进行写操作，并记录写完预设大小的总数据耗费的写时间；
根据所述预设大小的总数据和所述写时间，确定所述eMMC芯片的写速度。

【专利技术属性】
技术研发人员：刘方方，
申请(专利权)人：北京兆易创新科技股份有限公司，合肥格易集成电路有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11