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本发明实施例提供了一种eMMC芯片测试方法与装置，该方法包括：加载U‑Boot测试程序；在所述U‑Boot测试程序对应的显示界面上接收第一测试指令；将所述第一测试指令解析成U‑Boot格式的U‑Boot测试命令；根据所述U‑Boot测试命令...该专利属于北京兆易创新科技股份有限公司;合肥格易集成电路有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京兆易创新科技股份有限公司;合肥格易集成电路有限公司授权不得商用。