一种芯片测试座制造技术

本实用新型专利技术实施例公开了一种芯片测试座，包括：底座；槽体，设置在底座上；绝缘弹性棒，位于槽体的卡槽中；至少一个导电金属片，位于槽体中；导电金属片包括相对设置的第一边和第二边；第一边包括至少两个弧形边，设置于第一边中点的两侧；第二边与绝缘弹性棒的表面至少部分咬合接触；导电金属片还包括第一触点和第二触点；沿第一边的延伸方向，第一触点和第二触点设置于导电金属片的两端；第一触点用于与待测试芯片电连接，第二触点用于与测试线路板电连接；压板，设置于导电金属片远离绝缘弹性棒的一侧，压板与第一边的弧形边咬合接触，用于为导电金属片提供压力。本实用新型专利技术实施例提供的芯片测试座，能够实现芯片的高频测试并且高频测试效果较好。

A chip test stand

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试座
本技术实施例涉及芯片测试技术，尤其涉及一种芯片测试座。
技术介绍
在芯片的生产过程中，对芯片的测试是一个重要步骤，通常需要芯片测试座对芯片进行测试，检查在线的单个芯片元器件以及各电路网络的开、短路情况，以及模拟器件功能和数字器件逻辑功能测试等，因此，芯片测试座的性能是比较重要的研究内容。目前，现有的芯片测试座，一般是由导向框、主体、保持板和弹簧探针组成，采用弹簧探针连接芯片进行测试，由于芯片需要测试的次数很多，弹簧探针的针尖磨损的速度非常快，弹簧探针在多次压缩后弹力减弱而且寿命会降低，影响芯片的测试效果。另外，由于弹簧探针是由两端的针头和弹簧装在铜管里面构成的，探针本身成本高，并且在多次使用芯片测试座后，弹簧探针的导电弹力会减弱，需要经常更换，不仅比较繁琐，而且进一步的增加了探针的成本。当高频测试时候，由于传统的弹簧探针里面的弹簧很细，传输高频信号的能力不强，并且由于探针是由两端的针头和弹簧装在铜管里面有三种结构构成，在传输高频信号时，信号要通过这三个构件，三个构件之间的连接的结点也会限制信号的传输，因此弹簧探针传输高频本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片测试座，其特征在于，包括：/n底座；/n槽体，设置在所述底座上；/n绝缘弹性棒，位于所述槽体的卡槽中；/n至少一个导电金属片，位于所述槽体中；所述导电金属片包括相对设置的第一边和第二边；所述第一边包括至少两个弧形边，设置于所述第一边中点的两侧；所述第二边与所述绝缘弹性棒的表面至少部分咬合接触；所述导电金属片还包括第一触点和第二触点；沿所述第一边的延伸方向，所述第一触点和所述第二触点设置于所述导电金属片的两端；所述第一触点用于与待测试芯片电连接，所述第二触点用于与测试线路板电连接；/n压板，设置于所述导电金属片远离所述绝缘弹性棒的一侧，所述压板与所述第一边的弧形边咬合接触，用于为所述...

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试座，其特征在于，包括：
底座；
槽体，设置在所述底座上；
绝缘弹性棒，位于所述槽体的卡槽中；
至少一个导电金属片，位于所述槽体中；所述导电金属片包括相对设置的第一边和第二边；所述第一边包括至少两个弧形边，设置于所述第一边中点的两侧；所述第二边与所述绝缘弹性棒的表面至少部分咬合接触；所述导电金属片还包括第一触点和第二触点；沿所述第一边的延伸方向，所述第一触点和所述第二触点设置于所述导电金属片的两端；所述第一触点用于与待测试芯片电连接，所述第二触点用于与测试线路板电连接；
压板，设置于所述导电金属片远离所述绝缘弹性棒的一侧，所述压板与所述第一边的弧形边咬合接触，用于为所述导电金属片提供压力。


2.根据权利要求1所述的芯片测试座，其特征在于，所述导电金属片沿中线图形对称；其中，所述中线为所述第一边的中点和所述第二边的中点的连线。


3.根据权利要求2所述的芯片测试座，其特征在于，所述第一边的弧形边为半圆形。


4.根据权利要求3所述的芯片测试座，其特征在于，所述第一边的弧形边为第一凹边，所述压...

【专利技术属性】
技术研发人员：戴云，王坚，
申请(专利权)人：上海捷策创电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：上海;31