显示基板及其制备方法、显示面板技术

本发明专利技术公开一种显示基板及其制备方法、显示面板，显示基板包括依次层叠设置的透明盖板、第一四分之一波片、偏振片、第二四分之一波片、显示结构层以及光探测层；光探测层用于检测显示结构层的发光强度；第一四分之一波片和偏振片配合用于消除显示结构层发出的且在透明盖板处发生全反射的光线。该显示面板包括上述显示基板。本发明专利技术的显示基板通过相对设置的第一四分之一波片和偏振片，消除发光层发出的且在透明盖板处发生全反射的光线；通过相对设置的第二四分之一波片和偏振片，消除从外部进入显示基板内的环境光线，如此光探测层能够更加准确地检测出发光层的发光强度，作为亮度补偿的依据。

Display base plate, preparation method and display panel

【技术实现步骤摘要】
显示基板及其制备方法、显示面板
本专利技术一般涉及显示
，具体涉及一种显示基板、显示面板及显示基板的制备方法。
技术介绍
目前，大尺寸OLED(OrganicLight-EmittingDiode：有机电致发光二极管)的显示面板由于发光层的老化等问题产生亮度不均一等问题。因此，采用内部补偿或者外部补偿对OLED显示面板的发光强度进行检测补偿，以使显示面板的显示画面各处亮度均一。
技术实现思路
鉴于现有技术中的上述缺陷或不足，期望提供一种显示基板、显示面板及显示基板的制备方法。第一方面，本专利技术提供一种显示基板，包括依次层叠设置的透明盖板、第一四分之一波片、偏振片、第二四分之一波片、显示结构层以及光探测层；所述光探测层用于检测所述显示结构层的发光强度；所述第一四分之一波片和所述偏振片配合用于消除所述显示结构层发出的且在所述透明盖板处发生全反射的光线。优选的，所述第一四分之一波片的光轴与所述第二四分之一波片的光轴相互垂直。优选的，所述第一四分之波片的光轴与所述偏振片的透过轴之间呈45°夹角，所述第一四分之一波片的光轴和所述第二四分之一波片的光轴关于所述偏振片对称设置。优选的，所述显示结构层包括自靠近所述偏振片至远离所述偏振片的方向上设置的像素电路层、阳极、发光层以及阴极，所述阴极可透光。优选的，所述发光层包括多个被像素界定层分隔开的子发光层，所述光探测层包括多个与所述子发光层一一对应设置的光探测单元。优选的，所述阴极包括多个与所述子发光层一一对应设置的通光孔，所述通光孔的面积占整个所述阴极表面的4％～6％；或者，所述阴极经过减薄处理以实现对子发光层发出的光进行探测。优选的，所述光探测单元包括感光器件和与所述感光器件相连的第一薄膜晶体管，所述第一薄膜晶体管为非晶硅薄膜晶体管。优选的，所述像素电路层包括多个与所述子发光层一一对应设置的第二薄膜晶体管，所述第二薄膜晶体管为金属氧化物薄膜晶体管。优选的，所述显示结构层与所述光探测层之间通过粘接层连接。优选的，所述显示基板，还包括封装基板和衬底基板；所述封装基板位于所述光探测层远离所述显示结构层的一侧，所述光探测层设置在所述封装基板上；所述衬底基板位于所述第二四分之一波片和所述显示结构层之间。第二方面，本专利技术提供一种显示面板，包括上述显示基板。第三方面，本专利技术提供一种显示基板的制备方法，包括：在衬底基板的一侧形成显示结构层，在所述衬底基板背离所述显示结构层的一侧通过胶材粘接消光器件；在封装基板的一侧通过胶材粘接光探测层，并通过胶材将所述显示结构层与所述光探测层相对粘接在一起；其中，所述消光器件包括自远离所述衬底基板至靠近所述衬底基板的方向上依次层叠设置的第一四分之一波片、偏振片和第二四分之一波片，且两两之间通过胶材粘接。与现有技术相比，在本专利技术的实施例中，显示基板通过相对设置的第一四分之一波片和偏振片，消除发光层发出的光在进入空气过程中发生全反射的光线，避免光线全反射后进入到光探测层，使得光探测层对发光层所发出的光线的检测不受显示基板内部反射光线的串扰；通过相对设置的第二四分之一波片和偏振片，消除从外部进入显示基板内的环境光线，使得光探测层对发光层所发出的光线的检测不受环境光线的串扰，如此光探测层能够更加准确地检测出发光层的发光强度，作为亮度补偿的依据。附图说明通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本专利技术的其它特征、目的和优点将会变得更明显：图1为本专利技术实施例提供的显示基板的结构示意图；图2为本专利技术实施例提供的显示基板内部的光路示意图。具体实施方式下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释相关专利技术，而非对该专利技术的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与专利技术相关的部分。需要说明的是，在不冲突的情况下，本专利技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本专利技术。为了便于清楚描述本专利技术实施例的技术方案，在本专利技术的实施例中，采用了“第一”、“第二”等字样对功能和作用基本相同的相同项或相似项进行区分，本领域技术人员可以理解“第一”、“第二”等字样并不对数量和结构进行限定。大尺寸OLED显示面板的常用结构为底发射OLED显示面板，采用光探测层对OLED显示面板的发光强度进行实时的检测，具体地，采用阴极透光的方式，使发光层发出的光线到达光探测层，光探测层检测发光层的发光强度作为亮度补偿依据。目前，发光层发出的光线角度大概在±70°范围内，光线从发光层出射到空气的过程中，即光线由光密结构(玻璃)进入到光疏结构(空气)的过程中，而光线角度大于40°光线会产生全反射，从而造成串扰影响其他像素单元的检测。为解决上述问题，本专利技术的实施例提供一种显示基板。如图1所示，本专利技术的实施例提供的显示基板包括依次层叠设置的透明盖板11、第一四分之一波片12、偏振片13、第二四分之一波片14、显示结构层15和光探测层16，光探测层16用于检测显示结构层15的发光强度，第一四分之一波片12和偏振片13配合用于消除显示结构层15发出的且在透明盖板11处发生全反射的光线。其中，显示结构层15包括自靠近偏振片13至远离偏振片13的方向设置的像素电路层151、阳极152、发光层153以及阴极154，阴极154可透光。其中，在阳极152背向像素电路层151的一侧形成像素界定层，然后在阳极152背向像素电路层151的一侧形成发光层153，发光层153包括多个被像素界定层分隔开的子发光层1531；光探测层16用于检测显示结构层15的发光层153的发光强度，光探测层16包括多个与子发光层一一对应设置的光探测单元161。这样，各光探测单元对应于各子发光层，各子发光层发出的光射至对应的光探测单元，能够更好地对各子发光层的发光强度进行检测。该实施例提供的显示基板中，阴极的透光率约为5％。阴极对应于各个子发光层的位置设有通光孔，通光孔的面积占整个阴极表面的4％～6％，实现阴极可透光；或者，阴极经过减薄处理，实现阴极可透光，从而光探测单元能够对对应的子发光层发出的光进行探测。图1中的箭头方向A为显示基板的显示方向，该显示基板的发光层153发出的光，一部分经过透明盖板射到外部环境中，其余光线会在透明盖板与外界环境的交界面处发生全反射。该实施例中第一四分之一波片12和偏振片13相对设置，两者相配合用于消除在透明盖板处发生全反射的光线。本专利技术的图1仅示例性的表示该显示基板，实际的显示基板的结构并不局限于图1的示例。进一步地，光探测单元包括感光器件和与感光器件相连的第一薄膜晶体管，第一薄膜晶体管为非晶硅薄膜晶体管。感光器件用于将探测到的光信号转换为电信号，非晶硅薄膜晶体管的各项性能较为均衡、色彩还原能力强且响应速度良好，利用非晶硅薄膜晶体管便于快速读本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示基板，其特征在于，包括依次层叠设置的透明盖板、第一四分之一波片、偏振片、第二四分之一波片、显示结构层以及光探测层；/n所述光探测层用于检测所述显示结构层的发光强度；/n所述第一四分之一波片和所述偏振片配合用于消除所述显示结构层发出的且在所述透明盖板处发生全反射的光线。/n

【技术特征摘要】
1.一种显示基板，其特征在于，包括依次层叠设置的透明盖板、第一四分之一波片、偏振片、第二四分之一波片、显示结构层以及光探测层；
所述光探测层用于检测所述显示结构层的发光强度；
所述第一四分之一波片和所述偏振片配合用于消除所述显示结构层发出的且在所述透明盖板处发生全反射的光线。


2.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，所述第一四分之一波片的光轴与所述第二四分之一波片的光轴相互垂直。


3.根据权利要求2所述的显示基板，其特征在于，所述第一四分之一波片的光轴与所述偏振片的透过轴之间呈45°夹角，所述第一四分之一波片的光轴和所述第二四分之一波片的光轴关于所述偏振片对称设置。


4.根据权利要求1-3任一项所述的显示基板，其特征在于，所述显示结构层包括自靠近所述偏振片至远离所述偏振片的方向上设置的像素电路层、阳极、发光层以及阴极，所述阴极可透光。


5.根据权利要求4所述的显示基板，其特征在于，所述发光层包括多个被像素界定层分隔开的子发光层，所述光探测层包括多个与所述子发光层一一对应设置的光探测单元。


6.根据权利要求5所述的显示基板，其特征在于，所述阴极包括多个与所述子发光层一一对应设置的通光孔，所述通光孔的面积占整个所述阴极表面的4％～6％；或者，所述阴极经过减薄处理以实现对子发光层发出的光进行探测。
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【专利技术属性】
技术研发人员：丁小梁，王海生，刘英明，秦云科，李扬冰，王雷，王文娟，赵方圆，张平，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11