【技术实现步骤摘要】
嵌入式闪存的测试方法、测试设备和嵌入式闪存芯片
本申请涉及存储器件制造
，具体涉及一种嵌入式闪存的测试方法、测试设备和嵌入式闪存芯片。
技术介绍
嵌入式闪存(EmbeddedFlash，以下简称为“闪存”)是一种非易失性存储器，由于其具有断电后数据也不会丢失，能够反复擦除、读、写等优势，因此广泛应用于手机、数码照相机、平板电脑等电子设备中。在嵌入式闪存制造出厂前，需要对嵌入式闪存芯片的电气连接性能、功耗、读、写、擦除、串扰、数据保持能力等参数进行多道测试。在对嵌入式闪存芯片进行测试的过程中，通常需要将芯片进行烘烤以测试闪存在高温下的数据保持能力，例如，对存储有数据的嵌入式闪存芯片进行烘烤处理后，再对烘烤后的芯片中存储的数据进行测试。然而，嵌入式闪存芯片在烘烤后的数据深度会有一定程度的减弱，从而在一定程度上会导致烘烤后芯片中存储的数据丢失。鉴于此，相关技术中提供了一种嵌入式闪存的测试方法，以解决嵌入式闪存芯片在烘烤后数据丢失的问题，具体如下：在嵌入式闪存芯片的测试过程中，测试设备通过数据读取操作，...
【技术保护点】
1.一种嵌入式闪存的测试方法，其特征在于，所述方法由嵌入式闪存芯片执行，所述嵌入式闪存芯片包括闪存单元阵列和缓存模块，所述方法包括：/n接收第一指令，所述第一指令是在对所述嵌入式闪存芯片进行测试的过程中对所述嵌入式闪存芯片进行烘烤前，测试设备向所述嵌入式闪存芯片发送的指令；/n根据所述第一指令将所述闪存单元阵列中存储的目标数据写入至所述缓存模块，将所述目标数据从所述闪存单元阵列中擦除；/n接收第二指令，所述第二指令是在对所述嵌入式闪存芯片进行测试的过程中对所述嵌入式闪存芯片进行烘烤后，所述测试设备向所述闪存芯片发送的指令；/n根据所述第二指令将所述目标数据从所述缓存模块回写...
【技术特征摘要】
1.一种嵌入式闪存的测试方法，其特征在于，所述方法由嵌入式闪存芯片执行，所述嵌入式闪存芯片包括闪存单元阵列和缓存模块，所述方法包括：
接收第一指令，所述第一指令是在对所述嵌入式闪存芯片进行测试的过程中对所述嵌入式闪存芯片进行烘烤前，测试设备向所述嵌入式闪存芯片发送的指令；
根据所述第一指令将所述闪存单元阵列中存储的目标数据写入至所述缓存模块，将所述目标数据从所述闪存单元阵列中擦除；
接收第二指令，所述第二指令是在对所述嵌入式闪存芯片进行测试的过程中对所述嵌入式闪存芯片进行烘烤后，所述测试设备向所述闪存芯片发送的指令；
根据所述第二指令将所述目标数据从所述缓存模块回写入所述闪存单元阵列。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述闪存芯片还包括BIST模块，在对所述嵌入式闪存芯片进行测试时，所述BIST模块用于与所述测试设备建立通信连接；
所述接收第一指令，包括：
通过所述BIST模块接收所述第一指令；
所述接收第二指令，包括：
通过所述BIST模块接收所述第二指令。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一指令和所述第二指令为DFT指令。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述缓存模块是设置于闪存单元阵列中的页缓存模块。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述缓存模块的容量为1页至9页。
6.一种嵌入式闪存的测试方法，其特征在于，所述方法由对所述嵌入式闪存芯片进行测试的测试设备执行，所述方法包括：
在对所述嵌入式闪存芯片进行测试的过程中对所述嵌入式闪存芯片进行烘烤前，发送第一指令，所述第一指令用于使所述嵌入式闪存芯片根据所述第一指令将所述闪存单元阵列中存储的目标数据写入至缓存模块，将所述目标数据从所述闪存单元阵列中擦除；
在对所述嵌入式闪存芯片进行测试的过程中对所述嵌入式闪存芯片进行烘烤后，发送第二指令，所述第二指令用于使所述嵌入式闪存芯片根据所述第二指令将所述目标数据从所述缓存模块回写入所述闪存单元阵列。
7.一种嵌入式闪存芯片，其特征在于，包括：
闪存单元阵列，用于在接收第一指令后，根据所述第一指令将所述闪存单元阵列中存储的目标数据写入至缓存模块，将所述目标数据从所述闪存单元阵列中擦除；
所述缓存模块，用于在接收第二指令后，根据所述第二指令...
【专利技术属性】
技术研发人员：朱渊源，
申请(专利权)人：上海华虹宏力半导体制造有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31
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