一种新型存储器单元芯片的测试系统及装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种新型存储器单元芯片的测试系统及装置，属于芯片电路测试技术领域，系统包括控制单元、转换单元和存储器单元，所述控制单元输出端与所述转换单元连接，所述转换单元输出端与所述存储器单元连接。本实用新型专利技术通过转换单元实现控制单元与存储器单元之间的电平转换，进而使控制单元对存储器单元进行控制，实现了对存储器单元的故障分析，读写性能、稳定性、可靠性、极限写入次数及功耗测试，在保证准确率的基础上大大提高了工作效率高。

A new test system and device for memory cell chip

【技术实现步骤摘要】
一种新型存储器单元芯片的测试系统及装置
本技术涉及电路测试
，尤其涉及一种新型存储器单元芯片的测试系统及装置。
技术介绍
储存器芯片作为承载信息的记忆部件，是新一代信息技术发展不可缺少的基础元器件，而EEPROM作为一种带电可擦可编程只读存储器，解决了信息录入无法修改的问题，EEPROM已经广泛应用到各个
，如何准确快速、准确对储存器芯片进行性能测试是业内比较关注的问题。EEPROM性能测试中需要解答的问题是芯片IP(半成品)是否可量产。性能测试需要收集大量数据，因为EEPROMIP的关键参数需要在不同的工艺、电压和温度环境下进行测试，进而确定有效的裕量，设定初步生产测试限值。目前，对EEPROM进行性能测试，是在EEPROM各个工艺阶段分别测试EEPROM的高低温特性、极限写入次数、模拟老化性能测试、读写功耗测试、每个内存单元的单独读取和写入控制，及内存单元之间可能存在的相互影响。由上述内容不难得知，EEPROM性能测试工作十分繁琐、工作量大。
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有技术测试存储器芯片效率低的问题，提供一种新型存储器单元芯片的测试系统。本技术的目的是通过以下技术方案来实现的：一种新型存储器单元芯片的测试系统，系统具体包括控制单元、转换单元和存储器单元，所述控制单元输出端与所述转换单元连接，所述转换单元输出端与所述存储器单元连接。具体地，所述控制单元经第一I/O端口引出模块与所述转换单元连接，所述转换单元经第二I/O端口引出模块与所述存储器单元连接。具体地，所述控制单元具体为STM32单片机。具体地，所述存储器单元具体为EEPROM存储器芯片。具体地，所述转换单元具体为电平转换电路，用于将存储器单元的通信电平信号转换为STM32单片机可识别的逻辑电平信号。具体地，所述转换单元的个数不大于16个；所述存储器单元的个数不大于16个。具体地，所述系统还包括电源电路单元，用于为所述新型存储器单元芯片的测试系统供电。具体地，所述电源电路单元包括第一电路模块、第二电路模块、第三电路模块和第四电路模块；所述第二电路模块、第三电路模块和第四电路模块为电压可调模块。具体地，所述第一电路模块输出端与所述控制单元连接，第二电路模块输出端、第三电路模块输出端与所述转换单元连接，所述第三电路模块输出端与所述第二I/O端口引出模块连接，所述第四电路模块输出端与所述存储器单元连接。本技术还包括一种装置，该装置包括上述新型存储器单元芯片的测试系统和PC机，所述PC机经通信串口与所述系统的控制单元双向连接。与现有技术相比，本技术有益效果是：本技术通过转换单元实现控制单元与存储器单元之间的电平转换，进而使控制单元对存储器单元进行控制，实现了对存储器单元的故障分析，读写性能、稳定性、可靠性、极限写入次数及功耗测试、以及每个存储器单元的单独读取和写入控制，测试可靠性高且大大减低了测试工作量。本技术I/O端口引出模块用于引出控制单元、存储器单元的I/O引脚，快速定位进行测试的引脚，大大提高了工作效率。附图说明下面结合附图对本技术的具体实施方式作进一步详细的说明，此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，在这些附图中使用相同的参考标号来表示相同或相似的部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。图中：图1为本技术实施例1的系统框图；图2为本技术实施例1的控制单元示意图；图3为本技术实施例1的转换单元示意图；图4为本技术实施例1的控制单元、存储器单元逻辑电平转换示意图；图5为本技术实施例1的电源转换电路示意图；图6为本技术实施例1的电源转换电路示意图。具体实施方式下面结合附图对本技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。在本技术的描述中，需要说明的是，属于“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方向或位置关系为基于附图所述的方向或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，属于“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，属于“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。此外，下面所描述的本技术不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。实施例1如图1所示，在实施例1中，一种新型存储器单元芯片的测试系统，具体包括控制单元、转换单元、存储器单元和电源电路单元，控制单元输出端与转换单元连接，转换单元输出端与存储器单元连接，电源电路电路用于系统供电。更为具体地，存储器单元具体为EEPROM存储器芯片，控制单元经第一I/O端口引出模块与转换单元连接，转换单元经第二I/O端口引出模块与EEPROM存储器芯片连接。进一步地，控制单元具体为STM32单片机，在本实施例中为单片机STM32F103ZET6。如图2所示，单片机STM32F103ZET6data[0-15]端是并行数据写入I/O端口，在此基础上，转换单元、存储器单元的个数不大于16个。单片机STM32F103ZET6ain[3-9]端口是数据的地址位控制I/O端口，wt_end端是写操作结束标志位，AD<2>端用于调整存储器单元内部工作参数的配置，使其工作更稳定。read端是读使能信号端口。Allow[0-1]端是全片写入逻辑控制信号。dout[0-7]端是并行数据读出I/O端口，5V、3.3V_Int是单片机模块上提供的供电电压。更为具体地，单片机STM32F103ZET6的任意I/O端口都可经转换单元与存储器单元连接，即单片机STM32F103ZET6经其I/O口与EEPROM芯片上的数据总线、地址总线和读写控制总线进行通信三种I/O端口连接。进一步地，第一I/O端口引出模块与第二I/O端口引出模块具体为接插件，包括但不限于DC3-50P接插件，采用I/O端口引出模块将控制单元及存储器单元的I/O引脚引出方便存储器单元的快速测试。进一步地，由于存储器单元I/O口内部逻辑通信电平不是标准的0-3.3V，故需要通过逻辑本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种新型存储器单元芯片的测试系统，其特征在于：所述系统包括控制单元、转换单元和存储器单元，所述控制单元输出端与所述转换单元连接，所述转换单元输出端与所述存储器单元连接；/n所述转换单元具体为电平转换电路，用于将存储器单元的通信电平信号转换为STM32单片机可识别的逻辑电平信号。/n

【技术特征摘要】
1.一种新型存储器单元芯片的测试系统，其特征在于：所述系统包括控制单元、转换单元和存储器单元，所述控制单元输出端与所述转换单元连接，所述转换单元输出端与所述存储器单元连接；
所述转换单元具体为电平转换电路，用于将存储器单元的通信电平信号转换为STM32单片机可识别的逻辑电平信号。


2.根据权利要求1所述的一种新型存储器单元芯片的测试系统，其特征在于：所述控制单元经第一I/O端口引出模块与所述转换单元连接，所述转换单元经第二I/O端口引出模块与所述存储器单元连接。


3.根据权利要求2所述的一种新型存储器单元芯片的测试系统，其特征在于：所述控制单元具体为STM32单片机。


4.根据权利要求1所述的一种新型存储器单元芯片的测试系统，其特征在于：所述存储器单元具体为EEPROM存储器芯片。


5.根据权利要求1所述的一种新型存储器单元芯片的测试系统，其特征在于：所述转换单元的个数不大于16个；所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：李宛谕，向晓安，
申请(专利权)人：成都达安众科技有限公司，
类型：新型
国别省市：四川;51