【技术实现步骤摘要】
一种老化测试装置
本技术涉及芯片测试领域，尤其涉及一种存储器的老化测试装置。
技术介绍
现如今国内还没有专门的存储器老化测试设备，无法满足存储器的批量老化测试，要做老化测试也只能放在低速通用集成电路老化设备上测试，集成电路老化设备一般采用较小规模的FPGA芯片作为数字信号的产生，由于高速数字信号传输没有得到有效地解决，最高频率也只能做到1MHZ以下，并随着频率的增加，驱动电流也会大幅下降，导致无法满足大批量高速存储器的老化测试实验。
技术实现思路
为了克服现有技术的不足，本技术的目的在于提供一种老化测试装置，其能解决存储器老化测试装置的测试频率不高，而不能满足高速存储器老化测试的问题。本技术的目的采用以下技术方案实现：一种老化测试装置，包括用于配置老化测试信息的上位机控制组件、通信组件、电源系统、用于接收和驱动测试信息的信息驱动组件，以及用于装载待测存储器的老化组件，所述上位机控制组件通过所述通信组件与所述信息驱动组件电性连接，所述通信组件和所述信息驱动组件分别与所述电源系统电性连接；所述老化...
【技术保护点】
1.一种老化测试装置，其特征在于：包括用于配置老化测试信息的上位机控制组件、通信组件、电源系统、用于接收和驱动测试信息的信息驱动组件，以及用于装载待测存储器的老化组件，所述上位机控制组件通过所述通信组件与所述信息驱动组件电性连接，所述通信组件和所述信息驱动组件分别与所述电源系统电性连接；/n所述老化组件包括烘箱和多个间隔设置的老化板，所述老化板设置在所述烘箱内，所述信息驱动组件包括多个用于驱动测试信息的驱动板和用于连接多根信息线的高频连接器，所述驱动板通过所述高频连接器与所述老化板电性连接。/n
【技术特征摘要】
1.一种老化测试装置，其特征在于：包括用于配置老化测试信息的上位机控制组件、通信组件、电源系统、用于接收和驱动测试信息的信息驱动组件，以及用于装载待测存储器的老化组件，所述上位机控制组件通过所述通信组件与所述信息驱动组件电性连接，所述通信组件和所述信息驱动组件分别与所述电源系统电性连接；
所述老化组件包括烘箱和多个间隔设置的老化板，所述老化板设置在所述烘箱内，所述信息驱动组件包括多个用于驱动测试信息的驱动板和用于连接多根信息线的高频连接器，所述驱动板通过所述高频连接器与所述老化板电性连接。
2.根据权利要求1所述的老化测试装置，其特征在于：所述高频连接器为SEAM连接器。
3.根据权利要求1所述的老化测试装置，其特征在于：所述驱动板为高频基板SH260，所述驱动板设置有256路I/O信号通道。
4.根据权利要求3所述的老化测试装置，其特征在于：所述信息驱动组件还包括嵌入式控制单元，所述嵌入式控制单元包括接收老化测试信息的ARM9TDMI芯片，所述ARM9TDMI芯片与所述I/O信号通道电性连接。
5.根据权利要求4所述的老化测试装置，其特征在于：所述信息驱动组件还包括多个用于生成图形测试信号并检测图形测试...
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