测试BCH纠错码的性能的系统及方法技术方案

本发明专利技术提供一种测试BCH纠错码的性能的系统及方法，所述系统包括伪随机数发生器、BCH编码器、BCH译码器、NAND FLASH控制器、NAND FLASH以及误码统计器。通过本发明专利技术，基于纯硬件的方式实现对BCH纠错码的纠错性能进行验证，具有效率高以及移植性强的优点。

The system and method of testing the performance of BCH error correcting code

【技术实现步骤摘要】
测试BCH纠错码的性能的系统及方法
本专利技术涉及电路
，尤其涉及测试BCH纠错码的性能的系统及方法。
技术介绍
NANDFLASH的特性就是写入数据之后再读出来会产生一些错误，因此需要纠错码。目前，SLC类型、MLC类型以及部分TLC类型的NANDFLASH均使用BCH作为纠错码。而目前用于验证BCH纠错码的纠错性能的验证方法，存在效率低以及移植性差的问题。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种测试BCH纠错码的性能的系统及方法，旨在解决现有技术中用于验证BCH纠错码的纠错性能的验证方法，存在效率低以及移植性差的问题。为实现上述目的，本专利技术实施例提供一种测试BCH纠错码的性能的系统，所述系统包括伪随机数发生器、BCH编码器、BCH译码器、NANDFLASH控制器、NANDFLASH以及误码统计器；所述伪随机数发生器用于产生伪随机数；所述BCH编码器用于对所述伪随机数进行编码，产生校验信息；所述NANDFLASH控制器用于将所述校验信息写入所述NANDFLASH；所述NANDFLASH控制器还用于从所述NANDFLASH中读取所述校验信息并发送给所述BCH译码器；所述BCH译码器用于对所述校验信息进行译码，产生译码数据，并检测所述译码数据是否存在错误，若所述译码数据存在错误，则对所述译码数据进行纠错处理以及修正处理，并将经过纠错处理以及修正处理后得到的数据发送给所述误码统计器；若所述译码数据不存在错误，则将所述译码数据发送给所述误码统计器；所述误码统计器用于对所述伪随机数以及来自所述BCH译码器的数据进行比对，得到统计信息，并将所述统计信息发送给预置终端，所述统计信息包括误码个数和/或误码率。可选的，所述伪随机数发生器包含16组反馈方式不同的循环移位寄存器，所述伪随机数发生器采用16组反馈方式不同的循环移位寄存器产生伪随机数，所述伪随机数为16位数据。可选的，所述BCH编码器用于采用并行的16位编码方式对所述伪随机数进行编码，产生校验信息。可选的，所述BCH译码器用于采用并行的16位译码方式对所述校验信息进行译码，产生译码数据。此外，为实现上述目的，本专利技术实施例还提供一种测试BCH纠错码的性能的方法，所述测试BCH纠错码的性能的方法应用于测试BCH纠错码的性能的系统，所述系统包括伪随机数发生器、BCH编码器、BCH译码器、NANDFLASH控制器、NANDFLASH以及误码统计器，所述方法包括：所述伪随机数发生器产生伪随机数；所述BCH编码器对所述伪随机数进行编码，产生校验信息；所述NANDFLASH控制器将所述校验信息写入所述NANDFLASH；所述NANDFLASH控制器从所述NANDFLASH中读取所述校验信息并发送给所述BCH译码器；所述BCH译码器对所述校验信息进行译码，产生译码数据，并检测所述译码数据是否存在错误，若所述译码数据存在错误，则对所述译码数据进行纠错处理以及修正处理，并将经过纠错处理以及修正处理后得到的数据发送给所述误码统计器；若所述译码数据不存在错误，则将所述译码数据发送给所述误码统计器；所述误码统计器对所述伪随机数以及来自所述BCH译码器的数据进行比对，得到统计信息，并将所述统计信息发送给预置终端，所述统计信息包括误码个数和/或误码率。可选的，所述伪随机数发生器包含16组反馈方式不同的循环移位寄存器，所述伪随机数发生器产生伪随机数包括：所述伪随机数发生器采用16组反馈方式不同的循环移位寄存器产生伪随机数，所述伪随机数为16位数据。可选的，所述BCH编码器对所述伪随机数进行编码，产生校验信息包括：所述BCH编码器用于采用并行的16位编码方式对所述伪随机数进行编码，产生校验信息。可选的，所述BCH译码器对所述校验信息进行译码，产生译码数据包括：所述BCH译码器用于采用并行的16位译码方式对所述校验信息进行译码，产生译码数据。本专利技术中，伪随机数发生器用于产生伪随机数；BCH编码器用于对所述伪随机数进行编码，产生校验信息；NANDFLASH控制器用于将所述校验信息写入NANDFLASH；NANDFLASH控制器还用于从所述NANDFLASH中读取所述校验信息并发送给所述BCH译码器；BCH译码器用于对所述校验信息进行译码，产生译码数据，并检测所述译码数据是否存在错误，若所述译码数据存在错误，则对所述译码数据进行纠错处理以及修正处理，并将经过纠错处理以及修正处理后得到的数据发送给所述误码统计器；若所述译码数据不存在错误，则将所述译码数据发送给所述误码统计器；误码统计器用于对所述伪随机数以及来自所述BCH译码器的数据进行比对，得到统计信息，并将所述统计信息发送给预置终端，所述统计信息包括误码个数和/或误码率。通过本专利技术，基于纯硬件的方式实现对BCH纠错码的纠错性能进行验证，具有效率高以及移植性强的优点。附图说明图1为本专利技术测试BCH纠错码的性能的系统一实施例中系统的结构示意图；图2为本专利技术测试BCH纠错码的性能的系统一实施例中伪随机数发生器的架构示意图；图3为本专利技术测试BCH纠错码的性能的系统一实施例中BCH译码器的结构示意图；图4为本专利技术测试BCH纠错码的性能的方法一实施例的流程示意图。本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。具体实施方式应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。参照图1，图1为本专利技术测试BCH纠错码的性能的系统一实施例中系统的结构示意图。如图1所示，在一实施例中，测试BCH纠错码的性能的系统包括伪随机数发生器、BCH编码器、BCH译码器、NANDFLASH控制器、NANDFLASH以及误码统计器；其中：所述伪随机数发生器用于产生伪随机数；本实施例中，伪随机数发生器用于产生伪随机数。一可选实施例中，所述伪随机数发生器包含16组反馈方式不同的循环移位寄存器，所述伪随机数发生器采用16组反馈方式不同的循环移位寄存器产生伪随机数，所述伪随机数为16位数据。本实施例中，伪随机数发生器，采用16组反馈方式不同的循环移位寄存器来产生伪随机数，每个时钟产生一个16位数据的伪随机数。参照图2，图2为本专利技术测试BCH纠错码的性能的系统一实施例中伪随机数发生器的架构示意图。如图2所示，伪随机数发生器包含16组反馈方式不同的循环移位寄存器，每一组循环移位寄存器的的长度可以配置的，可以产生需要的任意数据长度，即n的取值根据实际需要进行设置。所述BCH编码器用于对所述伪随机数进行编码，产生校验信息；本实施例中，BCH编码器用于对伪随机数进行编码，产生校验信息。一可选实施例中，所述BCH编码器用于采用并行的16位编码方式对所述伪随机数进行编码，产生校验信息。本实施例中，BCH编码器，对伪随机数发生器产生的伪随机数本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试BCH纠错码的性能的系统，其特征在于，所述系统包括伪随机数发生器、BCH编码器、BCH译码器、NAND FLASH控制器、NAND FLASH以及误码统计器；/n所述伪随机数发生器用于产生伪随机数；/n所述BCH编码器用于对所述伪随机数进行编码，产生校验信息；/n所述NAND FLASH控制器用于将所述校验信息写入所述NAND FLASH；/n所述NAND FLASH控制器还用于从所述NAND FLASH中读取所述校验信息并发送给所述BCH译码器；/n所述BCH译码器用于对所述校验信息进行译码，产生译码数据，并检测所述译码数据是否存在错误，若所述译码数据存在错误，则对所述译码数据进行纠错处理以及修正处理，并将经过纠错处理以及修正处理后得到的数据发送给所述误码统计器；若所述译码数据不存在错误，则将所述译码数据发送给所述误码统计器；/n所述误码统计器用于对所述伪随机数以及来自所述BCH译码器的数据进行比对，得到统计信息，并将所述统计信息发送给预置终端，所述统计信息包括误码个数和/或误码率。/n

【技术特征摘要】
1.一种测试BCH纠错码的性能的系统，其特征在于，所述系统包括伪随机数发生器、BCH编码器、BCH译码器、NANDFLASH控制器、NANDFLASH以及误码统计器；
所述伪随机数发生器用于产生伪随机数；
所述BCH编码器用于对所述伪随机数进行编码，产生校验信息；
所述NANDFLASH控制器用于将所述校验信息写入所述NANDFLASH；
所述NANDFLASH控制器还用于从所述NANDFLASH中读取所述校验信息并发送给所述BCH译码器；
所述BCH译码器用于对所述校验信息进行译码，产生译码数据，并检测所述译码数据是否存在错误，若所述译码数据存在错误，则对所述译码数据进行纠错处理以及修正处理，并将经过纠错处理以及修正处理后得到的数据发送给所述误码统计器；若所述译码数据不存在错误，则将所述译码数据发送给所述误码统计器；
所述误码统计器用于对所述伪随机数以及来自所述BCH译码器的数据进行比对，得到统计信息，并将所述统计信息发送给预置终端，所述统计信息包括误码个数和/或误码率。


2.如权利要求1所述的测试BCH纠错码的性能的系统，其特征在于，所述伪随机数发生器包含16组反馈方式不同的循环移位寄存器，所述伪随机数发生器采用16组反馈方式不同的循环移位寄存器产生伪随机数，所述伪随机数为16位数据。


3.如权利要求2所述的测试BCH纠错码的性能的系统，其特征在于，所述BCH编码器用于采用并行的16位编码方式对所述伪随机数进行编码，产生校验信息。


4.如权利要求2所述的测试BCH纠错码的性能的系统，其特征在于，所述BCH译码器用于采用并行的16位译码方式对所述校验信息进行译码，产生译码数据。


5.一种测试BCH纠错码的性能的方法，其特征在于，所述测试BCH纠错码的性能的方法应用于测试BCH纠错码...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐光明，
申请(专利权)人：深圳市芯天下技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44