【技术实现步骤摘要】
本专利技术主要地涉及用于检测和纠正电路中的错误的技术和系统。具体而言,本专利技术涉及用于扩充电路设计以检测和纠正定时错误的技术和系统。
技术介绍
半导体制作技术的发展通过制作更小晶体管并且将这些晶体管更近地压縮在一起,已经引起每一半导体器件的晶体管数目剧增。然而,这些新设计实践可能使制作的集成电路(IC)更容易受到可能影响IC性能的物理故障或者寄生效应。回应这些潜在危险,常常只要有可能就设计具有冗余、检错和纠错的IC以使这些电路更稳健。然而,与这样的检错和纠错电路关联的性能和布局开销可能使它们在新电路设计中难以广泛应用。 具体而言,针对制造的IC的定时延迟错误在用于IC的初始设计循环期间难以估计和防止。这些错误在不能在对寄存器进行采样以捕获产生的结果之前完成针对给定输入矢量的计算时出现。在一些场合中,定时延迟错误可能由于随机制造错误而出现在制造的IC中,此时可能丢弃有故障的IC。然而,当在一批制造的IC内遇到定时延迟错误时,可以降低用于IC的时钟频率以允许IC正确地操作,但是以牺牲为IC设计的操作性能水平为代价。 另一方面,制造的IC可以在比针对它的电路设计而预测的频率更高的频率工作。当设计和实施给定电路时,该电路一般被设计成在保守的用于过程和环境变量的值的集合(即,设计拐角)内操作。另外,通常填补由分析算法和模型所生成的针对电路的定时预测,以解决它们不能对一些物理、电和/或逻辑效应进行建模。这些预测产生如下设计裕度,该设计裕度是在制造的电路与分析结果之间的定时中的差异,并且它是对性能预测对于设计过程而言有多保守的测量。当由于大设计裕度而引起所假设的最坏 ...
【技术保护点】
一种用于扩充电路以检测和纠正定时错误的方法,所述方法包括:将所述电路分割为一组块,其中相应块由局部时钟信号来钟控;在所述一组块之间集成错误信号传播电路;以及对于相应块:确定将实施为双倍数据采样寄存器的一组内部寄存器,其中给定的双倍数据采样寄存器被配置成在它检测到定时错误时生成错误信号;用双倍数据采样寄存器取代所确定的一组内部寄存器;将两阶段纠错电路集成到所述相应块中,其中在被双倍数据采样寄存器通知定时错误时,所述两阶段纠错电路被配置成停滞所述相应块中的寄存器;以及将根据全局时钟信号和所述错误信号来生成所述局部时钟信号的定时电路集成到所述相应块中。
【技术特征摘要】
US 2008-10-22 12/256,338一种用于扩充电路以检测和纠正定时错误的方法,所述方法包括将所述电路分割为一组块,其中相应块由局部时钟信号来钟控;在所述一组块之间集成错误信号传播电路;以及对于相应块确定将实施为双倍数据采样寄存器的一组内部寄存器,其中给定的双倍数据采样寄存器被配置成在它检测到定时错误时生成错误信号;用双倍数据采样寄存器取代所确定的一组内部寄存器;将两阶段纠错电路集成到所述相应块中,其中在被双倍数据采样寄存器通知定时错误时,所述两阶段纠错电路被配置成停滞所述相应块中的寄存器;以及将根据全局时钟信号和所述错误信号来生成所述局部时钟信号的定时电路集成到所述相应块中。2. 根据权利要求1所述的方法,其中将所述两阶段纠错电路集成到所述相应块中包括配置所述相应块的内部寄存器以在所述两阶段纠错电路的第一或者第二停滞阶段期 间停滞;配置输入缓存器以在所述第一停滞阶段期间对所述相应块的输入信号源的信号值进 行采样和保持;配置输入复用器以在所述第二停滞阶段期间选择所述输入缓存器的输出信号,并且除 此之外选择用于所述相应块的输入信号源,其中所述输入复用器的输出耦合到所述相应块 的主输入信号;配置第一输出寄存器以在所述两阶段纠错电路的所述第二停滞阶段期间停滞,其中所 述第一输出寄存器的输出信号耦合到所述相应块的主输出信号;以及配置第二输出寄存器以在所述两阶段纠错电路的所述第一或者第二停滞阶段期间停 滞,其中所述第二输出寄存器的输出信号耦合到所述第一输出寄存器的输入信号。3. 根据权利要求2所述的方法,其中所述两阶段纠错电路针对在双倍数据采样寄存器 通知定时错误之后的时钟循环激活所述第一停滞阶段。4. 根据权利要求3所述的方法,其中所述两阶段纠错电路针对在所述第一停滞阶段之 后的时钟循环激活所述第二停滞阶段。5. 根据权利要求1所述的方法,其中确定将实施为双倍数据采样寄存器的一组寄存器 包括选择检错覆盖范围,所述检错覆盖范围指定相应块中将实施为双倍数据采样寄存器的 寄存器的比例;确定所述相应块中在所需频率难以设计的关键路径;以及从所述确定的关键路径选择多个寄存器,使得选择的寄存器的比例落在所述选择的检 错覆盖范围内。6. 根据权利要求1所述的方法,其中在所述一组块之间集成错误信号传播电路包括 通过使用第一逻辑电路来组合由相应块的所述双倍数据采样寄存器生成的所述错误信号,从而生成针对相应块的块级错误信号,其中所述第一逻辑电路在由所述双倍数据采 样寄存器生成的至少一个所述错误信号的信号值是错误值时,将错误值传播到所述块级错误信号上;以及通过使用第二逻辑电路来组合来自所述一组块的块级错误信号来生成全局错误信号, 其中所述第二逻辑电路在至少一个所述块级错误信号的信号值是错误值时将错误值传播 到所述全局错误信号上。7. 根据权利要求6所述的方法,其中所述相应块的所述定时电路基于所述块级错误信 号、所述全局错误信号和所述全局时钟信号来生成所述局部时钟信号;其中所述定时电路在所述块级错误信号和所述全局错误信号的信号值不是错误值时 将所述全局时钟信号传播到所述局部时钟信号上;以及其中所述定时电路在所述块级错误信号或者所述全局错误信号中的至少一个的信号 值是错误值时阻止所述全局时钟信号的时钟信号转变传播到所述局部时钟信号上。8. —种用于扩充电路以检测和纠正定时错误的设备,所述设备包括 分割装置,用于将所述电路分割为一组块,其中相应块由局部时钟信号钟控; 第一集成装置,用于在所述一组块之间集成错误信号传播电路;以及 对于相应块确定装置,用于确定将实施为双倍数据采样寄存器的一组内部寄存器,其中给定的双 倍数据采样寄存器被配置成在它检测到定时错误时生成错误信号;取代装置,用于用双倍数据采样寄存器取代所述确定的一组内部寄存器;第二集成装置,用于将两阶段纠错电路集成到所述相应块中,其中在被双倍数据采样 寄存器通知定时错误时,所述两阶段纠错电路被配置成停滞所述相应块中的寄存器;以及第三集成装置,用于将根据全局时钟信号和所述错误信号来生成所述局部时钟信号的 定时电路集成到所述相应块中。9. 根据权利要求8所述的设备,其中所述第二集成装置包括第一配置装置,用于配置所述相应块的内部寄存器以在所述两阶段纠错电路的第一或 者第二停滞阶段期间停滞;第二配置装置,用于配置输入缓存器以在所述第一停滞阶段期间对所述相应块的输入 信号源的信号值进行采样和保持;第三配置装置,用于配置输入复用器以在所述第二停滞阶段期间选择所述输入缓存器 的输出信号,并且...
【专利技术属性】
技术研发人员:F达图,NV舍诺伊,
申请(专利权)人:新思科技有限公司,
类型:发明
国别省市:US[美国]
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