产生时钟的方法以及执行该方法的时钟转换器和测试系统技术方案

一种输出用于测试半导体器件的时钟信号的时钟转换器包括：时钟输入端，用于接收具有输入频率的输入时钟；第一频率转换电路，用于接收输入时钟并通过使用固定乘数增大输入频率来输出具有第一频率的第一转换时钟；第二频率转换电路，用于接收输入时钟并通过使用可变乘数增大输入频率来输出具有大于第一频率的第二频率的第二转换时钟；以及选择电路，用于根据模式选择信号输出第一转换时钟或第二转换时钟。

The method of clock generation and the clock converter and test system

【技术实现步骤摘要】
产生时钟的方法以及执行该方法的时钟转换器和测试系统相关申请的交叉引用通过引用，将2018年11月9日向韩国知识产权局提交的标题为“产生输出到半导体器件用于测试半导体器件的时钟的方法，以及包括该方法的时钟转换器和测试系统”的韩国专利申请第10-2018-0137602号的全部内容结合于此。
实施例涉及一种产生输出到半导体器件用于测试该半导体器件的时钟的方法，以及执行该方法的时钟转换器和测试系统。
技术介绍
随着电子工业和用户需求的快速发展，电子设备已经变得更加紧凑、高性能和大容量。因此，包括在电子设备中的半导体器件的测试过程也已经变得复杂。作为示例，高性能存储器半导体器件执行各种功能，例如具有高带宽的读操作和写操作。当这种高性能存储器半导体器件受验(DUT)时，需要设计一种测试设备来以高带宽进行测试。
技术实现思路
根据一个实施例，提供了一种时钟转换器，以输出用于测试半导体器件的时钟信号，该时钟转换器包括：时钟输入端，用于接收具有输入频率的输入时钟；第一频率转换电路，用于接收输入时钟并通过使用固定乘数增本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种输出用于测试半导体器件的时钟信号的时钟转换器，所述时钟转换器包括：/n时钟输入端，用于接收具有输入频率的输入时钟；/n第一频率转换电路，用于接收输入时钟，并通过使用固定乘数增大输入频率来输出具有第一频率的第一转换时钟；/n第二频率转换电路，用于接收输入时钟，并通过使用可变乘数增大输入频率来并输出具有大于第一频率的第二频率的第二转换时钟；和/n选择电路，用于根据模式选择信号输出所述第一转换时钟或所述第二转换时钟。/n

【技术特征摘要】
20181109 KR 10-2018-01376021.一种输出用于测试半导体器件的时钟信号的时钟转换器，所述时钟转换器包括：
时钟输入端，用于接收具有输入频率的输入时钟；
第一频率转换电路，用于接收输入时钟，并通过使用固定乘数增大输入频率来输出具有第一频率的第一转换时钟；
第二频率转换电路，用于接收输入时钟，并通过使用可变乘数增大输入频率来并输出具有大于第一频率的第二频率的第二转换时钟；和
选择电路，用于根据模式选择信号输出所述第一转换时钟或所述第二转换时钟。


2.根据权利要求1所述的时钟转换器，其中，所述输入时钟包括第一输入时钟和第二输入时钟，所述第一频率转换电路用于接收所述第一输入时钟和所述第二输入时钟，并且所述第二频率转换电路用于接收所述第一输入时钟。


3.如权利要求2所述的时钟转换器，还包括从所述时钟输入端分支到所述第一频率转换电路和所述第二频率转换电路的传输线，
其中所述第一频率转换电路和所述第二频率转换电路中的每一个都用于接收所述第一输入时钟。


4.根据权利要求2所述的时钟转换器，其中：
所述第一频率转换电路通过对所述第一输入时钟和所述第二输入时钟执行异或XOR运算来输出所述第一转换时钟，并且
所述第二频率转换电路基于对分频时钟和第一输入时钟之间的相位差的检测来输出所述第二转换时钟，其中所述分频时钟是反馈的分频的所述第二转换时钟。


5.根据权利要求4所述的时钟转换器，其中：
所述第二频率转换电路包括多个压控振荡器，并且
所述第二频率转换电路基于振荡器选择信号从所述多个压控振荡器中的一个输出振荡信号。


6.如权利要求5所述的时钟转换器，其中所述振荡器选择信号激活所述多个压控振荡器中的一个，并且对其它压控振荡器去激活。


7.根据权利要求5所述的时钟转换器，其中，所述第二频率转换电路还包括振荡电压选择电路，并且
所述振荡电压选择电路基于所述振荡器选择信号选择从所述多个压控振荡器接收的振荡信号中的一个，并输出所选择的振荡信号和所选择的振荡信号的反相信号。


8.根据权利要求2所述的时钟转换器，其中：
所述第一频率转换电路输出反相的第一转换时钟，
所述第一转换时钟通过对所述第一输入时钟和所述第二输入时钟执行XOR运算来获得，并且
所述反相的第一转换时钟具有与所述第一转换时钟反相的相位。


9.根据权利要求1所述的时钟转换器，其中，所述输入时钟包括第一输入时钟和第二输入时钟，并且所述第一转换时钟包括第一时间段和第二时间段，其中：
在所述第一时间段中，所述第一转换时钟是对所述第一输入时钟和具有与所述第一输入时钟差90度的相位的所述第二输入时钟执行了XOR运算的时钟，并且
在所述第二时间段中，所述第一转换时钟包括具有低于所述输入频率和所述第一频率的频率的信号。


10.根据权利要求9所述的时钟转换器，其中：
所述第一时间段包括所述半导体器件用于执行写操作或读操作的频率，并且
所述第二时间段包括半导体器件用于执行初始化操作的频率。


11.根据权利要求1所述的时钟转换器，还包括输入端，其中所述输入端并联连接到所述时钟输入端和所述第一频率转换电路，并且所述输入端的阻抗匹配所述时钟转换器的输入阻抗。


12.根据权利要求1所述的时钟转换器，其中所述选择电路包括复用器和放大器，其中：
所述复用器经由所述复用器的输入端接收所述第一转换时钟和所述第二转换时钟，经由所述复用器的控制端接收所述模式选择信号，并将所述第一转换时钟或所述第二转换时钟输出到所述放大器，并且
所述放大器基于所述放大器的驱动电压放大并输出所述第一转换时钟或所述第二转换时钟。


13.一种被配置为测试半导体器件的半导体测试系统，所述半导体测试系统...

【专利技术属性】
技术研发人员：金容正，张成权，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：韩国;KR