一种老化测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种老化测试装置，包括用于配置老化测试信息的上位机控制组件、通信组件、电源系统、用于接收和驱动测试信息的信息驱动组件，以及用于装载待测存储器的老化组件，所述上位机控制组件通过所述通信组件与所述信息驱动组件电性连接，所述通信组件和所述信息驱动组件分别与所述电源系统电性连接；所述老化组件包括烘箱和多个间隔设置的老化板，所述老化板设置在所述烘箱内，所述信息驱动组件包括多个用于驱动测试信息的驱动板和用于连接多根信息线的高频连接器，所述驱动板通过所述高频连接器与所述老化板电性连接。其能解决存储器老化测试装置的测试频率不高，而不能满足高速存储器老化测试的问题。满足高速存储器老化测试的问题。满足高速存储器老化测试的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种老化测试装置


[0001]本专利技术涉及芯片测试领域，尤其涉及一种存储器的老化测试装置。

技术介绍

[0002]现如今国内还没有专门的存储器老化测试设备，无法满足存储器的批量老化测试，要做老化测试也只能放在低速通用集成电路老化设备上测试，集成电路老化设备一般采用较小规模的FPGA芯片作为数字信号的产生，由于高速数字信号传输没有得到有效地解决，最高频率也只能做到1MHZ以下，并随着频率的增加，驱动电流也会大幅下降，导致无法满足大批量高速存储器的老化测试实验。

技术实现思路

[0003]为了克服现有技术的不足，本专利技术的目的在于提供一种老化测试装置，其能解决存储器老化测试装置的测试频率不高，而不能满足高速存储器老化测试的问题。
[0004]本专利技术的目的采用以下技术方案实现：
[0005]一种老化测试装置，包括用于配置老化测试信息的上位机控制组件、通信组件、电源系统、用于接收和驱动测试信息的信息驱动组件，以及用于装载待测存储器的老化组件，所述上位机控制组件通过所述通信组件与所述信息驱动组件电性连接，所述通信组件和所述信息驱动组件分别与所述电源系统电性连接；所述老化组件包括烘箱和多个间隔设置的老化板，所述老化板设置在所述烘箱内，所述信息驱动组件包括多个用于驱动测试信息的驱动板和用于连接多根信号线的高频连接器，所述驱动板通过所述高频连接器与所述老化板电性连接。
[0006]优选的，所述高频连接器为SEAM连接器。
[0007]优选的，所述驱动板为高频基板SH260，所述驱动板设置有256路I/O信号通道。
[0008]优选的，所述信息驱动组件还包括嵌入式控制单元，所述嵌入式控制单元包括接收老化测试信息的ARM9TDMI芯片，所述ARM9TDMI芯片与所述I/O信号通道电性连接。
[0009]优选的，所述信息驱动组件还包括多个用于生成图形测试信号并检测图形测试信号的图形发生与检测单元，所述图形发生与检测单元包括FPGA主控模块，所述FPGA主控模块与所述嵌入式控制单元信号连接。
[0010]优选的，所述上位机控制组件包括数据库模块、代码编辑模块、网络通信模块、老化控制模块和参数编辑模块，所述代码编辑模块、所述网络通信模块、所述老化控制模块和所述参数编辑模块分别与所述数据库模块信号连接，所述通信组件、所述参数编辑模块和所述老化控制模块分别与所述网络通信模块信号连接。
[0011]优选的，所述上位机控制组件还包括人机交互界面，所述数据库模块、所述代码编辑模块和所述参数编辑模块分别与所述人机交互界面信号连接。
[0012]优选的，所述通信组件包括64口的交换式1000M集线器。
[0013]优选的，所述老化测试装置还包括第一柜体，所述上位机控制组件和所述电源系
统均设置在所述第一柜体内。
[0014]优选的，所述老化测试装置还包括第二柜体，所述第二柜体与所述烘箱连接，所述信息驱动组件设置在所述第二柜体内。
[0015]相比现有技术，本专利技术的有益效果在于：
[0016]本专利技术设置有高频连接器，该高频连接器能将多根信号线连接在一起，保证了所述高频连接器的驱动电流量大，而能实现驱动板与老化板之间传输的测试信息高速传输，从而能满足高速存储器的老化测试要求。
附图说明
[0017]图1为本专利技术的整体架构图；
[0018]图2为本专利技术的老化测试装置的立体结构示意图；
[0019]图3为本专利技术的老化测试装置的另一角度的立体结构示意图；
[0020]图4为本专利技术的老化测试装置的爆炸结构示意图；
[0021]图5为本专利技术的老化测试装置的平面结构示意图；
[0022]图6为本专利技术的上位机控制组件的整体架构图。
[0023]图中：1、老化测试装置；10、上位机控制组件；11、人机交互界面；20、通信组件；30、信息驱动组件；31、第二柜体；32、驱动板；33、通风孔；40、电源系统；50、老化组件；51、老化板；52、烘箱；53、老化架；60、第一柜体；61、底座；62、万向轮。
具体实施方式
[0024]为了能够更清楚地理解本专利技术的具体技术方案、特征和优点，下面结合附图和具体实施方式对本专利技术进行进一步的详细描述。
[0025]在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“左”、“右”、“横向”、“纵向”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该专利技术产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0026]实施例一
[0027]如图1-5所示，本专利技术公开了一种老化测试装置1，包括用于配置老化测试信息的上位机控制组件10、通信组件20、电源系统40、用于接收和驱动测试信息的信息驱动组件30，以及用于装载待测存储器的老化组件50，所述上位机控制组件10通过所述通信组件20与所述信息驱动组件30电性连接，所述通信组件20和所述信息驱动组件30分别与所述电源系统40电性连接；所述老化组件50包括烘箱52和多个间隔设置的老化板53，所述老化板53设置在所述烘箱52内，所述信息驱动组件30包括多个用于驱动测试信息的驱动板32和用于连接多根信号线的高频连接器，所述驱动板32通过所述高频连接器与所述老化板51电性连接。
[0028]在上述实施例中，用户通过所述上位机控制组件10配置老化测试信息，该老化测试信息可以为编程代码如C++或汇编等代码语言，编辑好的测试信息通过通信组件20传输
到信息驱动组件30，所述信息驱动组件30接收到上位机发送的老化测试信息后，经过驱动板驱动后，再通过高频连接器传输给所述老化板51，对老化板上设置的待测试的器件(存储器)进行测试，一般老化板上设置有多块待测试的存储器，在测试过程中，信息驱动组件30还可以检测老化板51上的测试信息，以保证测试信息的有效性，同时所述信息驱动组件30还可以回传测试的结果信息给所述上位机控制组件10。另外，多根信号线最优为pin线，所述高频连接器能将多根pin线连接在一起，多根pin线的另一端可与所述老化板51电性连接，保证了所述高频连接器的驱动电流量(也可理解为“驱动信息量”)大，而能实现驱动板32与老化板51之间传输的测试信息高速传输，而能满足高速存储器的老化测试；所述烘箱52能给所述老化组件50提供适宜的高温(一般为70-90度)使所述老化板53上的待测器件老化，老化板53间隔设置可避免老化板51之间的信号干扰。
[0029]其中，经过大量实验和测试所述高频连接器优选为SEAM连接器，最优为高频高密度贴片BGA连接器SEAM-50-6-S-RE。
[0030]其中，所述驱动板为高频基板SH260，所述驱动板可采用插本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种老化测试装置，其特征在于：包括用于配置老化测试信息的上位机控制组件、通信组件、电源系统、用于接收和驱动测试信息的信息驱动组件，以及用于装载待测存储器的老化组件，所述上位机控制组件通过所述通信组件与所述信息驱动组件电性连接，所述通信组件和所述信息驱动组件分别与所述电源系统电性连接；所述老化组件包括烘箱和多个间隔设置的老化板，所述老化板设置在所述烘箱内，所述信息驱动组件包括多个用于驱动测试信息的驱动板和用于连接多根信息线的高频连接器，所述驱动板通过所述高频连接器与所述老化板电性连接。2.根据权利要求1所述的老化测试装置，其特征在于：所述高频连接器为SEAM连接器。3.根据权利要求1所述的老化测试装置，其特征在于：所述驱动板为高频基板SH260，所述驱动板设置有256路I/O信号通道。4.根据权利要求3所述的老化测试装置，其特征在于：所述信息驱动组件还包括嵌入式控制单元，所述嵌入式控制单元包括接收老化测试信息的ARM9TDMI芯片，所述ARM9TDMI芯片与所述I/O信号通道电性连接。5.根据权利要求4所述的老化测试装置，其特征在于：所述信息驱动组件还包括多个用于生成图形测试信号并检测图形测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹佶，赵宝忠，
申请(专利权)人：杭州可靠性仪器厂，
类型：发明
国别省市：