【技术实现步骤摘要】
一种吸附式SD卡的测试装置
本技术涉及SD卡测试
，具体为一种吸附式SD卡的测试装置。
技术介绍
SD卡又称存储卡，是一种基于半导体快闪记忆器的新一代记忆设备，它通常被广泛的应用于方便携带的多种消费性电子装置中，例如手机、数码相机、音乐播放机及笔记本电脑等，SD卡在生产过程中，为了测试包装好的SD卡中的闪速存储器模块及控制电路是否可以正常的工作，通常需要对其进行测试，因此需要使用到测试装置来完成测试工作。现今市场上的此类测试装置种类繁多，基本可以满足人们的使用需求，但是依然存在一定的不足之处，具体问题有以下几点。(1)现有的此类测试装置一般缺乏对SD卡插口防护功能，容易使得在测试装置存放时灰尘杂质进入SD卡插口的内部，因而容易影响SD卡与插口的接触，甚至容易造成拔插时SD卡和插口的摩擦损坏；(2)现有的此类测试装置在使用时通常难以对检测装置进行限位或固定，在SD卡拔插时需要手动扶持检测装置，不利于检测工作的便捷程度；(3)现有的此类测试装置在使用时检测装置的传输导线一般只能随意放置，无法...
【技术保护点】
1.一种吸附式SD卡的测试装置，包括检测装置本体(1)、SD卡插口(2)、软质防尘片(3)、卷绕结构(7)和吸附结构(9)，其特征在于：所述检测装置本体(1)一侧的外壁上皆设置有SD卡插口(2)，且SD卡插口(2)上方的检测装置本体(1)外壁上皆设置有限位圆孔(8)，所述SD卡插口(2)下方的检测装置本体(1)外壁上固定有连接条(13)，且连接条(13)的一侧固定有软质防尘片(3)，并且软质防尘片(3)远离连接条(13)的一端固定有凸条(10)，所述检测装置本体(1)一侧的外壁上固定有导线连接端(4)，且导线连接端(4)远离检测装置本体(1)的一端固定有数据传输导线(5)，...
【技术特征摘要】
1.一种吸附式SD卡的测试装置，包括检测装置本体(1)、SD卡插口(2)、软质防尘片(3)、卷绕结构(7)和吸附结构(9)，其特征在于：所述检测装置本体(1)一侧的外壁上皆设置有SD卡插口(2)，且SD卡插口(2)上方的检测装置本体(1)外壁上皆设置有限位圆孔(8)，所述SD卡插口(2)下方的检测装置本体(1)外壁上固定有连接条(13)，且连接条(13)的一侧固定有软质防尘片(3)，并且软质防尘片(3)远离连接条(13)的一端固定有凸条(10)，所述检测装置本体(1)一侧的外壁上固定有导线连接端(4)，且导线连接端(4)远离检测装置本体(1)的一端固定有数据传输导线(5)，并且数据传输导线(5)远离导线连接端(4)的一端固定有USB接口(6)，所述导线连接端(4)上方的检测装置本体(1)外壁上设置有卷绕结构(7)，所述检测装置本体(1)底端的拐角位置处皆设置有吸附结构(9)。
2.根据权利要求1所述的一种吸附式SD卡的测试装置，其特征在于：所述软质防尘片(3)一侧的外壁上固定有橡胶塞(12)，橡胶塞(12)与SD卡插口(2)相互配合，且橡胶塞(12)一侧的软质防尘片(3)外壁上皆固定有橡胶凸件(11)，橡胶凸件(11)与限位圆孔(8)相互配合。
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【专利技术属性】
技术研发人员：郭寂波，
申请(专利权)人：深圳市劲升迪龙科技发展有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44
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