【技术实现步骤摘要】
分配溶剂的方法
本公开实施例涉及一种分配溶剂的方法,特别涉及一种多次分配光刻胶减量消耗溶剂的方法。
技术介绍
在半导体制造期间,进行各种光刻(photolithographic)工艺以施加层至半导体晶圆,或在半导体晶圆中进行植入。感光(photosensitive)光刻胶(photoresist,光阻剂)被施加至晶圆,且使用光罩(photomask)图案化(patterned)感光光刻胶以形成硬质遮罩(mask),用于后续的沉积或蚀刻工艺。光刻胶的成本是半导体制造中大量的材料成本。光刻胶减量消耗(ReducingResistConsumption,RRC)工艺在半导体产业中被广泛地使用以降低每晶圆的光刻胶成本。然而,此工艺经常伴随着各种涂层缺陷(例如:微气泡),使改善最终产出率和进一步地减少每晶圆的光刻胶成本变得困难。本公开利用具有动态控制的多次喷洒光刻胶减量消耗工艺,以改善最终产出率且进一步地减少光刻胶成本。
技术实现思路
本公开实施例提供一种分配溶剂的方法,包括:在第一时段以第一速度旋转的同时,在半导 ...
【技术保护点】
1.一种分配溶剂的方法,包括:/n在一第一时段以一第一速度旋转的同时,在一半导体基板上分配一溶剂的一第一层;/n在一第二时段以一第二速度旋转的同时,在该半导体基板上分配该溶剂,以便将该第一层转换成该溶剂的一第二层;/n在一第三时段以一第三速度旋转的同时,在该半导体基板上分配该溶剂,以便将该第二层转换成该溶剂的一第三层;/n在一第四时段以一第四速度旋转的同时,在该半导体基板上分配该溶剂,以便将该第三层转换成该溶剂的一第四层;以及/n在一第五时段以一第五速度旋转的同时,在该溶剂的该第四层上分配一光刻胶的一第一层。/n
【技术特征摘要】
20181130 US 62/773,446;20191114 US 16/684,4571.一种分配溶剂的方法,包括:
在一第一时段以一第一速度旋转的同时,在一半导体基板上分配一溶剂的一第一层;
在一第二时段以一第二速度旋转的同时,在该半导体基板上分配该溶剂,以便将该第一层转换成该溶剂的一第二层;
在一第三时段以一第三速度旋转的同时,在该半导体基板上分配该溶剂,以便将该第二层转换成该溶剂的一第三层;
在一第四时段以一第四速度旋转的同时,在该半导体基板上分配该溶剂,以便将该第三层转换成该溶剂的一第四层;以及
在一第五时段以一第五速度旋转的同时,在该溶剂的该第四层上分配一光刻胶的一第一层。
2.如权利要求1所述的分配溶剂的方法,其中该第三速度大于该第一速度,其中该第一速度大于该第二速度,且其中该第二速度大于该第四速度。
3.如权利要求1所述的分配溶剂的方法,其中分配该溶剂是以60至90每分钟毫升的流率进行。
4.一种分配溶剂的方法,包括:
在一第一时段以一第一速度旋转的同时,在一半导体基板上分配一溶剂的一第一层;
在一第二时段以一第二速度旋转的同时,在该半导体基板上分配该溶剂,以便将该第一层转换成该溶剂的一第二层;
在旋转的同时,在该半导体基板上分配该溶剂,以便将该第二层转换成该溶剂的一第三层;
在一第三时段以一第三速度旋转的同时,在该半导体基板上分配该溶剂,以便将该第三层转换成该溶剂的一第四层;
在一第四时段以一第四速度旋转的同时,在该半导体基板上分配该溶剂,以便将该第四层转换成该溶剂的一第五层;以及
在一第五时段以一第五速度旋转的同时,在该溶剂的该第五层上分配一光刻胶的一第一层。
5.如权利要求4所述的分配溶剂的方法,其中该第三速度大于该第一速度,其中该第一速...
【专利技术属性】
技术研发人员:庄明轩,朱家宏,卢伯胜,黄正义,郭守文,
申请(专利权)人:台湾积体电路制造股份有限公司,
类型:发明
国别省市:中国台湾;71
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