【技术实现步骤摘要】
基于PocketLab的晶体管参数测试仪
本专利技术涉及一种基于PocketLab的晶体管参数测试仪,属于电子电路
技术介绍
目前，晶体管参数测量领域没有较成熟的产品，功能单一，价格较高，没有能够同时测量输入输出特性曲线和放大系数的仪器，已有的仪器只能测量部分功能，操作不够简便；能同时测量输出特性曲线和放大系数的仪器目前很少，价格普遍较高，不适合于教学推广。
技术实现思路
本专利技术的目的是为了克服目前晶体管参数测试仪功能单一、使用不便、价格较高的问题，本技术提供一种基于PocketLab的晶体管参数测试仪，利用已有的PocketLab平台、软件硬件一体化的晶体管参数测试仪，对BJT管、MOS管能很方便地完成输入特性曲线、输出特性曲线的绘制。为达到上述目的，本技术采用的方法是：一种基于PocketLab的晶体管参数测试仪，包括PocketLab、PCB电路板，在PCB电路板上面集成标准电阻、待测元件插孔以及插针，插针可与PocketLab的功能引脚区和电源引脚区相连；所述的标准电阻包括R...
【技术保护点】
1.基于PocketLab的晶体管参数测试仪，其特征在于：包括PocketLab、PCB电路板，在PCB电路板上面集成标准电阻、待测元件插孔以及插针，插针可与PocketLab的功能引脚区和电源引脚区相连；所述的标准电阻包括R1和R2，插孔包括插孔A、插孔B、插孔C、插孔D以及插孔E；所述的插孔A用于接待测晶体管的集电极、插孔B用于接待测晶体管的基极、插孔C用于接待测晶体管的发射集，同时插孔C接地；所述的标准电阻R1一端连接插孔B，另一端接插孔D；所述的所述的标准电阻R2一端接插孔A，另一端接插孔E；当测量晶体管的输入特性曲线时，插孔D通过PocketLab的信号端口SIG...
【技术特征摘要】
1.基于PocketLab的晶体管参数测试仪，其特征在于：包括PocketLab、PCB电路板，在PCB电路板上面集成标准电阻、待测元件插孔以及插针，插针可与PocketLab的功能引脚区和电源引脚区相连；所述的标准电阻包括R1和R2，插孔包括插孔A、插孔B、插孔C、插孔D以及插孔E；所述的插孔A用于接待测晶体管的集电极、插孔B用于接待测晶体管的基极、插孔C用于接待测晶体管的发射集，同时插孔C接地；所述的标准电阻R1一端连接插孔B，另一端接插孔D；所述的所述的标准电阻R2一端接插孔A，另一端接插孔E；当测量晶体管的输入特性曲线时，插孔D通过PocketLab的信号端口SIG2接插孔C，插孔E通过PocketLab的信号端口SIG1接插孔C；当测量晶体管的输出特性曲线时，插孔D通过PocketLab的信号端口SIG1接插孔C，插孔E通过PocketLab的信号端口SIG2接插孔C。
2.根据权利要求1所述的基于PocketLab的...
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