一种OLED器件光电及量子效率测试系统技术方案

技术编号:24203229 阅读:83 留言:0更新日期:2020-05-20 13:35
本发明专利技术涉及一种OLED器件光电及量子效率测试系统,包括测试平台、夹具、积分半球、光学传导组件和辐射照度测试设备,夹具和积分半球分别设置于测试平台的两侧面上;积分半球上部平面中央和底部半球顶点开有测试孔光学传导组件包括光纤、镜筒和光学反光镜,镜筒设置在积分半球底部顶点测试孔和辐射照度测试设备顶部之间,光学反光镜设置在镜筒的侧壁上,可向镜筒内打开。本发明专利技术将光电测试和量子效率测试设备进行了整合,重新设计了测试光路,实现了光电测试与量子效率测试结合;采用夹具和垂直光路,摒弃了暗室柜等严苛的测试条件,提高了适用性。

A photoelectric and quantum efficiency test system for OLED devices

【技术实现步骤摘要】
一种OLED器件光电及量子效率测试系统
本专利技术涉及光电器件测量
,具体涉及一种OLED器件光电及量子效率测试系统。
技术介绍
有机发光二极管(Organiclight-EmittingDiode,OLED)是近年来发展最为迅速的薄膜显示技术。自1979年美国柯达公司率先发表以来,已经历了40年的发展。作为OLED技术的载体,OLED器件性能是衡量OLED器件构建原理、材料组合和制备工艺的最为直接和有效的方法。其中,器件的光电性能测试和量子效率测试一直以来都是器件测试中最为关键的项目,对于评价OLED器件功能层的搭配组合、器件中有机材料的性能、器件中发光材料的颜色和效率等指标都具有重要的意义。随着OLED技术的发展,OLED光电测试和量子效率测试的测试设备和测试方法均形成了独立且完善的测试体系。其中,光电测试系统一般包含恒压恒流源、辐射照度计和夹具,需在暗室条件下使用;量子效率测试系统一般包含恒压恒流源、积分球、光谱仪和夹具,可在光照条件下使用。可见,两套系统虽然存在一定的通用设备,但由于测试光路和测试条件的区别,目前整合度最高的方式为共用夹具和恒压恒流源,因此,两种测试需要在人工切换系统的情况下进行单点测试,对于大规模标准化测试来说,无疑造成了时间的浪费和人力成本的增加。
技术实现思路
针对现有技术中的以上不足,本专利技术提供了一种OLED器件光电及量子效率测试系统,通过改变现有设备的测试光路,将光电测试系统与量子效率测试系统进行了有效的整合,减小了设备的体积,提高了单次测试的样品数量,实现了样品自动测试,节约了人力成本。为达到上述目的,本专利技术采用如下技术方案:一种OLED器件光电及量子效率测试系统,包括:测试平台、夹具、积分半球、光学传导组件和辐射照度测试设备,所述夹具和积分半球分别设置于所述测试平台的两侧面上,所述夹具用于夹持测试OLED器件;所述积分半球采用半球平面向上的方式设置,上部平面中央和底部半球顶点开有测试孔;在所述测试平台中心设有一通孔,所述通孔与所述积分半球上部平面中央测试孔相对应;所述光学传导组件包括光纤、镜筒和光学反光镜,用于光信号的传导;所述辐射照度测试设备设置在所述分半球下方,用于光信号的采集;所述镜筒设置在所述积分半球底部顶点测试孔和所述辐射照度测试设备顶部之间,所述光学反光镜设置在所述镜筒的侧壁上,可向所述镜筒内打开,形成45°夹角,用于控制光路的传导;当所述光学反光镜处于打开状态时,通过所述光纤向所述辐射照度测试设备传递的光电测试光路打开,可进行光电测试;当所述光学反光镜处于关闭状态时,通过所述光纤向所述辐射照度测试设备传递的光路关闭,通过所述积分半球上测试孔的主光路导通,可进行量子效率测试。所述测试系统还包括用于带动所述夹具旋转的旋转机构、用于带动所述夹具沿径向移动的推送机构和用于测试电压/电流的提供,综合光、电信息并进行数据处理的控制系统;所述旋转机构和推送机构设置在所述测试平台上;所述推送机构包括传递夹、传递槽和龙门导轨。所述控制系统包括恒压恒流输出源、计算机和触控屏,所述恒压恒流源与所述夹具电性连接,用于提供稳定输出电压、电流并且将输出信号实时传递至所述计算机上的控制软件,所述计算机上的控制软件用于提供触控交互、测试参数设置以及机械运动控制,并能够对测试数据进行运算和分析;所述触控屏用于控制界面的显示和控制/采集测试参数的设定与查看。在所述夹具内设置金属触点,用于对测试样品施加电流和电压,在所述夹具的底部设有通光孔。所述旋转机构包括齿轮和电动机;所述测试平台的边部开有槽孔,所述旋转机构设置在所述槽孔内;所述测试平台上部设有环形旋转转盘,所述转盘边部底侧设有与所述旋转机构上的齿轮相啮合的环形齿轮槽,所述旋转机构的齿轮穿过所述测试平台的槽孔与所述齿轮槽啮合,由所述旋转机构的齿轮旋转方向和圈数确定所述转盘的旋转方向和位置;所述转盘的直径大于所述积分半球的直径。所述转盘上以同心圆的方式设有多个传递夹,所述夹具设置在所述传递夹上;所述夹具与所述传递夹之间采用触点接触式连接。所述转盘的内侧设有定位盘;在所述转盘和定位盘上沿径向设有传递槽,用于带动所述传递夹沿径向移动。所述定位盘的中心设有通光孔;所述传递槽起点和终点与所述夹具上通光孔对应的位置设有通光孔。所述测试平台上部设有龙门导轨,所述龙门导轨上设有接线带,所述龙门导轨与所述测试平台连接端的纵梁顶端与所述接线带的一端连接,所述接线带的另一端与所述传递夹连接;所述龙门导轨横梁的垂直面设有导齿,与设置有导轮的传递夹连接,所述导轮在通电的情况下旋转,使所述传递夹沿横梁移动。所述光纤沿所述积分半球的外侧弧形设置,其一端连接在所述积分半球底部半球顶点测试孔下方,另一端连接在所述夹具底部通光孔下方的光电测试光路上。在所述光学反光镜开合位置,所述镜筒与所述光纤垂直连接。所述夹具的数量大于等于6;所述夹具通过旋转实现样品切换;所述光学反光镜为单面纯平面镜;所述辐射照度测试设备为辐射照度计。本专利技术技术方案,具有如下有益效果:本专利技术一种OLED器件光电及量子效率测试系统,将光电测试和量子效率测试设备进行了整合,重新设计了测试光路,实现了光电测试与量子效率测试结合;采用夹具和垂直光路,摒弃了暗室柜等严苛的测试条件,提高了适用性;采用多夹具和旋转切换的方式,实现了多样品连续测试;同时与大尺寸积分半球相结合,提高了测试精度和稳定性。附图说明为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式,下面将对具体实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本专利技术的一些实施方式,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术OLED器件光电及量子效率测试系统整体结构示意图;图2为图1结构俯视图;图3为本专利技术中龙门导轨结构示意图;图4为图3结构俯视图;图5为本专利技术中光学反光镜安装位置示意图。附图标记说明:1-测试平台11-转盘111-齿轮槽12-定位盘2-夹具3-积分半球4-光学传导组件41-光纤,42-镜筒,43-光学反光镜5-辐射照度测试设备6-旋转机构7-推送机构71-传递夹711-导轮72-传递槽,73-龙门导轨8-控制系统81-恒压恒流输出源,82-计算机,83-触控屏9-接线带。具体实施方式下面将结合附图对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。在本专利技术的描述中,需要说明的是,术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种OLED器件光电及量子效率测试系统,其特征在于,包括:测试平台(1)、夹具(2)、积分半球(3)、光学传导组件(4)和辐射照度测试设备(5),所述夹具(2)和积分半球(3)分别设置于所述测试平台(1)的两侧面上,所述夹具(2)用于夹持测试OLED器件;所述积分半球(3)采用半球平面向上的方式设置,上部平面中央和底部半球顶点开有测试孔;在所述测试平台(1)中心设有一通孔,所述通孔与所述积分半球(3)上部平面中央测试孔相对应;所述光学传导组件(4)包括光纤(41)、镜筒(42)和光学反光镜(43),用于光信号的传导;所述辐射照度测试设备(5)设置在所述分半球(3)下方,用于光信号的采集;所述镜筒(42)设置在所述积分半球(3)底部顶点测试孔和所述辐射照度测试设备(5)顶部之间,所述光学反光镜(43)设置在所述镜筒(42)的侧壁上,可向所述镜筒(42)内打开,用于控制光路的传导;/n当所述光学反光镜(43)处于打开状态时,通过所述光纤(41)向所述辐射照度测试设备(5)传递的光电测试光路打开,可进行光电测试;当所述光学反光镜(43)处于关闭状态时,通过所述光纤(41)向所述辐射照度测试设备(5)传递的光路关闭,通过所述积分半球(3)上测试孔的主光路导通,可进行量子效率测试。/n...

【技术特征摘要】
1.一种OLED器件光电及量子效率测试系统,其特征在于,包括:测试平台(1)、夹具(2)、积分半球(3)、光学传导组件(4)和辐射照度测试设备(5),所述夹具(2)和积分半球(3)分别设置于所述测试平台(1)的两侧面上,所述夹具(2)用于夹持测试OLED器件;所述积分半球(3)采用半球平面向上的方式设置,上部平面中央和底部半球顶点开有测试孔;在所述测试平台(1)中心设有一通孔,所述通孔与所述积分半球(3)上部平面中央测试孔相对应;所述光学传导组件(4)包括光纤(41)、镜筒(42)和光学反光镜(43),用于光信号的传导;所述辐射照度测试设备(5)设置在所述分半球(3)下方,用于光信号的采集;所述镜筒(42)设置在所述积分半球(3)底部顶点测试孔和所述辐射照度测试设备(5)顶部之间,所述光学反光镜(43)设置在所述镜筒(42)的侧壁上,可向所述镜筒(42)内打开,用于控制光路的传导;
当所述光学反光镜(43)处于打开状态时,通过所述光纤(41)向所述辐射照度测试设备(5)传递的光电测试光路打开,可进行光电测试;当所述光学反光镜(43)处于关闭状态时,通过所述光纤(41)向所述辐射照度测试设备(5)传递的光路关闭,通过所述积分半球(3)上测试孔的主光路导通,可进行量子效率测试。


2.根据权利要求1所述的OLED器件光电及量子效率测试系统,其特征在于,所述测试系统还包括用于带动所述夹具(2)旋转的旋转机构(6)、用于带动所述夹具(2)沿径向移动的推送机构(7)和用于测试电压/电流的提供,综合光、电信息并进行数据处理的控制系统(8);所述旋转机构(6)和推送机构(7)设置在所述测试平台(1)上;所述推送机构(7)包括传递夹(71)、传递槽(72)和龙门导轨(73)。


3.根据权利要求2所述的OLED器件光电及量子效率测试系统,其特征在于,所述控制系统(8)包括恒压恒流输出源(81)、计算机(82)和触控屏(83),所述恒压恒流源(81)与所述夹具(2)电性连接,用于提供稳定输出电压、电流并且将输出信号实时传递至所述计算机(82)上的控制软件,所述计算机(82)上的控制软件用于提供触控交互、测试参数设置以及机械运动控制,并能够对测试数据进行运算和分析;所述触控屏(83)用于控制界面的显示和控制/采集测试参数的设定与查看。


4.根据权利要求1所述的OLED器件光电及量子效率测试系统,其特征在于,在所述夹具(2)内设置金属触点,用于对测试样品施加电流和电压;在所述夹具(2)的底部设有通光孔。


5.根据权利要求2所述的OLED器件光电及量子效率测试系统,其特征在于,所述旋转机构(6)包括齿轮...

【专利技术属性】
技术研发人员:李轶文刘嵩
申请(专利权)人:固安鼎材科技有限公司
类型:发明
国别省市:河北;13

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