GaN高温功能试验系统技术方案

本发明专利技术公开了GaN高温功能试验系统，属于试验设备技术领域，包括柜体，柜体底部四个角的位置设置柜脚，其特征在于：柜体中部设置操作台，操作台上方设置工业控制计算机，工业控制计算机上方横向并排设置开始按钮、停止按钮，工业控制计算机两侧均设置烘箱，烘箱下方设置电源，烘箱的数量为4个，工业控制计算机两侧分别纵向设置2个烘箱，同侧烘箱之间设置测试柜，操作台下方设置接线柜，本发明专利技术很好地解决了现有高温功能试验系统不能做不同温度下的参数试验的问题，对器件可靠性的检测也更加精确，同时，灵活性显著提升，实现了对不同器件或者参数的检测，有效地节约了成本。

GaN high temperature function test system

【技术实现步骤摘要】
GaN高温功能试验系统
本专利技术涉及试验设备
，具体是GaN高温功能试验系统。
技术介绍
在GaN器件的生产领域，为保证器件的可靠性，厂家在器件出厂前会采用一系列可靠性试验进行检测、筛选，针对器件不同的使用环境，采用的可靠性试验的种类、条件也会有所差异，对于GaN器件来说，高温功能试验，是器件出厂前必做的试验之一，该试验对剔除具有表面效应缺陷的早期失效器件特别有效，这些器件的失效与时间和应力有关，如未经该试验，这些器件在正常的使用条件下会发生早期失效，此外，该试验还能揭示与时间和应力有关的电气失效模式，对于器件可靠性的保证有着重要作用，该试验需要通过专门的高温功能试验系统完成，但现有的高温功能试验系统存在一些不足，比如烘箱数量较少，在产品研发阶段不能做不同温度下的参数试验，比如不能配置不同的驱动板以检测不同的器件或者参数，这些不足显然不利于对器件可靠性的精确检测，同时也限制了高温功能试验系统使用的灵活性，对于厂家来说，更重要的在于，如果想要对器件做不同温度下的参数试验，或者想要借助高温功能试验系统检测不同的器件或者参数，就需要投入更多的财力购买其他设备，这显然是厂家不希望看到的，因此，急需提供一种既能进行不同温度下的参数试验，又能检测不同器件或者参数的高温功能试验系统。
技术实现思路
为了解决上述技术问题，本专利技术提供GaN高温功能试验系统。GaN高温功能试验系统，包括柜体，所述柜体底部四个角的位置设置柜脚，其特征在于：所述柜体中部设置操作台，所述操作台上方设置工业控制计算机，所述工业控制计算机上方横向并排设置开始按钮、停止按钮，所述工业控制计算机两侧均设置烘箱，所述烘箱下方设置电源，所述电源与所述工业控制计算机电性连接，所述烘箱与所述电源、所述工业控制计算机均电性连接，所述开始按钮、停止按钮与所述电源、所述工业控制计算机均电性连接。进一步的，所述烘箱的数量为4个，所述工业控制计算机两侧分别纵向设置2个烘箱。进一步的，同侧所述烘箱之间设置测试柜。进一步的，所述电源的数量为2组，2组所述电源分别设置于所述工业控制计算机两侧，所述烘箱与其同侧的所述电源电性连接。进一步的，所述操作台下方设置接线柜。进一步的，所述柜体上部一侧横向并排设置绿色状态指示灯、红色状态指示灯，所述绿色状态指示灯远所述红色状态指示灯一侧设置蜂鸣器，所述绿色状态指示灯、红色状态指示灯、蜂鸣器均与所述电源、所述工业控制计算机、所述烘箱电性连接。进一步的，所述停止按钮远所述开始按钮一侧设置急停按钮，所述急停按钮与所述电源、所述工业控制计算机均电性连接。进一步的，每个所述烘箱内部设置4个试验通道，每个所述试验通道内部均设置一块DAQ板和一块老化板。本专利技术的GaN高温功能试验系统的有益效果为：1、厂家可以通过工业控制计算机在4个烘箱内部设置四种不同温度，以对产品进行高温功能试验，并且可以根据需要对烘箱内的温度、温度上升时间、平衡时间等参数进行控制，很好地解决了现有高温功能试验系统不能做不同温度下的参数试验的问题，对器件可靠性的检测也更加精确；2、烘箱与其同侧的电源电性连接，既实现了电源对烘箱的供能，又使用户可以根据需要对电源的规格进行更换，有效地提升了本高温功能试验系统的灵活性；3、厂家可以根据需要在测试柜内部搭配保险丝板或其他测试机，进一步提升了本高温功能试验系统使用的灵活性，实现了对不同器件或者参数的检测，有效地节约了成本；4、烘箱侧面开口将每工位的线引出，厂家可以根据需要，随检测参数的不同，在接线柜内采用不同的接线方式，更有利于对产品的分析；5、当系统工作正常时，绿色状态指示灯亮，当系统发生故障时，红色状态指示灯亮，同时蜂鸣器发出报警声，用户可以直接按下急停按钮，更好地实现了对设备的保护。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，但并不是对本专利技术保护范围的限制。图1为本专利技术的GaN高温功能试验系统的结构示意图。其中，1-柜体，2-烘箱，3-测试柜，4-电源，5-柜脚，6-接线柜，7-操作台，8-工业控制计算机，9-蜂鸣器，10-绿色状态指示灯，11-红色状态指示灯，12-急停按钮，13-停止按钮，14-开始按钮。具体实施方式为使说明更加清楚，结合说明书附图图1，对本专利技术的GaN高温功能试验系统做进一步描述。GaN高温功能试验系统，包括柜体1，所述柜体1底部四个角的位置设置柜脚5，其特征在于：所述柜体1中部设置操作台7，所述操作台7上方设置工业控制计算机8，所述工业控制计算机8上方横向并排设置开始按钮14、停止按钮13，所述工业控制计算机8两侧均设置烘箱2，所述烘箱2下方设置电源4，所述电源4与所述工业控制计算机8电性连接，所述烘箱2与所述电源4、所述工业控制计算机8均电性连接，所述开始按钮14、停止按钮13与所述电源4、所述工业控制计算机8均电性连接。进一步的，所述烘箱2的数量为4个，所述工业控制计算机8两侧分别纵向设置2个烘箱2。进一步的，同侧所述烘箱2之间设置测试柜3。进一步的，所述电源4的数量为2组，2组所述电源4分别设置于所述工业控制计算机8两侧，所述烘箱2与其同侧的所述电源4电性连接。进一步的，所述操作台7下方设置接线柜6。进一步的，所述柜体1上部一侧横向并排设置绿色状态指示灯10、红色状态指示灯11，所述绿色状态指示灯10远所述红色状态指示灯11一侧设置蜂鸣器9，所述绿色状态指示灯10、红色状态指示灯11、蜂鸣器9均与所述电源4、所述工业控制计算机8、所述烘箱2电性连接。进一步的，所述停止按钮13远所述开始按钮14一侧设置急停按钮12，所述急停按钮12与所述电源4、所述工业控制计算机8均电性连接。进一步的，每个所述烘箱2内部设置4个试验通道，每个所述试验通道内部均设置一块DAQ板和一块老化板。本专利技术的GaN高温功能试验系统的工作原理为：根据高温功能试验需求，在接线柜6内部正确连接线路，将待检测器件加载在老化板上后，放入烘箱2内的试验通道内部，按下开始按钮14，通过操作台7表面的键盘、鼠标操作工业控制计算机8，对烘箱2内的温度、温度上升时间、平衡时间等参数进行控制，即可开始对待检测器件的高温功能试验，DAQ板将试验数据采集并传送至工业控制计算机8，并在工业控制计算机8上显示检测结果，此外，用户可以根据需要，在测试柜3内部搭配保险丝板或其他测试机，以实现对不同器件或参数的检测，当系统工作正常时，绿色状态指示灯10亮，当系统发生故障时，红色状态指示灯11亮，同时蜂鸣器9发出报警声，用户直接按下急停按钮12，即可关闭整个系统，实现对系统的有效保护。以上，仅为本专利技术的具体实施方式，但本专利技术的保护范围并不局限于此，任何不经过创造性劳动想到的变化或替换，都应涵盖在本专利技术的保护范围之内。因此，本专利技术的保护范围应该以权利要求书所限定的保护范围本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.GaN高温功能试验系统，包括柜体(1)，所述柜体(1)底部四个角的位置设置柜脚(5)，其特征在于：所述柜体(1)中部设置操作台(7)，所述操作台(7)上方设置工业控制计算机(8)，所述工业控制计算机(8)上方横向并排设置开始按钮(14)、停止按钮(13)，所述工业控制计算机(8)两侧均设置烘箱(2)，所述烘箱(2)下方设置电源(4)，所述电源(4)与所述工业控制计算机(8)电性连接，所述烘箱(2)与所述电源(4)、所述工业控制计算机(8)均电性连接，所述开始按钮(14)、停止按钮(13)与所述电源(4)、所述工业控制计算机(8)均电性连接。/n

【技术特征摘要】
1.GaN高温功能试验系统，包括柜体(1)，所述柜体(1)底部四个角的位置设置柜脚(5)，其特征在于：所述柜体(1)中部设置操作台(7)，所述操作台(7)上方设置工业控制计算机(8)，所述工业控制计算机(8)上方横向并排设置开始按钮(14)、停止按钮(13)，所述工业控制计算机(8)两侧均设置烘箱(2)，所述烘箱(2)下方设置电源(4)，所述电源(4)与所述工业控制计算机(8)电性连接，所述烘箱(2)与所述电源(4)、所述工业控制计算机(8)均电性连接，所述开始按钮(14)、停止按钮(13)与所述电源(4)、所述工业控制计算机(8)均电性连接。


2.根据权利要求1所述的GaN高温功能试验系统，其特征在于，所述烘箱(2)的数量为4个，所述工业控制计算机(8)两侧分别纵向设置2个烘箱(2)。


3.根据权利要求2所述的GaN高温功能试验系统，其特征在于，同侧所述烘箱(2)之间设置测试柜(3)。


4.根据权利要求1所述的GaN高温功能试验系统，其特征在于，所述电源(4)的数量为2组，2组所述电源(4)分别设置...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡久恒，
申请(专利权)人：杭州高坤电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33