【技术实现步骤摘要】
本申请涉及测试设备技术的领域，尤其是涉及一种半导体动态测试设备。
技术介绍
1、半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，其被广泛应用于集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明应用、大功率电源转换等领域应用。
2、半导体在生产完成之后，实际应用之前，需要对其动态参数进行测试，用以排除故障半导体芯片。常用的半导体动态测试装置通常包含夹持和测试功能，装置的夹具上布置有测试触头，操作人员将半导体置于夹具上，夹具对半导体进行夹持固定，夹具上的测试触头由此与半导体一侧贴合，进而与半导体一侧的导电触点接触，半导体动态测试装置由此获取半导体产品的相关测试数据。
3、在实际的测试作业中，由于半导体的两侧均需进行测试，这就导致上述装置在使用时存在较大的不便性；操作人员将半导体放置于夹具上后，需待半导体一侧的测试结束，再将半导体取下，随后翻转半导体，以对半导体的另一侧进行测试，由此导致半导体测试效率较低。
技术实现思路
1、为了解决上述技术中存在的问题，本申请提供一种半导体
【技术保护点】
1.一种半导体动态测试设备，其特征在于：包括安装座(1)，所述安装座(1)内设置有相对设置的上吸台(2)和下吸台(3)，所述上吸台(2)和所述下吸台(3)之间设置有测试架(4)，所述测试架(4)上设置有测试触头(5)，所述测试架(4)上设置有用于控制所述测试触头(5)翻转的第一驱动件(6)，所述安装座(1)上设置有第二驱动件(7)，所述第二驱动件(7)用于驱动所述上吸台(2)和所述下吸台(3)在水平方向上沿远离或靠近所述测试架(4)的方向进行移动；所述下吸台(3)上开设有下吸孔(8)，所述下吸台(3)上设置有用以对所述下吸孔(8)抽气的第一控制件(9)，所述上吸台(2...
【技术特征摘要】
1.一种半导体动态测试设备，其特征在于：包括安装座(1)，所述安装座(1)内设置有相对设置的上吸台(2)和下吸台(3)，所述上吸台(2)和所述下吸台(3)之间设置有测试架(4)，所述测试架(4)上设置有测试触头(5)，所述测试架(4)上设置有用于控制所述测试触头(5)翻转的第一驱动件(6)，所述安装座(1)上设置有第二驱动件(7)，所述第二驱动件(7)用于驱动所述上吸台(2)和所述下吸台(3)在水平方向上沿远离或靠近所述测试架(4)的方向进行移动；所述下吸台(3)上开设有下吸孔(8)，所述下吸台(3)上设置有用以对所述下吸孔(8)抽气的第一控制件(9)，所述上吸台(2)上开设有与所述下吸台(3)相对的上吸孔(10)，所述上吸台(2)上设置有用以对所述上吸孔(10)抽气的第二控制件(11)，所述安装座(1)上设置有第三驱动件(12)，所述第三驱动件(12)用以驱动所述上吸台(2)沿远离或靠近所述下吸台(3)的方向进行移动。
2.根据权利要求1所述的一种半导体动态测试设备，其特征在于：所述安装座(1)上设置有第四驱动件(13)，所述第四驱动件(13)用以驱动所述测试架(4)在所述下吸台(3)与所述上吸台(2)之间进行上下移动。
3.根据权利要求1所述的一种半导体动态测试设备，其特征在于：所述下吸台(3)上开设有多个放置槽(14)，所述测试架(4)上设置有多个测试触头(5)，测试触头(5)的位置和数量与放置槽(14)一一对应，所述下吸孔(8)包括多个下分孔(81)，每一放置槽(14)内均开设有下分孔(81)；所述上吸台(2)上设置有多个抵接杆(15)，每一放置槽(14)上方均对应有抵接杆(15)，所述上吸孔(10)包括多个上分孔(101)，每一抵接杆(15)上均开设有上分孔(101)；所述第一控制件(9)用以对下分孔(8...
【专利技术属性】
技术研发人员：胡久恒，黄昭，
申请(专利权)人：杭州高坤电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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