用于突发发射中的数据发射偏移值的设备和方法技术

用于突发发射中的数据发射偏移值的设备和方法。实例设备可包含经配置以提供与耦合到信号线的存储器装置的接收器电路相关联的偏移值的偏移逻辑。所述偏移值是基于所述接收器电路的样本电路的个体跃迁阈值偏压的。所述实例设备可以进一步包含包括驱动器电路的输入/输出I/O电路。所述驱动器电路经配置以接收逻辑信号以及所述偏移值且以基于所述逻辑信号将输出信号提供到所述信号线并且以基于所述偏移值调整所述输出信号的电压。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于突发发射中的数据发射偏移值的设备和方法
技术介绍
当前和未来代的DRAM和SDRAM应用程序利用非常高的I/O速度。因此，时钟速度也非常高。高时钟速度可能使得对准时钟的相位和设置工作循环具有挑战性，因为针对误差的计时窗口和边界都非常窄。当校正相位差或检测工作循环误差时窄边界可引起降低的可靠性，这可造成数据在主机与存储器之间不可靠地传送。
技术实现思路
描述了实例设备。实例设备包含：工作循环校正器，其经配置以至少部分地基于内部节点的电压调整第一时钟信号的工作；以及时钟分频器，其经配置以基于第一时钟信号产生第二时钟信号和第三时钟信号。第二时钟信号和第三时钟信号中的每一个可具有与第一时钟信号相比较长的时钟循环并且第二时钟信号和第三时钟信号的相位可以彼此移位。实例设备可以进一步包含工作循环检测电路，所述工作循环检测电路包含串联耦合在电压端子与内部节点之间的第一晶体管和第二晶体管。第一晶体管可经配置以在其栅极处接收第二时钟信号，并且第二晶体管可经配置以在其栅极处接收第三时钟信号。在一些实例中，第二时钟信号和第三时钟信号在时钟循环上彼此相等。在一些实例中，工作循环检测电路进一步包含预充电电路，所述预充电电路经配置以通过不同于通过电压端子供应的电压的额外电压对内部节点进行预充电。在一些实例中，时钟分频器进一步经配置以基于第一时钟信号产生第四时钟信号和第五时钟信号。第四时钟信号和第五时钟信号中的每一个可具有与第一时钟信号相比较长的时钟循环并且第四时钟信号和第五时钟信号的相位可以彼此移位。在一些实例中，工作循环检测电路进一步包含平行于第一晶体管和第二晶体管串联耦合在电压端子与内部节点之间的第三晶体管和第四晶体管。第三晶体管可经配置以在其栅极处接收第三时钟信号，并且第四晶体管可经配置以在其栅极处接收第四时钟信号。在一些实例中，第四时钟信号和第五时钟信号在时钟循环上彼此相等。在一些实例中，第二时钟信号、第三时钟信号、第四时钟信号和第五时钟信号的相位是彼此移位的。在一些实例中，第二时钟信号的相位从第三时钟信号的相位以四分之一移位，第三时钟信号的相位从第四时钟信号的相位以四分之一移位，并且第四时钟信号的相位从第五时钟信号的相位以四分之一移位。另一实例设备可包含工作循环检测器，所述工作循环检测器经配置以接收第一时钟信号并且以基于第一时钟信号产生多个经分频时钟信号。所述多个经分频时钟信号可具有与第一时钟信号相比较长的周期。在工作循环检测操作期间，工作循环检测电路可进一步经配置以基于所述多个经分频时钟信号提供多个积分时钟信号并且以基于所述多个积分时钟信号确定工作循环误差。实例设备进一步包含工作循环校正器，所述工作循环校正器经配置以基于工作循环误差调整第一时钟信号的工作循环。在一些实例中，工作循环检测器包含工作循环检测电路，所述工作循环检测电路经配置以接收多个积分时钟信号并且以提供高工作循环信号和低工作循环信号。工作循环误差可基于高工作循环信号和低工作循环信号的值。在一些实例中，工作循环检测电路包含：第一上拉电路，其经配置以响应于多个积分时钟信号的第一积分时钟信号和第二积分时钟信号将高工作循环信号耦合到第一电压源；第二上拉电路，其经配置以响应于多个积分时钟信号的第一积分时钟信号和第三积分时钟信号将低工作循环信号耦合到第一电压源；第一下拉电路，其经配置以响应于多个积分时钟信号的第四积分时钟信号和第五积分时钟信号将高工作循环信号耦合到第二电压源；以及第二下拉电路，其经配置以响应于多个积分时钟信号的第四积分时钟信号和第六积分时钟信号将低工作循环信号耦合到第二电压源。在一些实例中，第一上拉电路包含串联耦合在第一电压源与高工作循环信号之间的第一晶体管和第二晶体管。第一晶体管可以受到第一积分时钟信号控制并且第二晶体管可以受到第二积分时钟信号控制。在一些实例中，第一上拉电路进一步包含串联耦合在第一电压源与高工作循环信号之间的第三电晶体和第四晶体管。第三晶体管可以受到第二积分时钟信号控制并且第四晶体管可以受到第一积分时钟信号控制。在一些实例中，第一下拉电路包含串联耦合在第二电压源与高工作循环信号之间的第三晶体管和第四晶体管。第三晶体管可以受到第四积分时钟信号控制并且第四晶体管可以受到第五积分时钟信号控制。在一些实例中，工作循环检测电路包含积分时钟产生器，所述积分时钟产生器经配置以在工作循环检测操作期间提供积分时钟信号。在一些实例中，积分时钟产生器经配置以响应于指示工作循环检测操作的启用窗口信号提供积分时钟信号。描述了实例方法。实例方法可包含：基于第一时钟信号提供多个经分频时钟信号；基于所述多个经分频时钟信号确定第一时钟信号的工作循环误差；以及基于所述工作循环误差调整第一时钟信号的工作循环。所述多个经分频时钟信号可具有与第一时钟信号相比较长的周期。在一些实例中，基于所述多个经分频时钟信号确定第一时钟信号的工作循环误差可以响应于指示工作循环检测操作的启用窗口信号。在一些实例中，基于所述多个经分频时钟信号确定第一时钟信号的工作循环误差包含：基于从所述多个经分频时钟信号产生的积分时钟信号的集合设置高工作循环信号值；基于积分时钟信号的集合设置低工作循环信号值；以及确定设置高工作循环信号的时间与设置低工作循环信号的时间的比率，其中工作循环误差是基于所述比率的。在一些实例中，实例方法可以进一步包含在设置高工作循环信号和设置低工作循环信号之前对高工作循环信号和低工作循环信号进行预充电。在一些实例中，基于积分时钟信号的集合设置高工作循环信号值可包含使用积分时钟信号的集合控制上拉和下拉电路。附图说明图1说明了根据本专利技术的实施例的半导体装置的示意性框图。图2说明了根据本专利技术的实施例的延迟锁定环路(DLL)和工作循环校正(DCC)电路的示意性框图。图3说明了根据本专利技术的实施例的工作循环检测器。图4A和4B一起说明了根据本专利技术的实施例的积分时钟产生器电路。图5说明了根据本专利技术的实施例的工作循环检测电路。图6A到6C是根据本专利技术的实施例的用于使用经分频时钟信号确定工作循环误差的示例性时序图。具体实施方式下文阐述某些细节以提供对本专利技术的实施例的充分理解。然而，所属领域的技术人员将明白，可在没有这些特定细节的情况下实践本专利技术的实施例。此外，本文中所描述的本专利技术的特定实施例是借助于实例提供，且不应用于将本专利技术的范围限制于这些特定实施例。图1说明了根据本专利技术的实施例的半导体装置100的示意性框图。半导体装置100包含存储器裸片。存储器裸片可包含命令/地址输入电路105、地址解码器110、命令解码器115、时钟输入电路120、内部时钟产生器130、行解码器140、列解码器145、存储器阵列150、读取/写入放大器155、I/O电路160，以及功率电路170。在一些实施例中，半导体装置100可包含但不限于例如集成到单个半导体芯片中的动态随机存取存储器(DRAM)装置，例如双数据速率(DDR)DDR4、DDR5、低功率(LP)DDR。裸片可安装在外部衬底上，例如，安装在存储器模块衬底、母板或类似者上。半导体装置100可进一步包本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种设备，其包括：/n工作循环校正器，其经配置以至少部分地基于内部节点的电压调整第一时钟信号的工作；以及/n时钟分频器，其经配置以基于所述第一时钟信号产生第二时钟信号以及第三时钟信号，所述第二时钟信号以及所述第三时钟信号中的每一个具有与所述第一时钟信号相比较长的时钟循环并且所述第二时钟信号以及所述第三时钟信号的相位彼此移位；/n工作循环检测电路，其包含串联耦合在电压端子与所述内部节点之间的第一晶体管以及第二晶体管，所述第一晶体管经配置以在其栅极处接收所述第二时钟信号并且所述第二晶体管经配置以在其栅极处接收所述第三时钟信号。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20171212 US 15/839,5311.一种设备，其包括：
工作循环校正器，其经配置以至少部分地基于内部节点的电压调整第一时钟信号的工作；以及
时钟分频器，其经配置以基于所述第一时钟信号产生第二时钟信号以及第三时钟信号，所述第二时钟信号以及所述第三时钟信号中的每一个具有与所述第一时钟信号相比较长的时钟循环并且所述第二时钟信号以及所述第三时钟信号的相位彼此移位；
工作循环检测电路，其包含串联耦合在电压端子与所述内部节点之间的第一晶体管以及第二晶体管，所述第一晶体管经配置以在其栅极处接收所述第二时钟信号并且所述第二晶体管经配置以在其栅极处接收所述第三时钟信号。


2.根据权利要求1所述的设备，其中所述第二时钟信号以及所述第三时钟信号在时钟循环上彼此相等。


3.根据权利要求1所述的设备，其中所述工作循环检测电路进一步包含预充电电路，所述预充电电路经配置以通过不同于通过所述电压端子供应的电压的额外电压对所述内部节点进行预充电。


4.根据权利要求1所述的设备，其中所述时钟分频器进一步经配置以基于所述第一时钟信号产生第四时钟信号以及第五时钟信号，所述第四时钟信号以及所述第五时钟信号中的每一个与所述第一时钟信号相比具有较长时钟循环并且所述第四时钟信号以及所述第五时钟信号的相位彼此移位；以及，
其中所述工作循环检测电路进一步包含平行于所述第一晶体管以及所述第二晶体管串联耦合在所述电压端子与所述内部节点之间的第三晶体管以及第四晶体管，所述第三晶体管经配置以在其栅极处接收所述第三时钟信号并且所述第四晶体管经配置以在其栅极处接收所述第四时钟信号。


5.根据权利要求4所述的设备，其中所述第四时钟信号以及所述第五时钟信号在时钟循环上彼此相等。


6.根据权利要求5所述的设备，其中所述第二时钟信号、所述第三时钟信号、所述第四时钟信号以及所述第五时钟信号的相位是彼此移位的。


7.根据权利要求6所述的设备，其中所述第二时钟信号的所述相位从所述第三时钟信号的所述相位以四分之一移位，所述第三时钟信号的所述相位从所述第四时钟信号的所述相位以四分之一移位，并且所述第四时钟信号的所述相位从所述第五时钟信号的所述相位以四分之一移位。


8.一种设备，其包括：
工作循环检测器，其经配置以接收第一时钟信号并且以基于所述第一时钟信号产生多个经分频时钟信号，其中所述多个经分频时钟信号具有与所述第一时钟信号相比较长的周期，其中在工作循环检测操作期间，所述工作循环检测电路进一步经配置以基于所述多个经分频时钟信号提供多个积分时钟信号并且以基于所述多个积分时钟信号确定工作循环误差；以及
工作循环校正器，其经配置以基于所述工作循环误差调整所述第一时钟信号的工作循环。


9.根据权利要求8所述的设备，其中所述工作循环检测器包含工作循环检测电路，所述工作循环检测电路经配置以接收所述多个积分时钟信号并且以提供高工作循环信号以及低工作循环信号，其中所述工作循环误差是基于所述高工作循环信号以及所述低工作循环信号的值的。


10.根据权利要求9所述的设备，其中所述工作循环检测电路包括：
第一上拉电...

【专利技术属性】
技术研发人员：佐藤康夫，宫野和孝，
申请(专利权)人：美光科技公司，
类型：发明
国别省市：美国;US