电阻网络的测试文件生成方法、装置及电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种电阻网络的测试文件生成方法、装置及电子设备，获取待测元件后，通过飞针设备及图像采集设备获取待测点的几何坐标信息；并根据几何坐标信息及预先获取的测试点的网络关系，生成待测元件的测试文件。本发明专利技术能够获取结构复杂或无法得到原理图的待测元件的测试文件，从而实现通过飞针设备对待测元件的电阻网络的测试。

【技术实现步骤摘要】
电阻网络的测试文件生成方法、装置及电子设备
本专利技术涉及电子电路
，尤其是涉及一种电阻网络的测试文件生成方法、装置及电子设备。
技术介绍
飞针设备(也称为测试机)用来测试电路板或其他电子元件的电阻网络，主要测试线路板的绝缘和导通值。相关技术中，通常基于待测元件的电路图等原理图生成飞针设备在测试过程中需要用到的测试文件，然而，由于某些待测元件的结构复杂，或在难以获取到待测元件的原理图的情况下，无法通过上述方式得到测试文件，从而无法通过飞针设备对其电阻网络进行测试。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种电阻网络的测试文件生成方法、装置及电子设备，以获取结构复杂的待测元件的测试文件，从而实现通过飞针设备对待测元件的电阻网络的测试。第一方面，本专利技术实施例提供了一种电阻网络的测试文件生成方法，包括：获取待测元件；待测元件包括设定数量的待测点；通过飞针设备及图像采集设备获取待测点的几何坐标信息；根据几何坐标信息及预先获取的测试点的网络关系，生成待测元件的测试文件。结合第一方面，本专利技术实施例提供了第一方面的第一种可能的实施方式，其中，上述图像采集设备包括基于电荷耦合元件的摄像头；摄像头用于采集图像；上述飞针设备包括测针及电机；电机用于带动测针移动；摄像头固定在测针上；几何坐标信息包括坐标信息及几何形状信息；通过飞针设备及图像采集设备获取待测点的几何坐标信息的步骤，包括：通过电机带动测针移动，使得摄像头采集的图像中心与待测点的几何中心重合；通过测针与预设的基准点之间的X方向移动步距及Y方向移动步距确定待测点的坐标信息；记录待测点在摄像头采集的图像上的几何图像；通过几何图像及预先获取的像素脉冲比值，得到所述待测点的几何形状信息。结合第一方面的第一种可能的实施方式，本专利技术实施例提供了第一方面的第二种可能的实施方式，其中，上述方法还包括：通过电机带动测针及摄像头在X方向及Y方向移动设定的步距，记录摄像头采集的图像中心移动的像素值；通过像素值及步距，计算像素脉冲比值。结合第一方面的第一种可能的实施方式，本专利技术实施例提供了第一方面的第三种可能的实施方式，其中，上述网络关系包括待测元件中，每两个测试点之间的连接关系；上述连接关系包括导通或绝缘；根据几何坐标信息及预先获取的测试点的网络关系，生成待测元件的测试文件的步骤，包括：按照预设的测试文件格式，将测试点的坐标信息、几何形状信息及各个测试点的连接关系保存为待测元件的测试文件。第二方面，本专利技术实施例还提供一种电阻网络的测试文件生成装置，包括：元件获取模块，用于获取待测元件；待测元件包括设定数量的待测点；信息获取模块，用于通过飞针设备及图像采集设备获取待测点的几何形状信息；测试文件生成模块，用于根据几何形状信息及预先获取的测试点的网络关系，生成待测元件的测试文件。结合第二方面，本专利技术实施例提供了第二方面的第一种可能的实施方式，其中，上述图像采集设备包括基于电荷耦合元件的摄像头；摄像头用于采集图像；飞针设备包括测针及电机；电机用于带动测针移动；摄像头固定在测针上；几何坐标信息包括坐标信息及几何形状信息；上述信息获取模块还用于：通过电机带动测针移动，使得摄像头采集的图像中心与待测点的几何中心重合；通过测针与预设的基准点之间的X方向移动步距及Y方向移动步距确定待测点的坐标信息；记录待测点在摄像头采集的图像上的几何图像；通过几何图像及预先获取的像素脉冲比值，得到所述待测点的几何形状信息。结合第二方面的第一种可能的实施方式，本专利技术实施例提供了第二方面的第二种可能的实施方式，其中，上述装置还包括：步距移动模块，用于通过电机带动测针及摄像头在X方向及Y方向移动设定的步距，记录摄像头采集的图像中心移动的像素值；像素脉冲比值计算模块，通过像素值及步距，计算像素脉冲比值。结合第二方面的第一种可能的实施方式，本专利技术实施例提供了第二方面的第三种可能的实施方式，其中，上述网络关系包括待测元件中，每两个测试点之间的连接关系；上述连接关系包括导通或绝缘；上述测试文件生成模块还用于：按照预设的测试文件格式，将测试点的坐标信息、几何形状信息及各个测试点的连接关系保存为待测元件的测试文件。第三方面，本专利技术实施例还提供一种电子设备，包括存储器、处理器，存储器中存储有可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现上述电阻网络的测试文件生成方法。第四方面，本专利技术实施例还提供一种机器可读存储介质，机器可读存储介质存储有机器可执行指令，机器可执行指令在被处理器调用和执行时，机器可执行指令促使处理器实现上述电阻网络的测试文件生成方法。本专利技术实施例带来了以下有益效果：本专利技术实施例提供了一种电阻网络的测试文件生成方法、装置及电子设备，获取待测元件后，通过飞针设备及图像采集设备获取待测点的几何坐标信息；并根据几何坐标信息及预先获取的测试点的网络关系，生成待测元件的测试文件。该方式能够获取结构复杂或无法得到原理图的待测元件的测试文件，从而实现通过飞针设备对待测元件的电阻网络的测试。本专利技术的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，或者，部分特征和优点可以从说明书推知或毫无疑义地确定，或者通过实施本专利技术的上述技术即可得知。为使本专利技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施方式，并配合所附附图，作详细说明如下。附图说明为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的一种电阻网络的测试文件生成方法的流程图；图2为本专利技术实施例提供的另一种电阻网络的测试文件生成方法的流程图；图3为本专利技术实施例提供的一种立体连接器在线测试文件编辑方法的流程图；图4为本专利技术实施例提供的另一种电阻网络的测试文件生成装置的结构示意图；图5为本专利技术实施例提供的一种电子设备的结构示意图。具体实施方式下面将结合实施例对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。相关技术中，通常基于待测元件的电路图等原理图生成飞针设备在测试过程中需要用到的测试文件，然而，由于某些待测元件的结构复杂；如立体连接器等，立体连接器是一种陶瓷多层立体电路基板，其上的焊盘引脚分布于不同高度的平面上，焊盘引脚用于电子器件之间的电路连接。当将立体连接器作为待测元件时，其焊盘引脚即为待测点；基于立体连接器的电路连接功能，其焊盘引脚之间的连接关系是确定的，可以通过飞针设备对其焊盘引脚之间的连接关系进行测试。然而，由于立体连接器的结构的复杂，其测试文件难以通过其原理图获取到。基于此，本专利技术实施例提供了一种电阻网络的测试文件生成方法本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电阻网络的测试文件生成方法，其特征在于，包括：/n获取待测元件；所述待测元件包括设定数量的待测点；/n通过飞针设备及图像采集设备获取所述待测点的几何坐标信息；/n根据所述几何坐标信息及预先获取的测试点的网络关系，生成所述待测元件的测试文件。/n

【技术特征摘要】
1.一种电阻网络的测试文件生成方法，其特征在于，包括：
获取待测元件；所述待测元件包括设定数量的待测点；
通过飞针设备及图像采集设备获取所述待测点的几何坐标信息；
根据所述几何坐标信息及预先获取的测试点的网络关系，生成所述待测元件的测试文件。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述图像采集设备包括基于电荷耦合元件的摄像头；所述摄像头用于采集图像；
所述飞针设备包括测针及电机；所述电机用于带动所述测针移动；所述摄像头固定在所述测针上；所述几何坐标信息包括坐标信息及几何形状信息；
通过飞针设备及图像采集设备获取所述待测点的几何坐标信息的步骤，包括：
通过所述电机带动所述测针移动，使得所述摄像头采集的图像中心与所述待测点的几何中心重合；
通过所述测针与预设的基准点之间的X方向移动步距及Y方向移动步距确定待测点的坐标信息；
记录所述待测点在所述摄像头采集的图像上的几何图像；
通过所述几何图像及预先获取的像素脉冲比值，得到所述待测点的几何形状信息。


3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
通过所述电机带动所述测针及所述摄像头在X方向及Y方向移动设定的步距，记录所述摄像头采集的图像中心移动的像素值；
通过所述像素值及所述步距，计算像素脉冲比值。


4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述网络关系包括所述待测元件中，每两个测试点之间的连接关系；所述连接关系包括导通或绝缘；
根据所述几何坐标信息及预先获取的测试点的网络关系，生成所述待测元件的测试文件的步骤，包括：
按照预设的测试文件格式，将所述测试点的坐标信息、几何形状信息及各个测试点的连接关系保存为待测元件的测试文件。


5.一种电阻网络的测试文件生成装置，其特征在于，包括：
元件获取模块，用于获取待测元件；所述待测元件包括设定数量的待测点；
信息获取模块，用于通过飞针设备及图像采集设备获...

【专利技术属性】
技术研发人员：左宁，党景涛，高慧莹，
申请(专利权)人：北京半导体专用设备研究所中国电子科技集团公司第四十五研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11