一种功率晶体管的老化装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种功率晶体管的老化装置，属于晶体管老化技术领域，包括壳体、老化机构、承托机构和温度控制机构，壳体内设有老化腔，壳体的前端设有箱门，老化机构包括固定板和分隔板，分隔板呈水平设置在老化腔内且分隔板的中部设有连接孔，固定板位于连接孔处且固定板的前端与分隔板的下端铰接，固定板的上端设有电路板，固定板的下端设有若干个晶体管老化测试座，所有晶体管老化测试座均与电路板电性连接。本实用新型专利技术通过温度控制机构、加湿喷头和作动器的配合工作能够改变晶体管老化的环境，能够对晶体管进行高温存储、高低温冲击、高温功率老化、机械震动、湿热检测，本实用新型专利技术对晶体管的老化检测更加全面，且方便操作。

An aging device for power transistors

【技术实现步骤摘要】
一种功率晶体管的老化装置
本技术涉及晶体管老化
，尤其是涉及一种功率晶体管的老化装置。
技术介绍
晶体管的老化是使晶体管处于饱和的工作状态下，并相应的改变环境条件，使得晶体管存在的缺陷被放大暴露出来，从而将不良的晶体管淘汰掉。中国专利号为CN201821282242.4公布了晶体管物理老化测试设备，包括检测槽，所述检测槽的外壁上固定有电源机构，所述检测槽的上侧壁固定连接有L型杆，所述L型杆远离检测槽的一端下侧壁固定有伸缩杆，所述伸缩杆的驱动端竖直向下固定连接有隔热板，所述隔热板的下侧壁粘接有安装板，所述安装板的下侧壁开设有多个与晶体管过盈配合的插口，每个所述插口内均倒装有晶体管，每个所述晶体管的连接端均延伸至隔热板的上侧，所述检测槽的内部设有加热机构，所述检测槽的外壁上设有测试装置。本技术通过对晶体管在高温环境中的电流、电压和功率的变化进行检测分析，加温和检测同步进行，检测过程更加简便，结果更加准确。但是，上述专利在使用时还存在以下的不足之处。第一，上述专利只能通过升高温度检测晶体管在高温下的工作状态，但是，晶体管在军工业本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种功率晶体管的老化装置，其特征在于：包括壳体(1)、老化机构(2)、承托机构(3)和温度控制机构(4)，所述壳体(1)内设有老化腔(5)，所述壳体(1)的前端设有箱门(6)，所述老化机构(2)和承托机构(3)分别安装在老化腔(5)的上端和下端，所述温度控制机构(4)设置在壳体(1)的后部且温度控制机构(4)与老化腔(5)连通，所述老化机构(2)包括固定板(21)和分隔板(22)，所述分隔板(22)呈水平设置在老化腔(5)内且分隔板(22)的中部设有连接孔(23)，所述固定板(21)位于连接孔(23)处且固定板(21)的前端与分隔板(22)的下端铰接，所述固定板(21)的上端设有电路板(2...

【技术特征摘要】
1.一种功率晶体管的老化装置，其特征在于：包括壳体(1)、老化机构(2)、承托机构(3)和温度控制机构(4)，所述壳体(1)内设有老化腔(5)，所述壳体(1)的前端设有箱门(6)，所述老化机构(2)和承托机构(3)分别安装在老化腔(5)的上端和下端，所述温度控制机构(4)设置在壳体(1)的后部且温度控制机构(4)与老化腔(5)连通，所述老化机构(2)包括固定板(21)和分隔板(22)，所述分隔板(22)呈水平设置在老化腔(5)内且分隔板(22)的中部设有连接孔(23)，所述固定板(21)位于连接孔(23)处且固定板(21)的前端与分隔板(22)的下端铰接，所述固定板(21)的上端设有电路板(24)，所述固定板(21)的下端设有若干个呈矩阵分布的晶体管老化测试座(25)，所有晶体管老化测试座(25)均与电路板(24)电性连接。


2.根据权利要求1所述的一种功率晶体管的老化装置，其特征在于：所述壳体(1)的内侧壁上设有卡槽(7)，所述分隔板(22)与卡槽(7)卡接配合，所述卡槽(7)内位于分隔板(22)的上下两端均设有减震垫(8)，所述分隔板(22)的上端设有固定支架(9)，所述老化腔(5)的顶部设有与壳体(1)固定连接的作动器(10)，所述作动器(10)的输出端与固定支架(9)的上端固定连接。


3.根据权利要求1所述的一种功率晶体管的老化装置，其特征在于：所述固定板(21)的上端设有与连接孔(23)相配合的密封条(11)。


4.根据权利要求1所述的一种功率晶体管的老化装置，其特征在于：所述承托机构(3)包括承托板(31)、两个驱动杆(32)和四个导杆，四个所述导杆均呈竖直设置在老化腔(5)内，所述承托板(31)上设有四个与导杆滑动配合的导孔，两个驱动杆(32)呈竖直设置在老化腔(5)的两侧，且两个驱...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄峰荣，张玉凡，曾绍娟，
申请(专利权)人：遂宁合芯半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：四川;51