探针检测装置制造方法及图纸

一种探针检测装置，包含一固定单元、二个致动器，及一探针单元。所述固定单元包括一底座，及一与所述底座连接的摆动臂，所述二个致动器设置于所述底座与所述摆动臂间，所述探针单元包括一与所述摆动臂连接的探针座，及多个设置于所述探针座上的探针，所述摆动臂受所述二个致动器的作动顶撑以连动所述探针座，使多个探针上下往复位移，以对一电子组件进行检测。

Probe detection device

【技术实现步骤摘要】
探针检测装置
本技术是有关一种检测装置，特别是指一种对电子组件进行检测的探针检测装置。
技术介绍
为了确保电子产品出厂的质量，电子组件于制造、组装及出厂前，会因各制程步骤间无法避免的原因产生缺陷，为维持质量的稳定性，需针对所生产的电子组件进行缺陷检测，并根据检测的结果分析造成这些缺陷的原因以进一步掌握，进而达到提升电子组件制程良率以及可靠度的目的。进行待测的电子组件的电性检测时，电子组件会连接至量测装置，以将驱动信号产生的回馈信号传送至量测的装置。以四线式量测来说，需在每一待测物的两端各接触二支探针，共四支探针，目前四端点感测是以个别独立的四个线轨来带动四个探针，以连接待测物进行量测，实际使用时，所述量测装置是透过一连接单元装设于进行检测的机台上，以带动探针作动进行检测，而所述连接单元装设有一致动器带动探针，且所述致动器的一侧设置有一弹性组件(如：弹簧)，使所述致动器的电磁吸附及松放，通过所述弹性组件的压缩及回复，进行上下位移而使所述测片向外凸伸或回缩位移。目前虽可透过所述弹性组件的压迫力，进行电性检测，但一段时间后所述弹性组件易有弹性疲乏的困扰，而改变所述弹性组件的反应时间，如此恐将影响业者的生产程序，且大幅降低了所述量测装置的效率，同时更将间接影响电性量测的结果，造成准确率的疑虑。上述缺点都显现现有电子组件在进行检测过程所衍生的种种问题，因此，如何提高电子组件的检测效率及生产质量，为各方所面临与重视的课题，因此现有技术确实有待提出更佳解决方案的必要性。
技术实现思路
有鉴于此，本技术的目的，是提供一种探针检测装置，包含一固定单元、二个致动器，及一探针单元。所述固定单元包括一底座，及一与所述底座连接的摆动臂，所述二个致动器设置于所述底座与所述摆动臂间，所述探针单元包括一与所述摆动臂连接的探针座，及多个设置于所述探针座上的探针，所述摆动臂受所述二个致动器的作动顶撑以连动所述探针座，使多个探针上下往复位移，以对一电子组件进行检测。本技术的另一技术手段，是在于上述的底座具有一本体，及一位于所述本体中心处并与所述摆动臂连接的中心臂。本技术的又一技术手段，是在于上述的摆动臂具有一靠近所述探针座的第一端，及一远离所述探针座的第二端，所述二个致动器是分设于所述第一端、第二端上。本技术的再一技术手段，是在于上述的探针座具有一靠近所述摆动臂的凹设的联接部，用以与所述摆动臂固接在一起。本技术的另一技术手段，是在于上述的致动器为一电磁阀，且所述电磁阀的输出电压为6V。本技术的又一技术手段，是在于上述的二个致动器的吸附力量相同，且所述二个致动器为交错作动。本技术的再一技术手段，是在于上述的探针单元还包括一与所述底座一侧连接的探针架，所述多个探针会自所述探针架向外凸伸，以触抵所述电子组件进行检测作业。本技术的另一目的，是提供一种探针检测装置，包含一固定单元、二个致动器，及一探针单元。所述固定单元包括一底座，及一与所述底座连接的摆动臂，所述二个致动器设置于所述底座与所述摆动臂间，其中，所述二个致动器的吸附力量相同，而所述二个致动器为交错作动，所述探针单元包括一与所述摆动臂连接的探针座，及多个设置于所述探针座上的探针，所述摆动臂受所述二个致动器的作动向外顶撑，连动所述探针座使多个探针上下往复位移，以对一电子组件进行检测。本技术的有益功效在于，通过所述摆动臂的第一端、第二端如同跷跷板般轮流上、下顶翘的往复摆动，以对所述电子组件进行电性检测，除了得以优化利用弹簧作为带动探针所衍生的弹性疲乏的困扰外，且所述二个致动器的吸附力量相同，所以不会因接触不良而影响量测结果，而可提升检测的准确性，再者，位于所述第一端、第二端上的二个致动器可瞬间放电的特性，更可加快检测效率与提升市场竞争力。附图说明图1是一侧视示意图，说明本技术探针检测装置的较佳实施例；图2是一侧视示意图，说明上述较佳实施例于一检测位置的态样；图3是一侧视示意图，说明上述较佳实施例于一回缩位置的态样。附图标记说明：1-固定单元；11-底座；111-本体；112-中心臂；12-摆动臂；121-第一端；122-第二端；2-致动器；3-探针单元；31-探针座；311-联接部；32-探针；33-探针架；A-检测位置；B-回缩位置；C-电子组件。具体实施方式有关本技术的相关申请专利特色与
技术实现思路
，在以下配合参考图式的较佳实施例的详细说明中，将可清楚的呈现。参阅图1，为本技术探针检测装置的较佳实施例，其包含一固定单元1、二个致动器2，及一探针单元3，于此所述探针检测装置是装设于检测机台的下表面，以对一电子组件C进行电性检测，而所述电子组件C会自图1所标示的箭头方向输送到所述探针单元3上方。所述固定单元1包括一底座11，及一与所述底座11连接的摆动臂12，其中，所述底座11具有一本体111，及一位于所述本体111中心处并与所述摆动臂12连接的中心臂112，而所述摆动臂12具有一第一端121，及一相反的第二端122。所述二个致动器2设置于所述底座11与所述摆动臂12间，且所述二个致动器2是分设于所述第一端121、第二端122上。再者，所述致动器2为一电磁阀，且所述电磁阀的输出电压为6V，所述二个致动器2的吸附力量相同，且所述二个致动器2为一吸一放的交错作动。所述探针单元3包括一与所述摆动臂12连接的探针座31，及多个设置于所述探针座31上的探针32，所述摆动臂12受所述二个致动器2的作动顶撑以连动所述探针座31，使多个探针32上下往复位移，以对所述电子组件C进行检测。其中，所述摆动臂12的第一端121是靠近所述探针座31设置，而所述摆动臂12的第二端122则是远离所述探针座31设置。进一步地，所述探针座31具有一靠近所述摆动臂12的第一端121凹设的联接部311，用以与所述摆动臂12的第一端121固接在一起。另外，所述探针单元3还包括一与所述底座11的本体111一侧连接的探针架33，所述多个探针32会自所述探针架33向外凸伸，以触抵所述电子组件C进行检测作业。配合参阅图2、3，实际实施时，所述多个探针32可相对所述探针架33在一检测位置A及一回缩位置B间移动，当所述多个探针32位于所述检测位置A时，位于所述第一端121上的致动器2作动，同时吸附所述摆动臂12的第一端121向上顶翘，进而连动与所述第一端121连接的探针座31向上顶翘，以令设置于所述探针座31上的探针32向上凸伸，而检测位于所述探针32上的电子组件C。反之，当所述多个探针位于所述回缩位置B时，位于所述第一端121上的致动器2不作动，改由位于所述第二端122上的致动器2作动，以吸附所述摆动臂12的第二端122向上顶翘，进而连动与所述第一端121连接的探针座31向下复位，以令设置于所述探针座31上的探针32向下回缩，即为完成所述探针32上的电子组件C的检测。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种探针检测装置，其特征在于，包含：/n一固定单元，包括一底座，及一与所述底座连接的摆动臂；/n二个设置于所述底座与所述摆动臂间的致动器；及/n一探针单元，包括一与所述摆动臂连接的探针座，及多个设置于所述探针座上的探针，所述摆动臂受二个致动器的作动顶撑以连动所述探针座，使多个探针上下往复位移，以对一电子组件进行检测。/n

【技术特征摘要】
20190423 TW 1082050001.一种探针检测装置，其特征在于，包含：
一固定单元，包括一底座，及一与所述底座连接的摆动臂；
二个设置于所述底座与所述摆动臂间的致动器；及
一探针单元，包括一与所述摆动臂连接的探针座，及多个设置于所述探针座上的探针，所述摆动臂受二个致动器的作动顶撑以连动所述探针座，使多个探针上下往复位移，以对一电子组件进行检测。


2.根据权利要求1所述的探针检测装置，其特征在于，所述底座具有一本体，及一位于所述本体中心处并与所述摆动臂连接的中心臂。


3.根据权利要求1所述的探针检测装置，其特征在于，所述摆动臂具有一靠近所述探针座的第一端，及一远离所述探针座的第二端，所述二个致动器是分设于所述第一端、第二端上。


4.根据权利要求1所述的探针检测装置，其特征在于，所述探针座具有一靠近所述摆动臂的凹设的联接部，用以与所述摆动臂...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐雅雯，
申请(专利权)人：徐雅雯，
类型：新型
国别省市：中国台湾;71