检查单元制造技术

本发明专利技术涉及检查单元，检查单元具有：插座，具有沿第1方向排列配置的一对收纳部，一对收纳部被配置成关于设置于第1方向的中间且与第1方向交叉的假想平面对称；多个板状的探针，分别收纳于一对收纳部的各个收纳部，探针具有：弹性部，沿着与第1方向交叉的长度方向伸缩；第1接触部，配置于长度方向的一端；第2接触部，配置于长度方向的另一端，弹性部具有沿着第1方向延伸的多个延伸部以及与相邻的延伸部连接的至少一个弯曲部，与第1接触部的第1方向的一端相比，弹性部在第1方向上配置于第1接触部的第1方向的另一端侧，在探针分别收纳于一对收纳部的各个收纳部的状态下，第1接触部的一端被配置成比第1接触部的另一端更接近假想平面。

Inspection unit

【技术实现步骤摘要】
检查单元本专利技术专利申请是专利技术名称为“探针”、国际申请日为2017年3月14日、国际申请号为“PCT/JP2017/010191”、国家申请号为“201780002574.4”的专利技术专利申请的分案申请。
本专利技术涉及检查单元。
技术介绍
在照相机或液晶面板等电子部件模块中，一般来讲，在其制造工序中进行导通检查和动作特性检查等。使用探针将FPC接触电极或所安装的基板对基板连接器等的电极部与检查装置连接，由此进行这些检查，其中，该FPC接触电极用于与在电子部件模块中设置的主体基板连接。作为这种探针，例如存在专利文献1中记载的探针。该探针由在长度方向上伸缩的弹性部以及在该弹性部的长度方向的两端分别设置的1个触点部构成。现有技术文献专利文献专利文献1：日本特开2008-516398号公报
技术实现思路
专利技术要解决的问题但是，在所述探针中，由于通过1个触点部使检查对象物和检查装置接触，因此，例如在检查对象物的端子是基板对基板连接器的凸侧的连接器等的凸触点的情况下，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检查单元，该检查单元具有：/n插座，其具有沿第1方向排列配置的一对收纳部，该一对收纳部被配置成关于设置于所述第1方向的中间且与所述第1方向交叉的假想平面对称；以及/n多个板状的探针，它们分别收纳于所述一对收纳部的各个收纳部，/n所述探针具有：/n弹性部，其沿着与所述第1方向交叉的长度方向伸缩；/n第1接触部，其配置于所述长度方向的一端；以及/n第2接触部，其配置于所述长度方向的另一端，/n所述弹性部具有沿着所述第1方向延伸的多个延伸部以及与相邻的所述延伸部连接的至少一个弯曲部，与所述第1接触部的所述第1方向的一端相比，所述弹性部在所述第1方向上配置于所述第1接触部的所述第1方向的另一端...

【技术特征摘要】
20160617 JP 2016-1211501.一种检查单元，该检查单元具有：
插座，其具有沿第1方向排列配置的一对收纳部，该一对收纳部被配置成关于设置于所述第1方向的中间且与所述第1方向交叉的假想平面对称；以及
多个板状的探针，它们分别收纳于所述一对收纳部的各个收纳部，
所述探针具有：
弹性部，其沿着与所述第1方向交叉的长度方向伸缩；
第1接触部，其配置于所述长度方向的一端；以及
第2接触部，其配置于所述长度方向的另一端，
所述弹性部具有沿着所述第1方向延伸的多个延伸部以及与相邻的所述延伸部连接的至少一个弯曲部，与所述第1接触部的所述第1方向的一端相比，所述弹性部在所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：寺西宏真，酒井贵浩，
申请(专利权)人：欧姆龙株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP