探针制造技术

本发明专利技术涉及探针，该探针具有：弹性部，其沿着第1方向伸缩；第1接触部，其配置在所述弹性部的所述第1方向的一端，并且具有第1脚部和第2脚部，该第1脚部和第2脚部分别沿着所述第1方向延伸，并且在所述第1方向的离所述弹性部远的端部分别设置有能够与检查对象物的凸触点接触的第1触点部；以及第2接触部，其配置在所述弹性部的所述第1方向的另一端，并且与所述第1接触部电连接，至少所述第1脚部的所述第1触点部具有使接触到的所述凸触点滑动着移动的倾斜面，所述第1脚部的所述第1方向的长度使得所述凸触点能够同时接触到所述倾斜面和所述第2脚部的所述第1方向的前端。

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【技术实现步骤摘要】
探针本专利技术专利申请是专利技术名称为“探针”、国际申请日为2017年3月14日、国际申请号为“PCT/JP2017/010191”、国家申请号为“201780002574.4”的专利技术专利申请的分案申请。
本专利技术涉及探针。
技术介绍
在照相机或液晶面板等电子部件模块中，一般来讲，在其制造工序中进行导通检查和动作特性检查等。使用探针将FPC接触电极或所安装的基板对基板连接器等的电极部与检查装置连接，由此进行这些检查，其中，该FPC接触电极用于与在电子部件模块中设置的主体基板连接。作为这种探针，例如存在专利文献1中记载的探针。该探针由在长度方向上伸缩的弹性部以及在该弹性部的长度方向的两端分别设置的1个触点部构成。现有技术文献专利文献专利文献1：日本特开2008-516398号公报
技术实现思路
专利技术要解决的问题但是，在所述探针中，由于通过1个触点部使检查对象物和检查装置接触，因此，例如在检查对象物的端子是基板对基板连接器的凸侧的连接器等的凸触点的情况下，无法将探本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种探针，该探针具有：/n弹性部，其沿着第1方向伸缩；/n第1接触部，其配置在所述弹性部的所述第1方向的一端，并且具有第1脚部和第2脚部，该第1脚部和第2脚部分别沿着所述第1方向延伸，并且在所述第1方向的离所述弹性部远的端部分别设置有能够与检查对象物的凸触点接触的第1触点部；以及/n第2接触部，其配置在所述弹性部的所述第1方向的另一端，并且与所述第1接触部电连接，/n至少所述第1脚部的所述第1触点部具有使接触到的所述凸触点滑动着移动的倾斜面，/n所述第1脚部的所述第1方向的长度使得所述凸触点能够同时接触到所述倾斜面和所述第2脚部的所述第1方向的前端。/n

【技术特征摘要】
20160617 JP 2016-1211501.一种探针，该探针具有：
弹性部，其沿着第1方向伸缩；
第1接触部，其配置在所述弹性部的所述第1方向的一端，并且具有第1脚部和第2脚部，该第1脚部和第2脚部分别沿着所述第1方向延伸，并且在所述第1方向的离所述弹性部远的端部分别设置有能够与检查对象物的凸触点接触的第1触点部；以及
第2接触部，其配置在所述弹性部的所述第1方向的另一端，并且与所述第1接触部电连接，
至少所述第1脚部的所述第1触点部具有使接触到的所述凸触点滑动着移动的倾斜面，
所述第1脚部的所述第1方向的长度使得所述凸触点能够同时接触到所述倾斜面和所述第2脚部的所述第1方向的前端。


2.一种探针，该探针具有：
弹性部，其沿着第1方向伸缩；
第1接触部，其配置在所述弹性部的所述第1方向的一端，并且具有第1脚部和第2脚部，该第1脚部和第...

【专利技术属性】
技术研发人员：寺西宏真，酒井贵浩，
申请(专利权)人：欧姆龙株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP