探针、检查单元以及检查装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及探针、检查单元以及检查装置，探针具有：弹性部，沿着第1方向伸缩；第1接触部，配置于弹性部的第1方向的一端；第2接触部，配置于弹性部的第1方向的另一端，与第1接触部的第2方向的一端相比，弹性部在第2方向上配置于第1接触部的第2方向的另一端侧，第1接触部具有支承部，相对于第1接触部的一端，支承部与弹性部配置于第2方向的相同侧，且支承部在第2方向上突出，支承部构成为能够在收纳于插座的状态下在第1方向上与插座的内部抵接，弹性部具有沿着第2方向延伸的多个延伸部以及与相邻的延伸部连接的至少一个弯曲部，延伸部和弯曲部分别具有贯通孔，贯通孔在探针的板厚方向贯通并且沿着弹性部的形状延伸。

Probe, inspection unit and inspection device

【技术实现步骤摘要】
探针、检查单元以及检查装置本专利技术专利申请是专利技术名称为“探针”、国际申请日为2017年3月14日、国际申请号为“PCT/JP2017/010191”、国家申请号为“201780002574.4”的专利技术专利申请的分案申请。
本专利技术涉及探针、检查单元以及检查装置。
技术介绍
在照相机或液晶面板等电子部件模块中，一般来讲，在其制造工序中进行导通检查和动作特性检查等。使用探针将FPC接触电极或所安装的基板对基板连接器等的电极部与检查装置连接，由此进行这些检查，其中，该FPC接触电极用于与在电子部件模块中设置的主体基板连接。作为这种探针，例如存在专利文献1中记载的探针。该探针由在长度方向上伸缩的弹性部以及在该弹性部的长度方向的两端分别设置的1个触点部构成。现有技术文献专利文献专利文献1：日本特开2008-516398号公报
技术实现思路
专利技术要解决的问题但是，在所述探针中，由于通过1个触点部使检查对象物和检查装置接触，因此，例如在检查对象物的端子是基板对基板连接本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种探针，该探针具有：/n弹性部，其沿着第1方向伸缩；/n第1接触部，其配置于所述弹性部的所述第1方向的一端；以及/n第2接触部，其配置于所述弹性部的所述第1方向的另一端，/n该探针能够以所述弹性部能够在所述第1方向上伸缩的状态收纳于插座，其中，/n与所述第1接触部的与所述第1方向交叉的第2方向的一端相比，所述弹性部在所述第2方向上配置于所述第1接触部的所述第2方向的另一端侧，/n所述第1接触部具有支承部，相对于所述第1接触部的所述一端，该支承部与所述弹性部配置于所述第2方向的相同侧，且该支承部在所述第2方向上突出，/n所述支承部构成为能够在收纳于所述插座的状态下在所述第1方向上与所述插座...

【技术特征摘要】
20160617 JP 2016-1211501.一种探针，该探针具有：
弹性部，其沿着第1方向伸缩；
第1接触部，其配置于所述弹性部的所述第1方向的一端；以及
第2接触部，其配置于所述弹性部的所述第1方向的另一端，
该探针能够以所述弹性部能够在所述第1方向上伸缩的状态收纳于插座，其中，
与所述第1接触部的与所述第1方向交叉的第2方向的一端相比，所述弹性部在所述第2方向上配置于所述第1接触部的所述第2方向的另一端侧，
所述第1接触部具有支承部，相对于所述第1接触部的所述一端，该支承部与所述弹性部配置于所述第2方向的相同侧，且该支承部在所述第2方向上突出，
所述支承部构成为能够在收纳于所述插座的状态下在所述第1方向上与所述插座的内部抵接，
所述弹性部具有沿着所述第2方向延伸的多个延伸部以及与相邻的所述延伸部连接的至少一个弯曲部，

【专利技术属性】
技术研发人员：寺西宏真，酒井贵浩，
申请(专利权)人：欧姆龙株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP