【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】能够管理周边电荷共享的X射线检测器
本专利技术涉及适用于X射线(例如,X射线荧光)的检测器,特别是涉及能够检测和处理周边电荷共享的检测器。
技术介绍
X射线萤光(XRF)是被诸如暴露于高能X射线或伽马射线激发的材料发出的特征萤光X射线。由于每个元素具有特征能量的轨道,通过分析样品的萤光X射线,就可以识别样品中的元素。对于给定的原子,可能弛豫的数量受到限制。如在图1A中示出的,当L轨道上的电子弛豫填充K轨道上的空位(L→K)时,萤光X射线叫作Kα。来自M→K弛豫的萤光X射线叫作Kβ。如在图1B中示出的,来自M→L弛豫的萤光X射线叫作Lα,等等。萤光X射线可以通过对光子能量分类(能量色散分析)或者通过分离萤光X射线的波长(波长色散分析)来加以分析。每个特征能量峰的强度直接与样品中每个元素的含量有关。可在能量色散分析中使用比例计数器或者各种类型的固态检测器(PIN二极管、Si(Li)、Ge(Li)、硅漂移检测器SDD)。这些检测器基于相同原理:入射X射线光子使大量检测器原子电离,其中产生的载流子的数量与入射 ...
【技术保护点】
1.一种检测器,包括:/n多个像素,其中所述检测器被配置成在一段时间内对入射到所述多个像素中的每个像素上并且能量落入多个仓内的X射线光子进行计数;/n保护环,该保护环包括多个区段,其中所述检测器被配置成检测由所述多个区段收集的载流子;/n控制器,该控制器被配置成检测在所述多个像素中的至少一个像素与所述保护环的多个区段中的至少一个区段之间的电荷共享。/n
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种检测器,包括:
多个像素,其中所述检测器被配置成在一段时间内对入射到所述多个像素中的每个像素上并且能量落入多个仓内的X射线光子进行计数;
保护环,该保护环包括多个区段,其中所述检测器被配置成检测由所述多个区段收集的载流子;
控制器,该控制器被配置成检测在所述多个像素中的至少一个像素与所述保护环的多个区段中的至少一个区段之间的电荷共享。
2.根据权利要求1所述的检测器,其中,所述多个像素布置在阵列中。
3.根据权利要求1所述的检测器,其中,所述检测器被配置成基于由所述X射线光子产生并由每个所述像素收集的载流子来对所述X射线光子进行计数。
4.根据权利要求1所述的检测器,其中,所述保护环围绕所述多个像素。
5.根据权利要求1所述的检测器,其中,所述控制器被配置成通过确定从至少一个所述像素检测的电压和从所述区段检测的电压在相同的时间段开始变化,来检测电荷共享。
6.根据权利要求1所述的检测器,其中,所述控制器被配置成当所述控制器检测至少一个所述像素与至少一个所述区段之间的电荷共享时,忽略所述X射线光子中的一个光子。
7.一种方法,包括:
通过检测器的像素接收X射线光子,所述检测器包括多个像素以及包括多个区段的保护环;
检测在所述像素与所述保护环的区段之间的电荷共享;
当检测到所述电荷共享时,忽略所述X射线光子;
当没有检测到所述电荷共享并且所述X射线光子能量落入多个仓中的一个仓内时,将所述X射线光子计入到入射在所...
【专利技术属性】
技术研发人员:曹培炎,刘雨润,
申请(专利权)人:深圳帧观德芯科技有限公司,
类型:发明
国别省市:广东;44
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