液晶芯片设计检测方法、装置、存储介质及液晶显示系统制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种液晶芯片设计检测方法、装置、存储介质及液晶显示系统，所述方法包括：获取设计液晶芯片的仿真数据；依据所述仿真数据，生成可视化的仿真图像；获取所述仿真图像的显示数据，并依据所述显示数据判断相应的像素点是否为缺陷点；依据对相应的像素点的判断结果，检测液晶芯片设计是否有缺陷。本发明专利技术能够快速有效检测到液晶芯片设计电路中的缺陷。

Liquid crystal chip design detection method, device, storage medium and liquid crystal display system

【技术实现步骤摘要】
液晶芯片设计检测方法、装置、存储介质及液晶显示系统
本专利技术涉及图像显示
，尤其涉及液晶芯片设计检测方法、装置、存储介质及液晶显示系统。
技术介绍
目前，液晶显示技术在生活中的应用越来越广泛，其核心技术之一就是液晶驱动芯片的设计，在液晶驱动芯片的设计过程中，通过EDA(ElectronicsDesignAutomation，电子设计自动化)工具预先完成电路的设计工作，依据设计的电路进行电路仿真，通过查看各像素点随时间的电压值，判断相应的设计是否有缺陷，但是一般显示的像素分辨率较大，每个像素点对应一个电压值，由此形成庞大的数据量，在庞大的数据量面前，设计人员难以及时发现设计中的缺陷。上述内容仅用于辅助理解本申请的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。
技术实现思路
基于此，针对目前庞大仿真数据量面前，设计人员难以及时发现设计中的缺陷的问题，有必要提供一种液晶芯片设计检测方法、装置、存储介质及液晶显示系统，能够快速有效检测到液晶芯片设计电路中的缺陷。为实现上述目的，本专利技术提供一种液晶芯片设计检测方本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种液晶芯片设计检测方法，其特征在于，所述方法包括：/n获取设计液晶芯片的仿真数据；/n依据所述仿真数据，生成可视化的仿真图像；/n获取所述仿真图像的显示数据，并依据所述显示数据判断相应的像素点是否为缺陷点；/n依据对相应的像素点的判断结果，检测液晶芯片设计是否有缺陷。/n

【技术特征摘要】
1.一种液晶芯片设计检测方法，其特征在于，所述方法包括：
获取设计液晶芯片的仿真数据；
依据所述仿真数据，生成可视化的仿真图像；
获取所述仿真图像的显示数据，并依据所述显示数据判断相应的像素点是否为缺陷点；
依据对相应的像素点的判断结果，检测液晶芯片设计是否有缺陷。


2.如权利要求1所述的液晶芯片设计检测方法，其特征在于，所述获取设计液晶芯片的仿真数据的步骤之前包括：
获取设计液晶芯片的原始数据；
对所述原始数据进行预处理，生成仿真数据并建立数据位置和对应像素点的像素点位置索引表。


3.如权利要求2所述的液晶芯片设计检测方法，其特征在于，所述对所述原始数据进行预处理，建立数据位置和对应像素点的像素点位置索引表的步骤包括：
对读取到的所述原始数据进行数据格式的解析，获得仿真数据；
依据所述仿真数据，建立数据位置和对应像素点的像素点位置索引表。


4.如权利要求3所述的液晶芯片设计检测方法，其特征在于，所述依据所述仿真数据，建立数据位置和对应像素点的像素点位置索引表的步骤之后包括：
依据所述仿真数据，建立仿真图像的数据帧起始位置索引表。


5.如权利要求1至4任一项所述的液晶芯片设计检测方法，其特征在于，所述依据所述仿真数据，生成可视化的仿真图像的步骤包括：
读取所述仿真数据，将仿真数据转换为像素灰度数据；
依据所述像素灰度数据，生成可视化的仿真图像。


6.如权利要求5所述的液晶芯...

【专利技术属性】
技术研发人员：殷雪敏，
申请(专利权)人：深圳慧新辰技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44