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本发明公开了一种液晶芯片设计检测方法、装置、存储介质及液晶显示系统，所述方法包括：获取设计液晶芯片的仿真数据；依据所述仿真数据，生成可视化的仿真图像；获取所述仿真图像的显示数据，并依据所述显示数据判断相应的像素点是否为缺陷点；依据对相应的像...
该专利属于深圳慧新辰技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳慧新辰技术有限公司授权不得商用。

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