【技术实现步骤摘要】
一种芯片外观检测装置
本技术涉及缺陷检测
，特别涉及一种芯片外观检测装置。
技术介绍
表面缺陷检测是指采用机器视觉检测技术，利用检测相机对工件表面的斑点、凹坑、划痕、色差、缺损等缺陷进行检测。芯片在出厂前同样需要对其外观进行检测，而现有的芯片检测设备大多存在结构复杂，调节不便的问题，带来的结果自然是检测效率低下，已不能满足芯片大批量检测的需求。
技术实现思路
针对现有技术的不足，本技术目的在于提供一种结构简单，调节方便，检测效率高的芯片外观检测装置。其采用如下技术方案：一种芯片外观检测装置，包括安装座，所述安装座上设有第一升降组件、第二升降组件、光源、光源支架、检测相机、相机支架，所述光源与光源支架连接，所述光源支架与第一升降组件连接，所述检测相机与相机支架连接，所述相机支架与第二升降组件连接，所述检测相机设于光源下方，用于对光源上方的芯片进行检测。作为本技术的进一步改进，所述安装座上还设有竖直滑轨，所述竖直滑轨上设有第一滑动座，所述光源支架与所述第一滑动座连接，所述第一升降组件...
【技术保护点】
1.一种芯片外观检测装置，包括安装座，其特征在于，所述安装座上设有第一升降组件、第二升降组件、光源、光源支架、检测相机、相机支架，所述光源与光源支架连接，所述光源支架与第一升降组件连接，所述检测相机与相机支架连接，所述相机支架与第二升降组件连接，所述检测相机设于光源下方，用于对光源上方的芯片进行检测。/n
【技术特征摘要】
1.一种芯片外观检测装置，包括安装座，其特征在于，所述安装座上设有第一升降组件、第二升降组件、光源、光源支架、检测相机、相机支架，所述光源与光源支架连接，所述光源支架与第一升降组件连接，所述检测相机与相机支架连接，所述相机支架与第二升降组件连接，所述检测相机设于光源下方，用于对光源上方的芯片进行检测。
2.如权利要求1所述的芯片外观检测装置，其特征在于，所述安装座上还设有竖直滑轨，所述竖直滑轨上设有第一滑动座，所述光源支架与所述第一滑动座连接，所述第一升降组件包括第一丝杆、第一滑块，所述第一丝杆的两端均通过轴承与安装座连接，所述第一滑块套设于所述第一丝杆上，所述第一滑块通过第一连接板与所述第一滑动座连接。
3.如权利要求2所述的芯片外观检测装置，其特征在于，所述第一丝杆的底部设有第一调节旋钮。
4.如权利要...
【专利技术属性】
技术研发人员：唐松林，王鹏，董长国，
申请(专利权)人：王唐苏州机器人智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。