The invention discloses a continuous detection device for silicon wafer processing and production, which includes a device frame, the lower end of the device frame is fixedly installed with adjustable feet, the outer side of the device frame is movably installed with a maintenance box, the upper end of the device frame is fixedly installed with a main control box, the outer side of the main control box is reserved with a heat sink, and the outer side of the upper end of the device frame is movably installed with a view Inspection door, the inspection room is installed in the equipment rack, the inspection room is installed with conveyor belt, one end of the equipment rack is installed with loading platform, the upper end of the loading platform is installed with loading rack, and the other end of the equipment rack is installed with discharging platform. The continuous detection device for silicon wafer processing and production can reduce the number of contact between operators and products, better protect products, prevent the problem of product damage caused by staff failure, reduce the error rate during operation, better carry out production work, and improve the qualified rate of products.
【技术实现步骤摘要】
一种硅片加工生产用连续检测装置
本专利技术涉及硅片生产
,具体为一种硅片加工生产用连续检测装置。
技术介绍
硅是地壳中储量最丰富的元素之一,储量的优势也是硅成为光伏主要材料的原因之一,而现在的一般生产的是单晶和多晶硅,其特点是光电转换效率高、寿命长且稳定性好,单晶硅是一种比较活泼的非金属元素,是晶体材料的重要组成部分,处于新材料发展的前沿,其主要用途是用作半导体材料和利用太阳能光伏发电、供热等,由于太阳能具有清洁、环保、方便等诸多优势,在光伏技术和微小型半导体逆变器技术飞速发展的今天,利用硅单晶所生产的太阳能电池可以直接把太阳能转化为光能,实现了迈向绿色能源革命的开始。然而,现有市场上在进行硅片加工生产的时候,一般都是使用人工进行检测的工作,有规则的硅片外形检测主要由人工肉眼去观察,或使用简单的镜头进行检测,这种利用人工肉眼检测的方式,不仅工作效率低,误检率也非常高,且在取拿硅片的过程易造成硅片的损坏和污染,而且现在的检测设备还需要人工进行上下料,非常的麻烦,而在只能够进行单一的检测工作,还需要设备额外的设备进行其余的检测的工作,增加了企业的成本,需要进行额外设备的购置,还需要增加工人进行工作,生产加工的速度较慢,生产的效率不高。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种硅片加工生产用连续检测装置,以解决上述
技术介绍
中提出现有市场上在进行硅片加工生产的时候,一般都是使用人工进行检测的工作,有规则的硅片外形检测主要由人工肉眼去观察,或使用简单的镜头进行检测,这种利用人工肉眼检测的方式 ...
【技术保护点】
1.一种硅片加工生产用连续检测装置,包括设备机架(1),其特征在于:所述设备机架(1)的下端固定安装有可调支脚(2),所述设备机架(1)的外侧活动安装有检修箱(3),所述设备机架(1)的上端固定安装有主控箱(4),所述主控箱(4)的外侧预留有散热孔(5),所述设备机架(1)的上端外侧活动安装有观察门(6),所述设备机架(1)内活动安装有检测室(7),所述检测室(7)内活动安装有输送带(8),所述设备机架(1)的一端活动安装有上料台(9),所述上料台(9)的上端活动安装有上料架(11),所述设备机架(1)的另一端活动安装有出料台(10),所述出料台(10)的上端活动安装有存料架(12),所述上料台(9)和出料台(10)上固定安装有转运架(13),所述设备机架(1)内活动安装有摄像头(14),所述摄像头(14)靠近出料台(10)的一端活动安装有测量器(15),所述测量器(15)的下端活动安装有检测架(16)。/n
【技术特征摘要】
1.一种硅片加工生产用连续检测装置,包括设备机架(1),其特征在于:所述设备机架(1)的下端固定安装有可调支脚(2),所述设备机架(1)的外侧活动安装有检修箱(3),所述设备机架(1)的上端固定安装有主控箱(4),所述主控箱(4)的外侧预留有散热孔(5),所述设备机架(1)的上端外侧活动安装有观察门(6),所述设备机架(1)内活动安装有检测室(7),所述检测室(7)内活动安装有输送带(8),所述设备机架(1)的一端活动安装有上料台(9),所述上料台(9)的上端活动安装有上料架(11),所述设备机架(1)的另一端活动安装有出料台(10),所述出料台(10)的上端活动安装有存料架(12),所述上料台(9)和出料台(10)上固定安装有转运架(13),所述设备机架(1)内活动安装有摄像头(14),所述摄像头(14)靠近出料台(10)的一端活动安装有测量器(15),所述测量器(15)的下端活动安装有检测架(16)。
2.根据权利要求1所述的一种硅片加工生产用连续检测装置,其特征在于:所述设备机架(1)的下端活动安装装有四个相互对称的可调支脚(2),且可调支脚(2)在上料台(9)和出料台(10)的下端对称设置有四个,并且可调支脚(2)在初始状态下处于同一水平位置。
3.根据权利要求1所述的一种硅片加工生产用连续检测装置,其特征在于:所述主控箱(4)为矩形结构设计,且主控箱(4)上对称设置有三组散热孔(5),并且散热孔(5)为矩形结构设计。
4.根据权利要求1所述的一种硅片加工生产用连续检测装置,其特征在于:所述输送带(8)的下端固定安装有安装支架(81),所述安装支架(81)的上端活动安装有防护挡板(82),所述防护挡板(82)内活动安装有传动滚轮(83),所述传动滚轮(83)的两端对称设置有转动轴(84),所述传动滚轮(83)上活动安装有防滑条(85)。
5.根据权利要求1所述的一种硅片加工生产用连续检测装置,其特征在于:所述转运架(13)的下端固定安...
【专利技术属性】
技术研发人员:王玉庆,胡苏安,
申请(专利权)人:马鞍山致青工业设计有限公司,
类型:发明
国别省市:安徽;34
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