一种温度传感器批量测试系统技术方案

本发明专利技术提供了一种温度传感器批量测试系统，包括上位机、数据采集卡和温度测试仪，所述数据采集卡和温度测试仪分别与上位机通信连接，所述上位机根据温度测试仪传送的实时环境温度值，利用设定的拟合公式换算出待测温度传感器对应的上限电阻值和下限电阻值，并与数据采集卡传送的待测温度传感器的电阻值比对，判断各待测温度传感器的电阻值是否在上限电阻值和下限电阻值范围内，待测温度传感器的电阻值在上限电阻值和下限电阻值范围内，则判定其合格。本发明专利技术通过拟合公式换算温度传感器的上限电阻值和下限电阻值，可对各温度传感器得阻值进行批量合格与否的判断，本发明专利技术对测试环境依赖程度低、方便易行、准确度高、能显著提高测试效率。

A batch test system of temperature sensor

【技术实现步骤摘要】
一种温度传感器批量测试系统
本专利技术属于电气元件测试设备领域，尤其涉及一种温度传感器批量测试系统。
技术介绍
温度传感器，特别是以NTC热敏电阻为核心的温度传感器，由于其结构简单，造价低廉、性能稳定、可靠，目前在科研、工业各领域得到非常广泛的应用。在工业批量生产或客户端使用前，均需要对传感器进行检测以确定其是否合格。目前最常用的测试方法是用恒温液体槽（水槽、油槽）提供不同温度状态下的恒定温场，将各待测温度传感器放入液体槽中，待温度传递平衡后读取其电阻值，然后通过查表获取其温度值。这种方法依赖体积庞大、价格昂贵的液体槽，且切换不同温度，平衡温度均需要耗时等待。对于某些非专业机构，标准恒温液体槽并非是一种必备设备，这些都给一些用户带来测试的不便。此外，对于许多结构复杂、引线外露的温度传感器，如果用油槽测试，面临着复杂的除油清洗操作，耗时费力；如果用水槽，外露的引线与水接触，因水的导电作用而导致测试结果异常；如果放在恒温烘箱测试，由于烘箱的空气流动性，温度稳定性很难达到准确测试要求。
技术实现思路
本专利技术为解决现有温度传感器测试系统体积庞大、价格昂贵、操作不便的技术问题，提供一种温度传感器批量测试系统。本专利技术提供一种温度传感器批量测试系统，包括:数据采集卡，所述数据采集卡与上位机通信连接，所述数据采集卡与待测温度传感器连接并批量采集待测温度传感器的电阻值，并将电阻值传送给上位机；温度测试仪，所述温度测试仪与上位机通信连接，所述温度测试仪与待测温度传感器一起放置在一个封闭空间中，所述温度测试仪测试实时环境温度值并传送给上位机；上位机，所述上位机根据温度测试仪传送的实时环境温度值，利用设定的拟合公式换算出待测温度传感器对应的上限电阻值和下限电阻值，并与数据采集卡传送的电阻值比对，判断各待测温度传感器的电阻值是否在上限电阻值和下限电阻值范围内，待测温度传感器的电阻值在上限电阻值和下限电阻值范围内，则判定其合格。进一步的，所述温度传感器批量测试系统还包括测试夹具，所述测试夹具夹持待测温度传感器，各待测温度传感器通过所述测试夹具与数据采集卡连接。进一步的，所述拟合公式由待测温度传感器的温度阻值表回归计算得出。进一步的，所述待测温度传感器为NTC温度传感器，实时环境温度值为15℃-40℃时，对应拟合公式如下：上限电阻回归公式：Ln(Rmax-0.033)=3.52-0.0535t+0.000229t2-0.00000105t3；下限电阻回归公式：Ln(Rmin-0.06)=3.46-0.0498t+0.000114t2；其中，Rmax指上限电阻，Rmin指下限电阻，t指实时温度值。进一步的，所述上位机是工控电脑，可设定拟合公式。进一步的，所述测试夹具可同时连接多个待测温度传感器。进一步的，所述数据采集卡与所述测试夹具相连，可同时测量多路数据。进一步的，所述温度测试仪包括测温探头，所述测温探头采用铂电阻探头。进一步的，所述封闭空间为立方体纸箱、塑料箱或金属箱。本专利技术通过拟合公式换算温度传感器的上限电阻值和下限电阻值，可对各温度传感器得阻值进行批量合格与否的判断，本专利技术对测试环境依赖程度低、方便易行、准确度高、能显著提高测试效率。附图说明图1是本专利技术实施例提供的系统结构图。图2是本专利技术实施例提供的测试流程图。附图说明：数据采集卡1、上位机2、待测温度传感器3、温度测试仪4、封闭空间5、测试夹具6、测温探头7。具体实施方式下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。本专利技术实施例提供一种温度传感器批量测试系统，如图1所示，包括:数据采集卡1，所述数据采集卡1与上位机2通信连接，所述数据采集卡1与待测温度传感器3连接并批量采集待测温度传感器3的电阻值，并将电阻值传送给上位机2；温度测试仪4，所述温度测试仪4与上位机2通信连接，所述温度测试仪4与待测温度传感器3一起放置在一个封闭空间5中，所述温度测试仪4测试实时环境温度值并传送给上位机2；上位机2，所述上位机2根据温度测试仪4传送的实时环境温度值，利用设定的拟合公式换算出待测温度传感器3对应的上限电阻值和下限电阻值，并与数据采集卡1传送的电阻值比对，判断各待测温度传感器3的电阻值是否在上限电阻值和下限电阻值范围内，待测温度传感器3的电阻值在上限电阻值和下限电阻值范围内，则判定其合格。待测温度传感器3的电阻值不在上限电阻值和下限电阻值范围内，则判定其不合格。在具体实施中，如图1所示，所述温度传感器批量测试系统还包括测试夹具6，所述测试夹具6夹持待测温度传感器3，各待测温度传感器3通过所述测试夹具6与数据采集卡1连接。根据本专利技术实施例的温度传感器批量测试系统，如图1和图2所示，所述拟合公式由待测温度传感器3的温度阻值表回归计算得出。所述待测温度传感器3为NTC温度传感器，实时环境温度值为15℃-40℃时，对应拟合公式如下：上限电阻值回归公式：Ln(Rmax-0.033)=3.52-0.0535t+0.000229t2-0.00000105t3；下限电阻值回归公式：Ln(Rmin-0.06)=3.46-0.0498t+0.000114t2；其中，Rmax指上限电阻值，Rmin指下限电阻值，t指实时温度值。在具体实施中，所述拟合公式根据待测温度传感器3的温度阻值表，在选定温度段将内，各温度与对应上限电阻值和下限电阻值分别回归得出，检验精度应在0.5%以内，本实施例的NTC温度传感器各温度点的电阻上限电阻值和下限电阻值和利用上述回归公式计算时各点上下限拟合值及对应偏离百分比，根据实验验证计算值与实测值误差在0.5%以内，满足测试要求。测试结果见表1。表1。t(℃）R上限值(KΩ)拟合值偏差偏差百分比R下限限值(KΩ)拟合值偏差偏差百分比1515.9415.92-0.0203-0.13%15.5515.526-0.0239-0.15%1615.2115.19-0.0221-0.15%14.8514.827-0.0232-0.16%1714.5214.49-0.025-0.17%14.1814.162-0.0176-0.12%1813.8613.84-0.0214-0.16%13.5413.531-0.009-0.07%1913.2413.22-0.0235-0.18%12.9412.931-0.0093-0.07%2012.6412.63-0.0133-0.11%12.3712.36-0.01-0.08%2112.0812.07-0.0127-0.11%11.8211.817-0.0027-0.02%2211.5511.54-0.0135-0.12%11.311.3010.00110.01%2311.0411.03-0.0073-0.07%10.8110.8100.00%2410.5610.55-0.0058-0.06%10.3410.3430.00270.03%2510.110.1-0.00040.00%9.99.898-0.002-0.02%269.6689.67-0.0005-0.01%9.4739.4750.00160.02%279.2579.26-0.00030.00%9.本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种温度传感器批量测试系统，其特征在于，包括：数据采集卡，所述数据采集卡与上位机通信连接，所述数据采集卡与待测温度传感器连接并批量采集待测温度传感器的电阻值，并将电阻值传送给上位机；温度测试仪，所述温度测试仪与上位机通信连接，所述温度测试仪与待测温度传感器一起放置在一个封闭空间中，所述温度测试仪测试实时环境温度值并传送给上位机；上位机，所述上位机根据温度测试仪传送的实时环境温度值，利用设定的拟合公式换算出待测温度传感器对应的上限电阻值和下限电阻值，并与数据采集卡传送的电阻值比对，判断各待测温度传感器的电阻值是否在上限电阻值和下限电阻值范围内，待测温度传感器的电阻值在上限电阻值和下限电阻值范围内，则判定其合格。

【技术特征摘要】
1.一种温度传感器批量测试系统，其特征在于，包括：数据采集卡，所述数据采集卡与上位机通信连接，所述数据采集卡与待测温度传感器连接并批量采集待测温度传感器的电阻值，并将电阻值传送给上位机；温度测试仪，所述温度测试仪与上位机通信连接，所述温度测试仪与待测温度传感器一起放置在一个封闭空间中，所述温度测试仪测试实时环境温度值并传送给上位机；上位机，所述上位机根据温度测试仪传送的实时环境温度值，利用设定的拟合公式换算出待测温度传感器对应的上限电阻值和下限电阻值，并与数据采集卡传送的电阻值比对，判断各待测温度传感器的电阻值是否在上限电阻值和下限电阻值范围内，待测温度传感器的电阻值在上限电阻值和下限电阻值范围内，则判定其合格。2.如权利要求1所述的一种温度传感器批量测试系统，其特征在于，所述温度传感器批量测试系统还包括测试夹具，所述测试夹具夹持待测温度传感器，各待测温度传感器通过所述测试夹具与数据采集卡连接。3.如权利要求1所述的一种温度传感器批量测试系统，其特征在于，所述拟合公式由待测温度传感器的温度阻值表回归计算得出。4.如权利要求3所述的一...

【专利技术属性】
技术研发人员：王小波，刘玉正，余荣安，唐新颖，
申请(专利权)人：比亚迪股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44