一种测试走线DUT性能的仿真方法技术

本发明专利技术公开了电路板测试领域中的一种测试走线DUT性能的仿真方法，包括获取2xthru线和2xthru+DUT线的参数；3D仿真拟合2xthru线；拟合完成后，修改模型，仿真得到1xthru线的参数；在2xthru+DUT线中，进行1xthru线的去嵌，得到去嵌之后的DUT参数。本发明专利技术仅通过精确的仿真就可以得到DUT的性能，无须购买昂贵的专业去嵌软件，其与专业的去嵌软件相比，成本得到了大幅度降低，并且本发明专利技术能够得到高精度的仿真结果，整个仿真过程操作简单。

A Simulation Method for Testing the Performance of Routing DUT

【技术实现步骤摘要】
一种测试走线DUT性能的仿真方法
本专利技术涉及电路板测试领域，具体的说，是涉及一种测试走线DUT性能的仿真方法。
技术介绍
印制电路板（PrintedCircuitBoard，PCB板）又称印刷电路板、印刷线路板，其是电子产品物理支撑以及信号传输的重要组成部分，其中最主要的组成部分是传输线。PCB上的走线形式对于高速信号的性能有着决定性的影响，因此对于不同走线形式进行测试至关重要。常用的测试仪器是网络分析仪，通过同轴射频头连接网络分析仪和PCB上的走线来进行测试，但由于常规的SOLT（短路-开路-负载-直通）的校准方式只能校准到同轴射频头的位置，不能去掉它的影响，因此不能够直接得到PCB板上走线DUT（待测物）的性能。为了能够测得PCB板上走线DUT的性能，现在常采用两种方式去嵌到DUT端面，一种是TRL（thru-reflect-line）校准，一种是AFR（自动夹具去除）。TRL校准可以直接通过网络分析仪完成测试，但是需要制作一套TRL的PCB夹具，需要制作多条不同的延时线，难度比较大，而且需要的同轴射频头也比较多；AFR校准无需额外制作PCB夹具，但是需要把SOLT校准测试的数据放到专门的软件进行去嵌，而这类软件一般价格比较昂贵，需要另外购买，大大增加了企业的运营成本。上述缺陷，值得解决。
技术实现思路
为了克服现有的技术的不足，本专利技术提供一种测试走线DUT性能的仿真方法。本专利技术技术方案如下所述：一种测试走线DUT性能的仿真方法，其特征在于，包括获取2xthru线和2xthru+DUT线的参数；3D仿真拟合所述2xthru线；拟合完成后，修改模型，仿真得到1xthru线的参数；在所述2xthru+DUT线中，进行所述1xthru线的去嵌，得到去嵌之后的DUT参数。根据上述方案的本专利技术，其特征在于，通过网路分析仪的SOLT校准进行测试，得到所述2xthru线和所述2xthru+DUT线的参数。根据上述方案的本专利技术，其特征在于，在3D仿真拟合所述2xthru线的过程中，先将所述2xthru线提取到仿真软件中，并在所述2xthru线的两端分别添加2xthru线第一端口和2xthru线第二端口，形成所述2xthru线的仿真模型，并实现所述2xthru线的仿真拟合。进一步的，形成所述2xthru线的仿真模型后，对板材的介电常数和损耗因子进行设置，并修改传输线的线宽、介质厚度的参数，然后进行所述2xthru线的仿真拟合。根据上述方案的本专利技术，其特征在于，在对所述1xthru线进行仿真的过程中，具体包括：先将所述2xthru线提取到仿真软件中，进行性能参数的调整；然后将提取出来的所述2xthru线裁剪一半，剩余所述1xthru线的模型；在所述1xthru线的两端分别添加1xthru线第一端口和1xthru线第二端口；最后对所述1xthru线进行仿真，得到所述1xthru线的参数。进一步的，在所述性能参数的调整过程中，先对板材的介电常数和损耗因子进行设置，后设置走线的粗糙度参数。进一步的，采用3维仿真软件HFSS进行3D仿真。根据上述方案的本专利技术，其特征在于，在进行所述1xthru线的去嵌过程中，将所述2xthru+DUT线的参数及仿真得到的所述1xthru线的参数置于ADS软件中，去嵌后得到所述DUT的参数。进一步的，将所述2xthru+DUT线的参数及所述1xthru线的参数置于ADS软件的deembed控件中进行去嵌。进一步的，在所述ADS软件中搭建链路的拓扑图，其中所述2xthru+DUT线的参数控件的左右两侧分别设置所述1xthru线的参数控件，并在链路的两端分别设置第一仿真端口和第二仿真端口。根据上述方案的本专利技术，其特征在于，还包括与AFR软件取钱后的参数进行插损及回损比较的过程。根据上述方案的本专利技术，其有益效果在于，本专利技术仅通过精确的仿真就可以得到DUT的性能，无需购买昂贵的专业去嵌软件，其与专业的去嵌软件相比，成本得到了大幅度降低，并且本专利技术能够得到高精度的仿真结果，整个仿真过程操作简单。附图说明图1为2xthru+DUT线的结构示意图。图2为2xthru线的结构示意图。图3为本专利技术中2xthru线的PCB设计图。图4为本专利技术中2xthru线的3D仿真模型图。图5为本专利技术中1xthru线的3D仿真模型图。图6为本专利技术中ADS拓扑图。图7为本专利技术中2xthru线测试和仿真拟合的插损曲线图。图8为本专利技术中2xthru线测试和仿真拟合的回损曲线图。图9为本专利技术中1xthru线仿真拟合的插损曲线图。图10为本专利技术中1xthru线仿真拟合的回损曲线图。图11为本专利技术ADS去嵌后的DUT仿真拟合的插损曲线图。图12为本专利技术ADS去嵌后的DUT仿真拟合的回损曲线图。图13为本专利技术对DUT仿真拟合与AFR软件对DUT校准的插损对比曲线图。图14为本专利技术对DUT仿真拟合与AFR软件对DUT校准的回损对比曲线图。在图中，110-同轴射频头；120-DUT；200-2xthru线；201-2xthru线第一端口；202-2xthru线第二端口；300-1xthru线；301-1xthru线第一端口；302-1xthru线第二端口；401-第一仿真端口；402-第二仿真端口；411-第一1xthru仿真参数；412-2xthru+DUT仿真参数；413-第二1xthru仿真参数。具体实施方式下面结合附图以及实施方式对本专利技术进行进一步的描述：一种测试走线DUT性能的仿真方法，包括以下步骤：1、如图1、图2所示，获取2xthru线和2xthru+DUT线的参数。在此步骤中，通过网路分析仪的SOLT校准进行测试，得到2xthru线和2xthru+DUT线的参数，其中PCB走线包括同轴射频头110和DUT120。2、如图3、图4所示，3D仿真拟合2xthru线200。在3D仿真拟合2xthru线200的过程中，先将2xthru线200提取到仿真软件中，并在2xthru线200的两端分别添加2xthru线第一端口201和2xthru线第二端口202，实现2xthru线200的仿真拟合。优选的，本实施例中采用3维仿真软件HFSS进行3D仿真，其能将cadence的PCB走线提取到该软件中并进行仿真操作。仿真拟合操作前，对板材的介电常数和损耗因子进行设置，并修改传输线的线宽、介质厚度的参数，后对2xthru线200的模型在50GHz下进行仿真，使得仿真和测试的2xthru线200达到一个比较高的精度，其中插损和回损曲线如图7、图8所示。3、如图4、图5所示，拟合完成后，修改模型，仿真得到1xthru线300的参数。具体包括以下步骤：（1）先将2xthru线200提取到仿真软件中，进行性能参数的调整；（2）然后将提取出来的2xthru线200裁剪一半，剩余1xthru线300的模型；（3）在1xthru线300的两端分别添加1xthru线第一端口301和1xthru线第二端口302；（4）最后设置仿真频率到50GHz，对1xthru线300进行仿真，得到1xthru线300的参数。在步骤（1）性能参数的调整过程中，先对板材的介电常数（例如3.2）和损耗因子（例如0.002）进行设置，来模拟板材的电气性能，本实施例采用的是松下公本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试走线DUT性能的仿真方法，其特征在于，包括获取2xthru线和2xthru+DUT线的参数；3D仿真拟合所述2xthru线；拟合完成后，修改模型，仿真得到1xthru线的参数；在所述2xthru+DUT线中，进行所述1xthru线的去嵌，得到去嵌之后的DUT参数。

【技术特征摘要】
1.一种测试走线DUT性能的仿真方法，其特征在于，包括获取2xthru线和2xthru+DUT线的参数；3D仿真拟合所述2xthru线；拟合完成后，修改模型，仿真得到1xthru线的参数；在所述2xthru+DUT线中，进行所述1xthru线的去嵌，得到去嵌之后的DUT参数。2.根据权利要求1所述的测试走线DUT性能的仿真方法，其特征在于，通过网路分析仪的SOLT校准进行测试，得到所述2xthru线和所述2xthru+DUT线的参数。3.根据权利要求1所述的测试走线DUT性能的仿真方法，其特征在于，在3D仿真拟合所述2xthru线的过程中，先将所述2xthru线提取到仿真软件中，并在所述2xthru线的两端分别添加2xthru线第一端口和2xthru线第二端口，形成所述2xthru线的仿真模型，并实现所述2xthru线的仿真拟合。4.根据权利要求3所述的测试走线DUT性能的仿真方法，其特征在于，形成所述2xthru线的仿真模型后，对板材的介电常数和损耗因子进行设置，并修改传输线的线宽、介质厚度的参数，然后进行所述2xthru线的仿真拟合。5.根据权利要求1所述的测试走线DUT性能的仿真方法，其特征在于，在对所述1xthru线进行仿真的过程中，具体包括：...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴均，黄刚，
申请(专利权)人：深圳市一博科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44