一种优化多负载颗粒信号质量的简易PCB结构制造技术

技术编号:41022076 阅读:2 留言:0更新日期:2024-04-18 22:06
本技术涉及一种优化多负载颗粒信号质量的简易PCB结构,包括主控芯片和与所述主控芯片相继连接的若干DDR颗粒,所述主控芯片与第一DDR颗粒之间的主干道走线设有若干残桩线,所述残桩线垂直于所述主干道走线,且所述残桩线的中点位于所述主干道走线上。本技术通过在主控芯片和距离主控芯片最近的第一DDR颗粒之间的主干道走线上设置残桩线,利用残桩对高速信号的高频能量具有衰减的特点,对以高频分量为主的反射信号有效衰减,减小高频能量的反射,使得DDR多负载拓扑结构的信号质量得以改善;并且本技术具有通用性,无需增设过孔及额外增加过孔加工成本,只需要在主干道走线增加残桩线即可,简单高效。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电路板领域,具体的说,是涉及一种优化多负载颗粒信号质量的简易pcb结构。


技术介绍

1、印制电路板(printed circuit board,pcb板)又称印刷电路板或印刷线路板,是电子产品的物理支撑以及信号传输的重要组成部分。

2、如今ddr内存条的应用非常广泛,于是在pcb设计领域中,ddr(double data ratesdram,双倍速率同步动态随机存储器)的设计占了绝大部分。ddr控制器需要拖带的内存条的数量越来越多,故ddr系统是多负载的,距离主芯片最近的ddr颗粒,必然受到其他颗粒的来回反射,而信号质量会受到信号反射的影响,因此距离主芯片最近的ddr颗粒,信号质量表现最差。而主控芯片由于一拖多,其驱动较强,输出信号的上升沿也较陡,具有较多高频分量,高频分量则会对信号反射更加敏感,导致信号质量恶化。

3、专利号为cn201921032498.4的技术专利,给出了一种pcb结构,其通过在主芯片和第一颗ddr颗粒之间设置新增过孔的方式,来削弱高频分量,减弱信号反射。虽然此方式能够解决信号反射的影响,但是需要额外打孔,增加打孔成本。

4、因此,是否能够做到不额外增加过孔,仅通过pcb走线的设计来提高信号裕量,成为业界急需解决的问题。


技术实现思路

1、为了在不额外增加过孔的前提下,解决ddr颗粒多负载pcb结构在信号传输中因高频信号反射导致信号传输质量较差的问题,本技术提供一种优化多负载颗粒信号质量的简易pcb结构。

<p>2、本技术技术方案如下所述:

3、一种优化多负载颗粒信号质量的简易pcb结构,包括主控芯片和与所述主控芯片相继连接的若干ddr颗粒,所述主控芯片与第一ddr颗粒之间的主干道走线设有若干残桩线,所述残桩线垂直于所述主干道走线,且所述残桩线的中点位于所述主干道走线上。

4、根据上述方案的本技术,所述主干道走线设有3段所述残桩线。

5、根据上述方案的本技术,所述主干道走线设有4段所述残桩线。

6、根据上述方案的本技术,所述主干道走线设有5段所述残桩线。

7、根据上述方案的本技术,所述残桩线的长度为10mil至40mil。

8、优选的,所述残桩线的长度为10mil。

9、优选的,所述残桩线的长度为20mil。

10、优选的,所述残桩线的长度为30mil。

11、优选的,所述残桩线的长度为40mil。

12、根据上述方案的本技术,所述主干道走线上的若干所述残桩线等距分布。

13、根据上述方案的本技术,其有益效果在于:

14、本技术通过在主控芯片和距离主控芯片最近的第一ddr颗粒之间的主干道走线上设置残桩线,利用残桩对高速信号的高频能量具有衰减的特点,对以高频分量为主的反射信号有效衰减,减小高频能量的反射,使得ddr多负载拓扑结构的信号质量得以改善;并且本技术具有通用性,无需增设过孔及额外增加过孔加工成本,只需要在主干道走线增加残桩线即可,简单高效。

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【技术保护点】

1.一种优化多负载颗粒信号质量的简易PCB结构,包括主控芯片和与所述主控芯片相继连接的若干DDR颗粒,其特征在于,

2.根据权利要求1所述的一种优化多负载颗粒信号质量的简易PCB结构,其特征在于,所述主干道走线设有3段所述残桩线。

3.根据权利要求1所述的一种优化多负载颗粒信号质量的简易PCB结构,其特征在于,所述主干道走线设有4段所述残桩线。

4.根据权利要求1所述的一种优化多负载颗粒信号质量的简易PCB结构,其特征在于,所述主干道走线设有5段所述残桩线。

5.根据权利要求1至4任一项所述的一种优化多负载颗粒信号质量的简易PCB结构,其特征在于,所述残桩线的长度为10mil至40mil。

6.根据权利要求5所述的一种优化多负载颗粒信号质量的简易PCB结构,其特征在于,所述残桩线的长度为10mil。

7.根据权利要求5所述的一种优化多负载颗粒信号质量的简易PCB结构,其特征在于,所述残桩线的长度为20mil。

8.根据权利要求5所述的一种优化多负载颗粒信号质量的简易PCB结构,其特征在于,所述残桩线的长度为30mil。

9.根据权利要求5所述的一种优化多负载颗粒信号质量的简易PCB结构,其特征在于,所述残桩线的长度为40mil。

10.根据权利要求1所述的一种优化多负载颗粒信号质量的简易PCB结构,其特征在于,所述主干道走线上的若干所述残桩线等距分布。

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【技术特征摘要】

1.一种优化多负载颗粒信号质量的简易pcb结构,包括主控芯片和与所述主控芯片相继连接的若干ddr颗粒,其特征在于,

2.根据权利要求1所述的一种优化多负载颗粒信号质量的简易pcb结构,其特征在于,所述主干道走线设有3段所述残桩线。

3.根据权利要求1所述的一种优化多负载颗粒信号质量的简易pcb结构,其特征在于,所述主干道走线设有4段所述残桩线。

4.根据权利要求1所述的一种优化多负载颗粒信号质量的简易pcb结构,其特征在于,所述主干道走线设有5段所述残桩线。

5.根据权利要求1至4任一项所述的一种优化多负载颗粒信号质量的简易pcb结构,其特征在于,所述残桩线的长度为10mil至40mi...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄刚吴均
申请(专利权)人:深圳市一博科技股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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