【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试装置
本技术涉及机电领域，尤其涉及一种芯片测试装置。
技术介绍
现有技术中，LM324N和LM224N四路运算放大器常用于煤矿QBZ-30、QBZ2-30真空电磁启动，以及用在ZBZ-4.0煤电钻综保和ZBZ-4.0(M)照明综保等保护插件关键元件上。上述元件由于井下供电环境复杂属易损元件，但是目前没有简单有效的方法测试上述元件的好坏，使得一旦出现故障就需要更换整个元件，造成矿企生产成本上升。
技术实现思路
基于以上问题，本技术提出一种芯片测试装置，解决了现有技术中没有简单有效的方法测试LM324N和LM224N元件的好坏，使得一旦出现故障就需要更换整个元件，造成矿企生产成本上升的技术问题。本技术提出一种芯片测试装置，包括：分压电阻、输出指示灯、电压表、拨码器、转换开关、芯片测试座、电源和电源输入接口；电源通过电源输入接口输入，电源分为两路，一路电源连接芯片测试座，一路电源连接分压电阻，分压电阻为多个串联的电阻，在分压电阻的电阻中取高电位和低电位分别作为被测芯片的同相端和反相端，在高电位和低电位中间串接转换开关以实现被测芯片的同相端和反相端的输入电位进行高低切...
【技术保护点】
1.一种芯片测试装置，其特征在于，包括：分压电阻、输出指示灯、电压表、拨码器、转换开关、芯片测试座、电源和电源输入接口；电源通过电源输入接口输入，电源分为两路，一路电源连接芯片测试座，一路电源连接分压电阻，分压电阻为多个串联的电阻，在分压电阻的电阻中取高电位和低电位分别作为被测芯片的同相端和反相端，在高电位和低电位中间串接转换开关以实现被测芯片的同相端和反相端的输入电位进行高低切换，输出指示灯与拨码器并接被测芯片的输出脚，被测芯片在测试时安装在芯片测试座上，电压表一端与电源的负极连接，电压表另一端连接拨码器的公共触点。
【技术特征摘要】
1.一种芯片测试装置，其特征在于，包括：分压电阻、输出指示灯、电压表、拨码器、转换开关、芯片测试座、电源和电源输入接口；电源通过电源输入接口输入，电源分为两路，一路电源连接芯片测试座，一路电源连接分压电阻，分压电阻为多个串联的电阻，在分压电阻的电阻中取高电位和低电位分别作为被测芯片的同相端和反相端，在高电位和低电位中间串接转换开关以实现被测芯片的同相端和反相端的输入电位进行高低切换，输出指示灯与拨码器并接被测芯片的输出脚，被测芯片在测试时安装在芯片测试座上，电压表一端与电源的负极连接，电压表另一端连接拨码器的公共触点。2.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：李晓龙，王连生，赵荣杰，
申请(专利权)人：中国神华能源股份有限公司，神华神东煤炭集团有限责任公司，
类型：新型
国别省市：北京,11
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