发光二极管检测电路及装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种发光二极管检测电路及装置，其中发光二极管检测电路，采样电阻通过第一开关模块与电源连接，采样电阻通过第二开关模块接地，采样电阻与待测发光二极管的正极连接，第三开关模块连接电源，第三开关模块与待测发光二极管的负极连接，第四开关模块用于接地，第四开关模块与待测发光二极管的负极连接，第一比较器、第二比较器及第三比较器的第一输入端分别与采样电阻连接及第二输入端分别与基准电源连接，第一比较器的输出端、第二比较器的输出端及第三比较器的输出端与指示模块连接，通过给发光二极管正向通电和反向通电，比较器输出对应检测信号，实现发光二极管电气性能测试，适用于COB板载上LED晶片检测。

Light Emitting Diode Detection Circuit and Device

【技术实现步骤摘要】
发光二极管检测电路及装置
本专利技术涉及二极管
，特别是涉及发光二极管检测电路及装置。
技术介绍
随着时代科技不断的发展，LED(Light-EmittingDiode，发光二极管)应用市场逐步成熟，其中COB(ChipsonBoard，板上芯片封装)光源是将LED芯片直接贴在高反光率的镜面金属基板上的高光效集成面光源技术，此技术剔除了支架概念，无电镀、无回流焊、无贴片工序，降低了生产成本、可以进行个性化设计以及COB的散热性能好，所以COB在照明上的应用也成为了一种潮流和趋势。由于将LED晶片封装在COB单元板中时容易出现漏固晶、漏焊线及晶片漏电等问题，导致LED晶片出现反向漏电及短路等异常状况，因此，封装后的COB中的LED晶片需进行性能检测，目前，通常采用LED分光机或者采用LED自动点亮机对封装后的COB中LED晶片进行检测，但采用LED分光机无法对多颗LED晶片测试，采用LED自动点亮机设备成本高，受相机性能影响，容易出现漏测或者误判，且无法检测LED晶片是否存在漏电现象。
技术实现思路
基于此，有必要针对传统检测设备容易出现漏测或误判，且无法检测LED晶片漏电等问题，提供一种发光二极管检测电路及装置。一种发光二极管检测电路，包括：第一开关模块、第二开关模块、第三开关模块、第四开关模块、第一比较器U1、第二比较器U2、第三比较器U3、采样电阻R1及至少一个指示模块；所述采样电阻R1的第一端用于通过所述第一开关模块与电源连接，所述采样电阻R1的第一端还用于通过所述第二开关模块接地，所述采样电阻R1的第二端用于与待测发光二极管的正极连接，所述第三开关模块的第一端用于连接电源，所述第三开关模块的第二端用于与所述待测发光二极管的负极连接，所述第四开关模块的第一端用于接地，所述第四开关模块的第二端用于与所述待测发光二极管的负极连接，所述采样电阻R1的第二端还分别与所述第一比较器U1的第一输入端、所述第二比较器U2的第一输入端及所述第三比较器U3的第一输入端连接，所述第一比较器U1的第二输入端用于与第一基准电源连接，所述第二比较器U2的第二输入端用于与第二基准电源连接，所述第三比较器U3的第二输入端用于与第三基准电源连接，所述第一比较器U1的输出端、第二比较器U2的输出端及第三比较器U3的输出端分别与所述至少一个指示模块连接。在其中一个实施例中，所述第一开关模块的工作状态与所述第四开关模块的工作状态相同，所述第二开关模块的工作状态与所述第三开关模块的工作状态状态相同，且所述第一开关模块的工作状态与所述第二开关模块的工作状态相异。在其中一个实施例中，所述采样电阻R1的第二端分别与所述第一比较器U1的正相输入端、所述第二比较器U2的反相输入端及所述第三比较器U3的正相输入端连接，所述第一比较器U1的反相输入端用于与所述第一基准电源连接，所述第二比较器U2的正相输入端用于与所述第二基准电源连接，所述第三比较器U3的反相输入端用于与所述第三基准电源连接。在其中一个实施例中，所述的发光二极管检测电路还包括控制模块，所述控制模块分别与所述第一开关模块的控制端、所述第二开关模块的控制端、所述第三开关模块的控制端及所述第四开关模块的控制端连接。在其中一个实施例中，所述第一开关模块、所述第二开关模块、所述第三开关模块及所述第四开关模块中至少一个为场效应管，所述场效应管的栅极与所述控制模块连接。在其中一个实施例中，所述第一开关模块及所述第三开关模块均为PMOS管，所述第二开关模块及所述第三开关模块均为NMOS管。在其中一个实施例中，所述的发光二极管检测电路还包括处理模块，所述第一比较器U1的输出端、第二比较器U2的输出端及第三比较器U3的输出端分别与所述处理模块的输入端连接，所述处理模块的输出端与所述指示模块连接。在其中一个实施例中，所述指示模块包括显示屏，所述显示屏与所述处理模块的输出端连接。在其中一个实施例中，所述第一比较器U1、第二比较器U2及第三比较器U3均为电压比较器。一种发光二极管检测装置，包括两个探针、支撑架及上述任一实施例中所述的发光二极管检测电路，所述探针设置于所述支撑架上，所述采样电阻R1的第二端用于通过一所述探针与所述待测发光二极管的正极连接，所述第三开关模块的第二端用于通过另一所述探针与所述待测发光二极管的负极连接。上述发光二极管检测电路，当第一开关模块及第四开关模块处于导通状态，第二开关模块及第三开关模块处于断开状态时，此时待测二极管处于正向导通状态，通过第一比较器及第二比较器输出的对应检测信号，以使指示模块发出对应的指示信号，可以实现发光二极管正常点亮状态及漏电状态的检测，当第一开关模块及第四开关模块处于断开状态，第二开关模块及第三开关模块处于导通状态时，此时二极管处于反向通电状态，通过第三比较器输出对应的检测信号，以使指示模块发出对应的指示信号，以检测发光二极管是否存在漏电现象，从而实现发光二极管的检查，此检测电路适用于COB板载上LED晶片的检测。附图说明图1为一个实施例中发光二极管检测电路的电路原理图；图2为另一个实施例中发光二极管检测电路的电路原理图；图3为一个实施例中发光二极管检测装置的电路原理图。具体实施方式为了便于理解本专利技术，下面将参照相关附图对本专利技术进行更全面的描述。附图中给出了本专利技术的较佳实施方式。但是，本专利技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施方式。相反地，提供这些实施方式的目的是使对本专利技术的公开内容理解的更加透彻全面。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本专利技术。例如，提供一种发光二极管检测电路，包括：第一开关模块、第二开关模块、第三开关模块、第四开关模块、第一比较器U1、第二比较器U2、第三比较器U3、采样电阻R1及至少一个指示模块；所述采样电阻R1的第一端用于通过所述第一开关模块与电源连接，所述采样电阻R1的第一端还用于通过所述第二开关模块接地，所述采样电阻R1的第二端用于与待测发光二极管的正极连接，所述第三开关模块的第一端用于连接电源，所述第三开关模块的第二端用于与所述待测发光二极管的负极连接，所述第四开关模块的第一端用于接地，所述第四开关模块的第二端用于与所述待测发光二极管的负极连接，所述采样电阻R1的第二端还分别与所述第一比较器U1的第一输入端、所述第二比较器U2的第一输入端及所述第三比较器U3的第一输入端连接，所述第一比较器U1的第二输入端用于与第一基准电源连接，所述第二比较器U2的第二输入端用于与第二基准电源连接，所述第三比较器U3的第二输入端用于与第三基准电源连接，所述第一比较器U1的输出端、第二比较器U2的输出端及第三比较器U3的输出端分别与所述至少一个指示模块连接。上述发光二极管检测电路，当第一开关模块及第四开关模块处于导通状态，第二开关模块及第三开关模块处于断开状态时，此时待测二极管处于正向导通状态，通过第一比较器U1及第二比较器U2输出的对应检测信号，以使指示模块发出对应的指示信号，可以实现发光二极管正常点亮状态及漏电状态的检测，当第一开关模块及第四开关模块处于断开状态，第二开关模块及第三开关模块处本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种发光二极管检测电路，其特征在于，包括：第一开关模块、第二开关模块、第三开关模块、第四开关模块、第一比较器U1、第二比较器U2、第三比较器U3、采样电阻R1及至少一个指示模块；所述采样电阻R1的第一端用于通过所述第一开关模块与电源连接，所述采样电阻R1的第一端还用于通过所述第二开关模块接地，所述采样电阻R1的第二端用于与待测发光二极管的正极连接，所述第三开关模块的第一端用于连接电源，所述第三开关模块的第二端用于与所述待测发光二极管的负极连接，所述第四开关模块的第一端用于接地，所述第四开关模块的第二端用于与所述待测发光二极管的负极连接，所述采样电阻R1的第二端还分别与所述第一比较器U1的第一输入端、所述第二比较器U2的第一输入端及所述第三比较器U3的第一输入端连接，所述第一比较器U1的第二输入端用于与第一基准电源连接，所述第二比较器U2的第二输入端用于与第二基准电源连接，所述第三比较器U3的第二输入端用于与第三基准电源连接，所述第一比较器U1的输出端、第二比较器U2的输出端及第三比较器U3的输出端分别与所述至少一个指示模块连接。

【技术特征摘要】
1.一种发光二极管检测电路，其特征在于，包括：第一开关模块、第二开关模块、第三开关模块、第四开关模块、第一比较器U1、第二比较器U2、第三比较器U3、采样电阻R1及至少一个指示模块；所述采样电阻R1的第一端用于通过所述第一开关模块与电源连接，所述采样电阻R1的第一端还用于通过所述第二开关模块接地，所述采样电阻R1的第二端用于与待测发光二极管的正极连接，所述第三开关模块的第一端用于连接电源，所述第三开关模块的第二端用于与所述待测发光二极管的负极连接，所述第四开关模块的第一端用于接地，所述第四开关模块的第二端用于与所述待测发光二极管的负极连接，所述采样电阻R1的第二端还分别与所述第一比较器U1的第一输入端、所述第二比较器U2的第一输入端及所述第三比较器U3的第一输入端连接，所述第一比较器U1的第二输入端用于与第一基准电源连接，所述第二比较器U2的第二输入端用于与第二基准电源连接，所述第三比较器U3的第二输入端用于与第三基准电源连接，所述第一比较器U1的输出端、第二比较器U2的输出端及第三比较器U3的输出端分别与所述至少一个指示模块连接。2.根据权利要求1所述的发光二极管检测电路，其特征在于，所述第一开关模块的工作状态与所述第四开关模块的工作状态相同，所述第二开关模块的工作状态与所述第三开关模块的工作状态状态相同，且所述第一开关模块的工作状态与所述第二开关模块的工作状态相异。3.根据权利要求1所述的发光二极管检测电路，其特征在于，所述采样电阻R1的第二端分别与所述第一比较器U1的正相输入端、所述第二比较器U2的反相输入端及所述第三比较器U3的正相输入端连接，所述第一比较器U1的反相输入端用于与所述第一基准电...

【专利技术属性】
技术研发人员：李漫铁，黄道华，
申请(专利权)人：惠州雷曼光电科技有限公司，深圳雷曼光电科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44