探针检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种探针检测装置，该探针检测装置包括第一治具、探针模组以及第二治具，第一治具包括本体，本体包括相对的第一表面及第二表面，第一表面与第二表面沿第一方向排布；探针模组设于第二表面，且探针模组的探针沿第一方向延伸，探针模组包括第一探针模组及第二探针模组，第一探针模组与第二探针模组在第二表面上沿第二方向间隔排布，且第二探针模组能够在第二表面上沿第二方向滑动，以调节第一探针模组与第二探针模组之间的间距；第二治具与本体可拆卸连接，且第二治具位于本体在第二方向的一端，并靠近第二探针模组，用于防止第二探针模组沿第二方向滑出本体。本发明专利技术探针检测装置能够通对不同型号尺寸的产品进行检测。

【技术实现步骤摘要】
探针检测装置
本专利技术涉及探针检测
，特别是涉及一种探针检测装置。
技术介绍
相关技术中，探针检测装置包括模块和探针，探针装设在模块内，探针的上针头用于接触被测物，探针的下针头用于连接电路板，以导出检测信号。然而，由于探针在模块内的位置是固定不动的，使得探针不能对不同型号尺寸的产品进行检测，若需要对不同型号的产品进行检测，就需要重新设计一组新的探针检测装置，以使探针在模块内的排布对应待测产品的尺寸要求，这将严重影响了待测产品的检测效率，而且浪费了大量资源。
技术实现思路
基于此，有必要针对相关技术中的探针检测装置检测效率低下的问题，提供一种探针检测装置。一种探针检测装置，包括：第一治具，包括本体，所述本体包括相对的第一表面及第二表面，所述第一表面与所述第二表面沿第一方向排布；探针模组，设于所述第二表面上，且所述探针模组的探针沿所述第一方向延伸，所述探针模组包括第一探针模组及第二探针模组，所述第一探针模组与所述第二探针模组在所述第二表面上沿第二方向间隔排布，且所述第二探针模组能够在所述第二表面上沿所述第二方向滑动，以调节所述第一探针模组与所述第二探针模组之间的间距；以及第二治具，与本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种探针检测装置，其特征在于，包括：第一治具，包括本体，所述本体包括相对的第一表面及第二表面，所述第一表面与所述第二表面沿第一方向排布；探针模组，设于所述第二表面上，且所述探针模组的探针沿所述第一方向延伸，所述探针模组包括第一探针模组及第二探针模组，所述第一探针模组与所述第二探针模组在所述第二表面上沿第二方向间隔排布，且所述第二探针模组能够在所述第二表面上沿所述第二方向滑动，以调节所述第一探针模组与所述第二探针模组之间的间距；以及第二治具，与所述本体可拆卸连接，且所述第二治具位于所述本体在所述第二方向的一端，并靠近所述第二探针模组，用于防止所述第二探针模组沿所述第二方向滑出所述本体。

【技术特征摘要】
1.一种探针检测装置，其特征在于，包括：第一治具，包括本体，所述本体包括相对的第一表面及第二表面，所述第一表面与所述第二表面沿第一方向排布；探针模组，设于所述第二表面上，且所述探针模组的探针沿所述第一方向延伸，所述探针模组包括第一探针模组及第二探针模组，所述第一探针模组与所述第二探针模组在所述第二表面上沿第二方向间隔排布，且所述第二探针模组能够在所述第二表面上沿所述第二方向滑动，以调节所述第一探针模组与所述第二探针模组之间的间距；以及第二治具，与所述本体可拆卸连接，且所述第二治具位于所述本体在所述第二方向的一端，并靠近所述第二探针模组，用于防止所述第二探针模组沿所述第二方向滑出所述本体。2.根据权利要求1所述的探针检测装置，其特征在于，所述第一治具还包括设于所述第二表面上的第一滑轨和第二滑轨，所述第一滑轨与所述第二滑轨在所述第二表面上沿第三方向间隔排布，所述第二探针模组的两端分别与所述第一滑轨及所述第二滑轨滑动连接，其中，所述第一方向、所述第二方向及所述第三方向两两垂直。3.根据权利要求2所述的探针检测装置，其特征在于，所述第一滑轨及所述第二滑轨分别设有第一限位部，所述第二治具设置有第二限位部，所述第一滑轨及所述第二滑轨的所述第一限位部分别与所述第二限位部限位配合。4.根据权利要求3所述的探针检测装置，其特征在于，所述第一滑轨与所述第二滑轨靠近所述第二治具的一端延伸至所述本体外，并形成所述第一限位部，所述第二限位部为开设于所述第二治具上的限位槽。5.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：杜宝民，
申请(专利权)人：业成科技成都有限公司，业成光电深圳有限公司，英特盛科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：四川,51