探针检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种探针检测装置，该探针检测装置包括第一治具、探针模组以及第二治具，第一治具包括本体，本体包括相对的第一表面及第二表面，第一表面与第二表面沿第一方向排布；探针模组设于第二表面，且探针模组的探针沿第一方向延伸，探针模组包括第一探针模组及第二探针模组，第一探针模组与第二探针模组在第二表面上沿第二方向间隔排布，且第二探针模组能够在第二表面上沿第二方向滑动，以调节第一探针模组与第二探针模组之间的间距；第二治具与本体可拆卸连接，且第二治具位于本体在第二方向的一端，并靠近第二探针模组，用于防止第二探针模组沿第二方向滑出本体。本发明专利技术探针检测装置能够通对不同型号尺寸的产品进行检测。

【技术实现步骤摘要】
探针检测装置
本专利技术涉及探针检测
，特别是涉及一种探针检测装置。
技术介绍
相关技术中，探针检测装置包括模块和探针，探针装设在模块内，探针的上针头用于接触被测物，探针的下针头用于连接电路板，以导出检测信号。然而，由于探针在模块内的位置是固定不动的，使得探针不能对不同型号尺寸的产品进行检测，若需要对不同型号的产品进行检测，就需要重新设计一组新的探针检测装置，以使探针在模块内的排布对应待测产品的尺寸要求，这将严重影响了待测产品的检测效率，而且浪费了大量资源。
技术实现思路
基于此，有必要针对相关技术中的探针检测装置检测效率低下的问题，提供一种探针检测装置。一种探针检测装置，包括：第一治具，包括本体，所述本体包括相对的第一表面及第二表面，所述第一表面与所述第二表面沿第一方向排布；探针模组，设于所述第二表面上，且所述探针模组的探针沿所述第一方向延伸，所述探针模组包括第一探针模组及第二探针模组，所述第一探针模组与所述第二探针模组在所述第二表面上沿第二方向间隔排布，且所述第二探针模组能够在所述第二表面上沿所述第二方向滑动，以调节所述第一探针模组与所述第二探针模组之间的间距；以及第二治具，与所述本体可拆卸连接，且所述第二治具位于所述本体在所述第二方向的一端，并靠近所述第二探针模组，用于防止所述第二探针模组沿所述第二方向滑出所述本体。在上述探针检测装置中，当需要对不同型号尺寸的产品进行检测时，由于第二探针模组能够在第二表面上沿第二方向滑动，从而第一探针模组与第二探针模组之间的距离可以进行调节，以满足不同型号待测产品的尺寸要求，提高了探针检测装置的利用率以及待测产品的检测效率。另外，由于第二治具位于本体在第二方向的一端，并靠近第二探针模组，从而第二治具可以用于防止第二探针模组沿第二方向滑出本体。在其中一个实施例中，所述第一治具还包括设于所述第二表面上的第一滑轨和第二滑轨，所述第一滑轨与所述第二滑轨在所述第二表面上沿第三方向间隔排布，所述第二探针模组的两端分别与所述第一滑轨及所述第二滑轨滑动连接，其中，所述第一方向、所述第二方向及所述第三方向两两垂直。在其中一个实施例中，所述第一滑轨及所述第二滑轨分别设有第一限位部，所述第二治具设置有第二限位部，所述第一滑轨及所述第二滑轨的所述第一限位部分别与所述第二限位部限位配合。在其中一个实施例中，所述第一滑轨与所述第二滑轨靠近所述第二治具的一端延伸至所述本体外，并形成所述第一限位部，所述第二限位部为开设于所述第二治具上的限位槽。在其中一个实施例中，所述探针检测装置包括锁紧件，所述第二探针模组的两端分别开设有第一锁紧孔，所述第一滑轨和所述第二滑轨沿所述第二方向开设有多个第二锁紧孔，所述锁紧件顺次穿设于所述第一锁紧孔和所述第二锁紧孔，以将所述第二探针模组固定于所述第一滑轨和所述第二滑轨。在其中一个实施例中，所述第二治具为U形结构，所述本体在所述第二方向上靠近所述第二探针模组的一端容置于所述U形结构，所述U形结构的相对的两侧板沿所述第三方向排布，所述本体在所述第二方向上的一侧与所述U形结构的槽底抵接。在其中一个实施例中，所述U形结构在所述第一方向的一侧与所述第一表面齐平。在其中一个实施例中，所述探针检测装置包括紧固件，所述U形结构的相对的两侧板分别开设有第一固定孔，所述本体靠近所述U形结构的相对的两侧板的两侧分别开设有第二固定孔，所述紧固件顺次穿设于所述第一固定孔和所述第二固定孔，以将所述本体固定于所述U形结构。在其中一个实施例中，相邻两个所述第一探针模组的探针之间的间距，与相邻两个所述第二探针模组的探针之间的间距相异。在其中一个实施例中，所述第一探针模组和所述第二探针模组的两端分别开设有通孔，所述第一滑轨和所述第二滑轨分别穿设于所述通孔，且所述第一探针模组的通孔形状与所述第二探针模组的通孔形状相异。附图说明图1为本专利技术一实施例的探针检测装置的俯视图；图2为图1中一实施例沿Ⅱ-Ⅱ剖面线的剖面示意图；图3为图1中另一实施例沿Ⅱ-Ⅱ剖面线的剖面示意图。具体实施方式为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本专利技术的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本专利技术。但是本专利技术能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本专利技术内涵的情况下做类似改进，因此本专利技术不受下面公开的具体实施的限制。需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体地实施例的目的，不是旨在于限制本专利技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。如图1所示，本专利技术一实施例的探针检测装置10，能对不同型号尺寸的待测物进行检测。在一实施例，该探针检测装置10包括第一治具100、与第一治具100可拆卸连接的第二治具200、以及活动设于第一治具100的多个探针模组300。在一实施例中，探针模组300包括第一探针模组300a和第二探针模组300b，第二探针模组300b能够相对第一探针模组300a运动，从而相邻两个探针模组300之间的距离可以进行调节，以满足不同型号待测物的尺寸检测要求。如图2所示，其中，探针模组300具有用于对待测物进行检测的多个探针320，探针320包括上针头321以及下针头322，探针320的上针头321用于接触待测物，以完成对待测物的检测，探针320的下针头322用于通过线路与电路板连接，以将检测信号导出。当相邻两个探针模组300之间的距离发生变化时，也即相邻两个探针模组300中的探针320的距离发生改变。在一实施例中，请继续参考图1和图2，第一治具100包括本体110、第一滑轨120、以及第二滑轨130，本体110包括相对的第一表面110a和第二表面110b，第一表面110a与第二表面110b沿第一方向Z排布。第一滑轨120与第二滑轨130设于第二表面110b且沿第二方向X延伸，另外，第一滑轨120和第二滑轨130在第二表面110b上沿第三方向Y间隔排布。其中，第一方向Z、第二方向X及第三方向Y两两相互垂直。探针模组300设于第二表面110b。在一实施例中，探针模组300包括滑块310以及探针320，滑块310的两端分别与第一滑轨121和第二滑轨122滑动连接，探针320的数量为多个，多个探针320设于滑块310。在一实施例中，多个探针320沿第三方向Y顺序排布，每一探针320沿第一方向Z延伸。在一实施例中，探针模组300包括第一探针模组300a及第二探针模组300b，第一探针模组300a与第二探针模组300b在第二表面110b上沿第二方向X间隔排布，第二探针模组300b能够在第二表面110b上沿第二方向X滑动，以调节第一探针模组300a与第二探针模组300b之间的间距。需要说明的是，探针检测装置10在使用时，需要将探针检测装置10水平放于工作台上，此时第一方向Z可以理解为竖直方向，探针320的上针头32本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种探针检测装置，其特征在于，包括：第一治具，包括本体，所述本体包括相对的第一表面及第二表面，所述第一表面与所述第二表面沿第一方向排布；探针模组，设于所述第二表面上，且所述探针模组的探针沿所述第一方向延伸，所述探针模组包括第一探针模组及第二探针模组，所述第一探针模组与所述第二探针模组在所述第二表面上沿第二方向间隔排布，且所述第二探针模组能够在所述第二表面上沿所述第二方向滑动，以调节所述第一探针模组与所述第二探针模组之间的间距；以及第二治具，与所述本体可拆卸连接，且所述第二治具位于所述本体在所述第二方向的一端，并靠近所述第二探针模组，用于防止所述第二探针模组沿所述第二方向滑出所述本体。

【技术特征摘要】
1.一种探针检测装置，其特征在于，包括：第一治具，包括本体，所述本体包括相对的第一表面及第二表面，所述第一表面与所述第二表面沿第一方向排布；探针模组，设于所述第二表面上，且所述探针模组的探针沿所述第一方向延伸，所述探针模组包括第一探针模组及第二探针模组，所述第一探针模组与所述第二探针模组在所述第二表面上沿第二方向间隔排布，且所述第二探针模组能够在所述第二表面上沿所述第二方向滑动，以调节所述第一探针模组与所述第二探针模组之间的间距；以及第二治具，与所述本体可拆卸连接，且所述第二治具位于所述本体在所述第二方向的一端，并靠近所述第二探针模组，用于防止所述第二探针模组沿所述第二方向滑出所述本体。2.根据权利要求1所述的探针检测装置，其特征在于，所述第一治具还包括设于所述第二表面上的第一滑轨和第二滑轨，所述第一滑轨与所述第二滑轨在所述第二表面上沿第三方向间隔排布，所述第二探针模组的两端分别与所述第一滑轨及所述第二滑轨滑动连接，其中，所述第一方向、所述第二方向及所述第三方向两两垂直。3.根据权利要求2所述的探针检测装置，其特征在于，所述第一滑轨及所述第二滑轨分别设有第一限位部，所述第二治具设置有第二限位部，所述第一滑轨及所述第二滑轨的所述第一限位部分别与所述第二限位部限位配合。4.根据权利要求3所述的探针检测装置，其特征在于，所述第一滑轨与所述第二滑轨靠近所述第二治具的一端延伸至所述本体外，并形成所述第一限位部，所述第二限位部为开设于所述第二治具上的限位槽。5.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：杜宝民，
申请(专利权)人：业成科技成都有限公司，业成光电深圳有限公司，英特盛科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：四川,51