一种微型片式陶瓷电容批量老化及测试方法技术

本发明专利技术提供了一种微型片式陶瓷电容批量老化及测试方法，能够使电容在连续进行老化和测试时效率高。先将电容封装在封闭式夹具中，当要进行测试时，将其插入测试机中进行测试，其特征在于：当需要进行老化时，先将装有电容的封闭式夹具插装在老化板上，每个老化板上的封闭式夹具数量大于等于2个，再将装载有封闭式夹具的老化板插入老化机进行老化。

【技术实现步骤摘要】
一种微型片式陶瓷电容批量老化及测试方法
本专利技术涉及电容检测
，具体为一种微型片式陶瓷电容批量老化及测试方法。
技术介绍
微型片式陶瓷电容MLCC已向0402及0201甚至更小的方向发展，在高可靠级别筛选所需的测试及老化工序操作时不能丢失电容。而另一种单层陶瓷电容SLCC采用精密的金层电极用于金线焊接工艺，不允许电极表面受到任何损伤。为满足上述情况，现有技术已发展出封闭的工装夹具例如申请号为CN201520419225.0的一种用于单层电容的测试夹具，采用这种夹具进行测试既不损伤电容电极，也不会在操作中丢失电容，虽然该申请中也提到了可以将夹具直接用于老化，由于老化时间非常长，直接用夹具插在老化机上进行老化，效率低，难以实现大批量的老化，并且由于老化机成本较高，不能有效利用老化机。现有技术也有采用独立老化座的方式，每个老化座内部可以装载一颗电容，也可以装载多个电容，以全并联方式进行加电老化，但是虽然能够提升老化效率，但是由于每个电容不能有独立电连接线引出，所以采用独立老化座的方式不能用于测量，也不能测量每个电容的电接触状态。而由于夹具装料及卸料需要一定的操作时间，所以如果采用老化座的方式进行老化，再拆卸老化座，用上述测试夹具进行测试，同样效率较低，还可能因更换夹具导致电容遗失，同时也不利于电容的追踪。
技术实现思路
针对现有电容在连续进行老化和测试效率低的问题，本专利技术提供了一种微型片式陶瓷电容批量老化及测试方法，能够使电容在连续进行老化和测试时效率高。其技术方案是这样的：一种微型片式陶瓷电容批量老化及测试方法，先将电容封装在封闭式夹具中，当要进行测试时，将装有电容的封闭式夹具插入测试机中进行测试，其特征在于：当需要进行老化时，先将装有电容的封闭式夹具插装在老化板上，每个老化板上的封闭式夹具数量大于等于2个，再将装载有封闭式夹具的老化板插入老化机进行老化。其进一步特征在于：所述封闭式夹具通过夹具插座插装到老化板上后，每个电容的一端通过老化板上的夹具插口与老化板上的一个限流电阻相连，电阻另一端与夹具上的其它所有电容所串接电阻的另一端并接在一起，形成老化加电的一端；电容的另一端通过老化板上的插口接至老化板上，与其它电容的同一端串接在一起，构成老化加电的另一端；在将装载有封闭式夹具的老化板插入老化机进行老化前，先将其插入接触测试装置确定夹具内电容接触是否良好；所述测试机上设有两个测试插口，所述测试插口与控制器电控连接，分别用于容量、损耗测试和绝缘电阻、耐压测试；所述测试机连接有加热箱，所述加热箱内设有测试插口用于在高温下测量绝缘电阻。采用了这样的方法后，在将电容封装于封闭式夹具中后，如果需要进行测试，直接将封闭式夹具插入测试机中进行测试即可，如果要进行老化，通过将封闭式夹具插装在老化板上，再将插装有多个封闭式夹具的老化板插装在老化机的一个插口上进行老化，实现大批量老化，大大提升了老化效率。附图说明图1为封闭式夹具安装于老化板上后的结构图；图2为测试机结构图；图3为老化机结构图；图4为电容安装于老化板上后的电路图。具体实施方式一种微型片式陶瓷电容批量老化及测试方法，先将电容封装在封闭式夹具1中，当要进行测试时，将其插入测试机4中进行测试，当需要进行老化时，先将装有电容的封闭式夹具1通过插座3插装在老化板2上，如图1所示，每个老化板2上的封闭式夹具1数量为6个，再将装载有封闭式夹具1的老化板2插入如图3所示的老化机5的插口5-1进行老化，一个老化机5插装多个老化板。采用了这样的方法后，在将电容封装于封闭式夹具1中后，如果需要进行测试，直接将封闭式夹具1插入测试机4中进行测试即可，如果要进行老化，通过将封闭式夹具1插装在老化板2上，再将插装有多个封闭式夹具1的老化板2插装在老化机5的一个插口5-1上进行老化，一台老化机5可以同时插装多个老化板2实现大批量老化，大大提升了老化效率。如图4所示，封闭式夹具1通过夹具插座3插装到老化板上后，每个电容的一端通过老化板2上的夹具插座3与老化板2上的一个限流电阻2-1相连，电阻2-1另一端与夹具上的其它所有电容所串接电阻的另一端并接在一起，形成老化加电的一端；电容的另一端通过老化板2上的插口接至老化板2上，与其它电容的同一端串接在一起，构成老化加电的另一端，夹具内任何电容在老化中若发生击穿短路，因串有电阻限流，不会导致其它电容短路，因而不会引起其它电容上的加电电压发生降低现象。以此方法可以采用在老化机中对数量较多的老化板2进行加电，每块老化板2又装有多个封闭式夹具1，从而实现低成本的电容大批量加电老化。老化结束后，可再将取出的封闭式夹具1直接插入测试机4进行测试，筛除不合格电容。如图2所示，测试机4上设有两个测试插口4-1，测试插口4-1与控制器电控连接，分别用于容量、损耗测试的交流参数和绝缘电阻、耐压测试的直流参数；测试机4连接有加热箱4-2，加热箱4-2内设有测试插口用于在高温下测量绝缘电阻，如图4所示，测试时通过第一测试点4-3和第二测试点4-4将电容2-1连接至测试电路中对电容2-1进行测试。另外，在将装载有封闭式夹具1的老化板2插入老化机5进行老化前，先将其插入接触测试装置确定夹具内电容接触是否良好，可以通过测试机4来对电容2-1进行电容测试，测量封闭式夹具1中电容的接触状态。以上，仅为本专利技术较佳的具体实施方式，但本专利技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉该技术的人在本专利技术所揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本专利技术的保护范围之内。因此，本专利技术的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种微型片式陶瓷电容批量老化及测试方法，先将电容封装在封闭式夹具中，当要进行测试时，将装有电容的封闭式夹具插入测试机中进行测试，其特征在于：当需要进行老化时，先将装有电容的封闭式夹具插装在老化板上，每个老化板上的封闭式夹具数量大于等于2个，再将装载有封闭式夹具的老化板插入老化机进行老化。

【技术特征摘要】
1.一种微型片式陶瓷电容批量老化及测试方法，先将电容封装在封闭式夹具中，当要进行测试时，将装有电容的封闭式夹具插入测试机中进行测试，其特征在于：当需要进行老化时，先将装有电容的封闭式夹具插装在老化板上，每个老化板上的封闭式夹具数量大于等于2个，再将装载有封闭式夹具的老化板插入老化机进行老化。2.根据权利要求1所述的一种微型片式陶瓷电容批量老化及测试方法，其特征在于：所述封闭式夹具通过夹具插座插装到老化板上后，每个电容的一端通过老化板上的夹具插口与老化板上的一个限流电阻相连，电阻另一端与夹具上的其它所有电容所串接电阻的另一端并接在一起，形成老化加电的一端；电容的另一端通过老化板...

【专利技术属性】
技术研发人员：熊焰明，高敬一，
申请(专利权)人：江苏伊施德创新科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32