一种滚动接触式同步探针装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种滚动接触式同步探针装置，属于物理实验仪器技术领域。一种滚动接触式同步探针装置，含有测量探针；测量探针的探针杆的底部尖端设有滚珠。所述测量探针7上方还可以设有配重块6。同步探针装置还可以设有辅助导线8。本实用新型专利技术设计了一个降低磨损的同步探针机构，测量探针采取滚动接触的方式采集数据，大大降低了探针端部的磨损程度，能防止探针磨损导致的数据不稳定、误差过大的问题，同时能够延长仪器使用寿命，提高了仪器使用的稳定性和可靠性，测量手臂通过增加辅助导线的方式，保证了实验过程中仪器电路接通的稳定性和可靠性，避免实验系统误差，使实验结果更加精确。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种滚动接触式同步探针装置，属于物理实验仪器

技术介绍
在大学物理实验课程中，“静电场的模拟法描绘”实验属于基础性实验，仪器使用人数和使用频率非常高。在实验仪器的选用上，导电微晶静电场描绘仪由于结构简单操作方便，被广泛采用。同步探针是导电微晶静电场描绘仪的重要组成部分，在实验数据采集过程中发挥着重要作用。连接电路后，同步探针的下部的测量探针与导电微晶板保持接触实现电路，测量探针与导电微晶板理想状态应是点接触，但由于工艺实现困难并防止使用时折断，导电微晶静电场描绘仪的测量探针通常采用直径2mm左右的黄铜棒材，探针端部加工成带尖的结构。现有仪器结构主要存在如下的问题。1、测量探针的磨损会加大实验数据误差。实验过程中，为了使测量探针与导电介质稳定接触，会用力按压测量接触装置。同时为了精确的找到正确的电压值点位，还需用测量探针装置在该电位附近来回划动测量，以找到所需电压值的位置。因此，当仪器使用了一段时间之后，测量探针的尖端部分会被逐步磨损成一个凹凸不平的面，同时接触面积会增大，导致测量读数的时候，显示屏上的读数不稳定，上下浮动，从而在测量时找到了错误的等位点，使描绘图像出现较大误差。因此，由于测量探针的磨损，造成测量时电位不稳定而引入了误差。此外，测量探针磨损后，探针高度降低，使得实验过程中测量探针和记录探针的同步性受到影响，即磨损后上下两个探针在同一铅锤面的要求不能保证。2、测量手臂结构会引入误差。导电微晶静电场描绘仪内部电路与测量探针通过测量手臂来完成回路的，测量手臂是由底座、手柄和连接片等金属支架配合测量探针、螺母等组成，由于测量手臂长期暴露于空气中，测量探针与连接片的接点容易生锈，导致电路接通状态的不稳定，同时因为铁锈的影响，导致电阻变大，使测量值偏离真实值，严重影响实验结果。
技术实现思路
本技术提供了一种滚动接触式同步探针装置，尤其适用于导电微晶静电场描绘仪，具有使用寿命长、仪器稳定、数据可靠等特点。为了解决上述问题，本技术的技术方案如下：一种滚动接触式同步探针装置，含有测量探针7；所述测量探针7的探针杆71的底部尖端设有滚珠72。优选地，所述测量探针7上方设有配重块6。更优选地，所述装置还设有辅助导线8；所述辅助导线8与测量探针7相连。优选地，所述同步探针装置，包括底座1、手柄2、接线柱3、上连接片4、记录探针5、测量探针7和下连接片9；所述底座1位于装置最底端；所述手柄2位于底座1上方、且与底座1固定连接；所述手柄2上部设有接线柱3；所述手柄2和底座1之间夹有下连接片9；所述下连接片9远离手柄2一端的端部设有测量探针7，且下连接片9与上连接片4平行设置；所述上连接片4的一端垂直连接于手柄2的顶端，另一端的端部连有记录探针5；所述记录探针5穿过上连接片4且尖端向下设置；所述测量探针7的探针杆71的底部尖端设有滚珠72；所述测量探针7穿过下连接片9且尖端向下设置。更优选地，所述同步探针装置，包括底座1、手柄2、接线柱3、上连接片4、记录探针5、测量探针7、辅助导线8和下连接片9；所述底座1位于装置最底端；所述手柄2位于底座1上方、且与底座1固定连接；所述手柄2上部设有接线柱3；所述手柄2和底座1之间夹有下连接片9；所述下连接片9远离手柄2一端的端部设有测量探针7，且下连接片9与上连接片4平行设置；所述上连接片4的一端垂直连接于手柄2的顶端，另一端的端部连有记录探针5；所述记录探针5穿过上连接片4且尖端向下设置；所述测量探针7的探针杆71的底部尖端设有滚珠72；所述测量探针7穿过下连接片9且尖端向下设置；所述辅助导线8一端与接线柱3连接，另一端与测量探针7连接。优选地，所述辅助导线8一部分位于手柄2侧方，另一部分位于下连接片9的上方。优选地，所述测量探针7的探针杆71直径呈阶梯过渡式减小，底端加工成锥面，锥面尖端加工有内孔，内孔装有滚珠72且底端进行收口73。优选地，所述手柄2的两端开有同向的限位槽。优选地，所述上连接片4通过紧固件固定于手柄2的顶端。优选地，所述下连接片9与上连接片4尺寸相同。最优选地，所述同步探针装置，包括底座1、手柄2、接线柱3、上连接片4、记录探针5、配重块6、测量探针7、辅助导线8和下连接片9；所述底座1位于装置最底端；所述手柄2位于底座1上方且与底座1固定连接；所述手柄2上部设有接线柱3；所述手柄2和底座1之间夹有下连接片9；所述下连接片9远离手柄2一端的端部设有测量探针7，且下连接片9与上连接片4平行设置；所述上连接片4的一端垂直连接于手柄2的顶端，另一端的端部连有记录探针5；所述记录探针5穿过上连接片4且尖端向下设置；所述测量探针7上方设有配重块6；所述测量探针7的探针杆71的底部尖端设有滚珠72；所述测量探针7穿过下连接片9且尖端向下设置；所述辅助导线8一端与接线柱3连接，另一端与测量探针7连接。本技术能够克服如下技术问题：1、仪器长期使用时，测量探针与导电微晶板滑动摩擦产生磨损，探针接触面积凹凸不平以及增大导致的数据误差加大，因磨损导致同步探针缩短导致记录探针和测量探针脱离同一铅锤面，影响测量结果。2、测量探针与连接片的接点容易生锈，导致电路接通状态的不稳定，同时因为铁锈的影响，导致电阻变大，使测量值偏离真实值，严重影响实验结果。本技术装置主要特征：1)本技术专利技术的同步探针结构，采用滚动摩擦的方式，能够大大降低探针磨损程度，减少因测量探针磨损导致的实验数据误差，提高实验数据测量的稳定性可靠性，延长仪器使用寿命；2)本技术专利技术增加了辅助导线到测试电路中，避免了几处接点位置因表面腐蚀导致电路接触电阻加大，能够降低测量手臂接触电阻，提高数据测量精确度，保证电路的稳定性；3)与旧的同步探针兼容性继承性好，可通过更换滚动接触式测量探针和增加辅助导线方式对旧仪器改造升级，经济实用，成本不高。本技术设计了一个降低磨损的同步探针机构，测量探针采取滚动接触的方式采集数据，大大降低了探针端部的磨损程度，能防止探针磨损导致的数据不稳定、误差过大的问题，同时能够延长仪器使用寿命。与现有结构比，滚动接触式结构的探针直径可以适当增加，能防止使用过程中折断和变形，提高了仪器使用的稳定性和可靠性。测量手臂通过增加辅助导线的方式，保证了实验过程中仪器电路接通的稳定性和可靠性，避免实验系统误差，使实验结果更加精确。附图说明图1为本技术的结构示意图；(1，底座；2，手柄；3，接线柱；4，上连接片；5，记录探针；6，配重块；7，测量探针；8，辅助导线；9，下连接片)。图2为本技术测量探针7结构示意图。图3为本技术图2中I处的局部放大图；(71，探针杆；72，滚珠；73，收口)具体实施方式下面结合具体实施例对本技术做进一步说明，但本技术不受实施例的限制。在本技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”和“竖着”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。在本实用新本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种滚动接触式同步探针装置，其特征在于，含有测量探针(7)；所述测量探针(7)的探针杆(71)的底部尖端设有滚珠(72)。

【技术特征摘要】
1.一种滚动接触式同步探针装置，其特征在于，含有测量探针(7)；所述测量探针(7)的探针杆(71)的底部尖端设有滚珠(72)。2.根据权利要求1所述同步探针装置，其特征在于，所述测量探针(7)上方设有配重块(6)。3.根据权利要求1所述同步探针装置，其特征在于，所述装置还设有辅助导线(8)；所述辅助导线(8)与测量探针(7)相连。4.根据权利要求1所述同步探针装置，其特征在于，包括底座(1)、手柄(2)、接线柱(3)、上连接片(4)、记录探针(5)、测量探针(7)和下连接片(9)；所述底座(1)位于装置最底端；所述手柄(2)位于底座(1)上方、且与底座(1)固定连接；所述手柄(2)上部设有接线柱(3)；所述手柄(2)和底座(1)之间夹有下连接片(9)；所述下连接片(9)远离手柄(2)一端的端部设有测量探针(7)，且下连接片(9)与上连接片(4)平行设置；所述上连接片(4)的一端垂直连接于手柄(2)的顶端，另一端的端部连有记录探针(5)；所述记录探针(5)穿过上连接片(4)且尖端向下设置；所述测量探针(7)的探针杆(71)的底部尖端设有滚珠(72)；所述测量探针(7)穿过下连接片(9)且尖端向下设置。5.根据权利要求4所述同步探针装置，其特征在于，所述装置还设有辅助导线(8)；所述辅助导线(8)一端与接线柱(3)连接，另一端与测量探针(7)连接。6.根据权利要求5所述同步探针装置，其特征在于，所述辅助导线(8)一部分位于手柄(...

【专利技术属性】
技术研发人员：于力刚，何君琦，
申请(专利权)人：淮北师范大学，
类型：新型
国别省市：安徽;34