一种薄膜晶体管的设计方法及计算机可读介质技术

技术编号:21200470 阅读:25 留言:0更新日期:2019-05-25 01:25
本发明专利技术公开了一种薄膜晶体管的设计方法及计算机可读介质,该薄膜晶体管的设计方法包括:根据柔性显示屏所需的弯折设计参数和柔性显示屏中薄膜晶体管的设计结构参数,确定薄膜晶体管的弯折参数以及应变参数;根据薄膜晶体管的应变参数、弯折参数、设计结构参数以及预先建立的态密度多因素方程,确定薄膜晶体管在弯折前后的态密度变化量;根据态密度变化量确定薄膜晶体管的电学特性。通过上述方法在柔性显示屏完成之前,根据薄膜晶体管的应变参数、弯折参数、设计结构参数以及预先建立的态密度多因素方程可以预测出薄膜晶体管的电学特性,节约了检测成本,并且可以根据预测结构调整薄膜晶体管的结构设计以防止柔性显示屏弯折后薄膜晶体管失效。

A Design Method of Thin Film Transistor and Computer Readable Media

The invention discloses a design method of thin film transistor and a computer readable medium. The design method of thin film transistor includes: determining the bending parameters and strain parameters of thin film transistor according to the bending design parameters required by flexible display screen and the design structural parameters of thin film transistor in flexible display screen; and according to the strain parameters, bending parameters and design of thin film transistor. The structure parameters and the pre-established multi-factor equation of density of states are used to determine the variation of density of states of thin film transistors before and after bending, and the electrical characteristics of thin film transistors are determined according to the variation of density of states. Before the flexible display screen is completed, the electrical characteristics of thin film transistors can be predicted according to the strain parameters, bending parameters, design structural parameters and the pre-established multi-factor equation of density of states. The cost of detection can be saved, and the structure design of thin film transistors can be adjusted according to the predicted structure to prevent the thin film crystals from bending after flexible display screen. Tube failure.

【技术实现步骤摘要】
一种薄膜晶体管的设计方法及计算机可读介质
本专利技术涉及显示
,尤其涉及一种薄膜晶体管的设计方法及计算机可读介质。
技术介绍
随着显示技术的发展,柔性显示屏由于具有轻薄、可卷曲、可折叠、便携、不易碎等优点,使得基于柔性基底材料的柔性显示屏具有广阔的应用场景。相关技术中,柔性显示屏弯折之后弯折处的薄膜晶体管的电学特性会发生变化,例如薄膜晶体管的开启和关闭电流、迁移率和阈值电压都会发生变化,严重情况下显示会出现异常。目前对于弯折之后的薄膜晶体管的电学特性的测试是在柔性显示屏完成之后对薄膜晶体管的电学特性进行测试,但此方法无法实现对薄膜晶体管的电学特性进行实验前的预测,亦无法对薄膜晶体管是否失效做出预测,从而增加了测试成本。因此,如何在柔性显示屏完成之间对薄膜晶体管的电学性能进行预测,实现对薄膜晶体管的设计是本领域技术人员亟待解决的技术问题。
技术实现思路
本专利技术提供了一种薄膜晶体管的设计方法及计算机可读介质,用以解决相关技术中不能在柔性显示屏完成之间对薄膜晶体管的电学性能进行预测,从而无法对薄膜晶体管提前进行设计的问题。一方面,本专利技术实施例提供了一种薄膜晶体管的设计方法,所述薄膜晶体管应用于柔性显示屏,包括:根据柔性显示屏所需的弯折设计参数和所述柔性显示屏中薄膜晶体管的设计结构参数,确定所述薄膜晶体管的弯折参数以及应变参数;根据所述薄膜晶体管的应变参数、弯折参数、设计结构参数以及预先建立的态密度多因素方程,确定所述薄膜晶体管在弯折前后的态密度变化量;根据所述态密度变化量确定所述薄膜晶体管的电学特性。在一种可能的实现方式中,在本专利技术实施例提供的上述薄膜晶体管的设计方法中,根据柔性显示屏所需的弯折设计参数和所述柔性显示屏中薄膜晶体管的设计结构参数,确定所述薄膜晶体管的弯折参数以及应变参数,具体包括:根据所述待弯折柔性显示屏所需的弯折设计参数、所述薄膜晶体管的设计结构参数以及所述薄膜晶体管所处位置,确定所述薄膜晶体管的所述弯折参数;根据所述弯折参数和所述设计结构参数,确定所述薄膜晶体管的所述应变参数。在一种可能的实现方式中,在本专利技术实施例提供的上述薄膜晶体管的设计方法中,根据所述薄膜晶体管的应变参数、弯折参数、设计结构参数以及预先建立的态密度多因素方程,确定所述薄膜晶体管在弯折前后的态密度变化量,之前还包括:根据所述弯折参数、所述应变参数、所述设计结构参数以及拟合态密度变化量,建立所述态密度多因素方程。在一种可能的实现方式中,在本专利技术实施例提供的上述薄膜晶体管的设计方法中,建立所述态密度多因素方程,具体包括:确定所述弯折参数和所述设计结构参数、以及与所述弯折参数和所述设计结构参数对应的所述应变参数;确定所述薄膜晶体管弯折前后,所述薄膜晶体管的所述拟合态密度变化量;根据所述弯折参数、所述设计结构参数、所述应变参数以及检测得到的所述拟合态密度变化量,分别确定所述弯折参数、所述设计结构参数以及所述应变参数对应的系数;根据所述弯折参数、所述设计结构参数以及所述应变参数分别对应的系数,建立回归方程,确定所述态密度多因素方程。在一种可能的实现方式中,在本专利技术实施例提供的上述薄膜晶体管的设计方法中,确定所述薄膜晶体管弯折前后,所述薄膜晶体管的所述拟合态密度变化量,具体包括:检测所述薄膜晶体管弯折前后的电流和电压参数;根据所述电流和电压参数,以及预设的所述电流和电压参数与所述拟合态密度变化量之间的关系,确定所述拟合态密度变化量。在一种可能的实现方式中,在本专利技术实施例提供的上述薄膜晶体管的设计方法中,所述弯折参数包括:所述薄膜晶体管的弯折形态参数、弯折次数和弯折半径之一或组合。在一种可能的实现方式中,在本专利技术实施例提供的上述薄膜晶体管的设计方法中,所述方法还包括:判断所述薄膜晶体管的电学特性是否符合预设的标准特性;当所述薄膜晶体管的电学特性符合预设的标准特性时,则确定所述薄膜晶体管的设计结构参数适用于所述柔性显示屏的弯折设计参数。在一种可能的实现方式中,在本专利技术实施例提供的上述薄膜晶体管的设计方法中,还包括:当所述薄膜晶体管的电学特性不符合预设的标准特性时,调整所述薄膜晶体管的所述设计结构参数,重新确定所述薄膜晶体管的电学特性,直至符合预设的标准特性为止。在一种可能的实现方式中,在本专利技术实施例提供的上述薄膜晶体管的设计方法中,所述薄膜晶体管的所述设计结构参数包括:所述薄膜晶体管的沟道宽长比、迁移率和等效电容之一或组合。另一方面,本专利技术实施例提供了一种计算机可读介质,包括程序代码,当所述程序代码在计算设备上运行时,所述程序代码用于使所述计算设备执行上述任一实施例所述的薄膜晶体管的设计方法的步骤。本专利技术有益效果如下:本专利技术实施例提供了一种薄膜晶体管的设计方法及计算机可读介质,该薄膜晶体管的设计方法包括:根据柔性显示屏所需的弯折设计参数和所述柔性显示屏中薄膜晶体管的设计结构参数,确定所述薄膜晶体管的弯折参数以及应变参数;根据所述薄膜晶体管的应变参数、弯折参数、设计结构参数以及预先建立的态密度多因素方程,确定所述薄膜晶体管在弯折前后的态密度变化量;根据所述态密度变化量确定所述薄膜晶体管的电学特性。通过上述方法在柔性显示屏完成之前,根据薄膜晶体管的应变参数、弯折参数、设计结构参数以及预先建立的态密度多因素方程可以预测出薄膜晶体管的电学特性,节约了检测成本,并且可以根据预测结构调整薄膜晶体管的结构设计以防止柔性显示屏弯折后薄膜晶体管失效。附图说明图1为本专利技术实施例提供的薄膜晶体管的设计方法的方法流程图;图2为本专利技术实施例提供的建立态密度多因素方程的方法流程图。具体实施方式在柔性显示屏中,弯折后的薄膜晶体管会受到应变和应力的作用,从而导致薄膜晶体管的有源层的晶体原子结构和周期性都会发生变化,继而能带形状、载流子有效质量、散射情况、态密度等都会发生变化,最终导致器件特性变化。不同弯折形态(内弯、外弯、沿沟道方向、垂直沟道方向等)、不同弯折次数、不同结构参数(如薄膜晶体管的沟道宽长比)、不同弯折半径等情况下薄膜晶体管的电学特性所发生的变化会有所不同,严重的会导致显示异常。相关技术中,在柔性显示屏制作完成之后对弯折前后的薄膜晶体管的电学特性进行测量,但是该种方式无法实现在制作前对薄膜晶体管的电学特性进行预测以调整薄膜晶体管的设计,极大的增加了设计的成本。针对相关技术中,在对薄膜晶体管进行设计时存在的上述问题,本专利技术实施例提供了一种薄膜晶体管的设计方法及计算机可读介质。为了使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本专利技术作进一步地详细描述,显然,所描述的实施例仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本专利技术保护的范围。附图中各部件的形状和大小不反应真实比例,目的只是示意说明本
技术实现思路
。具体地,如图1所示,本专利技术实施例提供了中薄膜晶体管的设计方法,包括:S101、根据柔性显示屏所需的弯折设计参数和柔性显示屏中薄膜晶体管的设计结构参数,确定薄膜晶体管的弯折参数以及应变参数;具体地,柔性显示屏的弯折设计参数可以包括柔性显示屏的弯折半径、弯折形态(内弯、外弯、沿沟道方向弯、垂直沟道方向弯等)、弯折次数等;薄膜晶体管的设计结构参数包括:薄本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种薄膜晶体管的设计方法,所述薄膜晶体管应用于柔性显示屏,其特征在于,包括:根据柔性显示屏所需的弯折设计参数和所述柔性显示屏中薄膜晶体管的设计结构参数,确定所述薄膜晶体管的弯折参数以及应变参数;根据所述薄膜晶体管的应变参数、弯折参数、设计结构参数以及预先建立的态密度多因素方程,确定所述薄膜晶体管在弯折前后的态密度变化量;根据所述态密度变化量确定所述薄膜晶体管的电学特性。

【技术特征摘要】
1.一种薄膜晶体管的设计方法,所述薄膜晶体管应用于柔性显示屏,其特征在于,包括:根据柔性显示屏所需的弯折设计参数和所述柔性显示屏中薄膜晶体管的设计结构参数,确定所述薄膜晶体管的弯折参数以及应变参数;根据所述薄膜晶体管的应变参数、弯折参数、设计结构参数以及预先建立的态密度多因素方程,确定所述薄膜晶体管在弯折前后的态密度变化量;根据所述态密度变化量确定所述薄膜晶体管的电学特性。2.如权利要求1所述的薄膜晶体管的设计方法,其特征在于,根据柔性显示屏所需的弯折设计参数和所述柔性显示屏中薄膜晶体管的设计结构参数,确定所述薄膜晶体管的弯折参数以及应变参数,具体包括:根据所述待弯折柔性显示屏所需的弯折设计参数、所述薄膜晶体管的设计结构参数以及所述薄膜晶体管所处位置,确定所述薄膜晶体管的所述弯折参数;根据所述弯折参数和所述设计结构参数,确定所述薄膜晶体管的所述应变参数。3.如权利要求1所述的薄膜晶体管的设计方法,其特征在于,根据所述薄膜晶体管的应变参数、弯折参数、设计结构参数以及预先建立的态密度多因素方程,确定所述薄膜晶体管在弯折前后的态密度变化量,之前还包括:根据所述弯折参数、所述应变参数、所述设计结构参数以及拟合态密度变化量,建立所述态密度多因素方程。4.如权利要求3所述的薄膜晶体管的设计方法,其特征在于,建立所述态密度多因素方程,具体包括:确定所述弯折参数和所述设计结构参数、以及与所述弯折参数和所述设计结构参数对应的所述应变参数;确定所述薄膜晶体管弯折前后,所述薄膜晶体管的所述拟合态密度变化量;根据所述弯折参数、所述设计结构参数、所述应变参数以及检测得到的所述拟合态密度变化量,分...

【专利技术属性】
技术研发人员:贾倩王新星詹裕程徐晓娜
申请(专利权)人:京东方科技集团股份有限公司
类型:发明
国别省市:北京,11

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