一种电子元件性能检测方法、装置、可读介质及电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种电子元件性能检测方法、装置、可读介质及电子设备，方法包括：确定正常运行的电子设备中目标电子元件以各个工作频率运行时所分别对应的基准温度值，并根据各个所述基准温度值生成基准温度曲线；实时检测所述电子设备中所述目标电子元件的当前工作频率及当前温度值；查询所述基准温度曲线以确定所述当前工作频率所对应的基准温度值；计算所述当前温度值与所述当前工作频率所对应的基准温度值之间的温度差，并确定所述温度差是否大于第一预设温度；当所述温度差大于所述第一预设温度时，确定所述目标电子元件发生性能衰减。通过本发明专利技术的技术方案，可确定电子电子元件是否发生性能衰减。

【技术实现步骤摘要】
一种电子元件性能检测方法、装置、可读介质及电子设备
本专利技术涉及计算机
，尤其涉及一种电子元件性能检测方法、装置、可读介质及电子设备。
技术介绍
在服务器、执行大规模数据处理任务的计算机等电子设备完成部署并正常运行之后，其内部的CPU、内存以及硬盘等电子元件可能在长时间的使用过程中发生性能衰减。当电子设备内部的电子元件发生性能衰减之后，若电子设备持续运行而未对其内部发生性能衰减的电子元件及时进行维护，则可能导致电子设备发生故障而影响相应业务的正常进行。因此，如何实现确定电子元件是否发生性能衰减则成为亟待解决的问题。
技术实现思路
本专利技术提供一种电子元件性能检测方法、装置、可读介质及电子设备，可确定电子元件是否发生性能衰减。第一方面，本专利技术提供了一种电子元件性能检测方法，包括：确定正常运行的电子设备中目标电子元件以各个工作频率运行时所分别对应的基准温度值，并根据各个所述基准温度值生成基准温度曲线；实时检测所述电子设备中所述目标电子元件的当前工作频率及当前温度值；查询所述基准温度曲线以确定所述当前工作频率所对应的基准温度值；计算所述当前温度值与所述当前工作频率所对应的基准温度值之间的温度差，并确定所述温度差是否大于第一预设温度；当所述温度差大于所述第一预设温度时，确定所述目标电子元件发生性能衰减。优选地，在所述确定所述目标电子元件发生性能衰减之前，进一步包括：检测所述目标电子元件所对应的各个关联设备的运行参数是否在每一个所述关联设备所分别对应的预设阈值范围之内，如果是，则执行所述确定所述目标电子元件发生性能衰减。优选地，在所述查询所述基准温度曲线以确定所述当前工作频率所对应的基准温度值之前，进一步包括：检测所述目标电子元件是否发生自动降频，如果是，则执行A1；A1，检测所述当前工作频率是否大于额定工作频率，如果否，执行A2；A2，检测所述电子设备所对应的环境温度是否大于第二预设温度，如果是，则执行所述查询所述基准温度曲线以确定所述当前工作频率所对应的基准温度值，否则执行所述确定所述目标电子元件发生性能衰减。优选地，在所述实时检测所述电子设备中所述目标电子元件的当前工作频率及当前温度值之后，进一步包括：以设定时间间隔周期性确定并记录所述目标电子元件在每一个所述时间间隔内以目标频率运行时所分别对应的采样温度值；根据各个所述采样温度值以及各个所述采样温度值所分别对应的记录时间点绘制时间-温度二维曲线图表，并提供所述时间-温度二维曲线图表。第二方面，本专利技术提供了一种电子元件性能检测装置，包括：预处理模块，用于确定正常运行的电子设备中目标电子元件以各个工作频率运行时所分别对应的基准温度值，并根据各个所述基准温度值生成基准温度曲线；检测处理模块，用于实时检测所述电子设备中所述目标电子元件的当前工作频率及当前温度值；查询处理模块，用于查询所述基准温度曲线以确定所述当前工作频率所对应的基准温度值；计算处理模块，用于计算所述当前温度值与所述当前工作频率所对应的基准温度值之间的温度差，并确定所述温度差是否大于第一预设温度；性能确定模块，用于当所述温度差大于所述第一预设温度时，确定所述目标电子元件发生性能衰减。优选地，进一步包括：关联设备检测模块；其中，所述关联设备检测模块，用于当所述温度差大于所述第一预设温度时，检测所述目标电子元件所对应的各个关联设备的运行参数是否在每一个所述关联设备所分别对应的预设阈值范围之内，如果是，则触发所述性能确定模块；则，所述性能确定模块，用于在所述关联设备检测模块的触发下确定所述目标电子元件发生性能衰减。优选地，进一步包括：降频检测模块、满载检测模块、环温检测模块；其中，所述降频检测模块，用于检测所述目标电子元件是否发生自动降频，如果是，则触发所述满载检测模块；则，所述满载检测模块，用于在所述降频检测模块的触发下检测所述当前工作频率是否大于额定工作频率，如果否，则触发所述环温检测模块；所述环温检测模块，用于在所述满载检测模块的触发下检测所述电子设备所对应的环境温度是否大于第二预设温度，如果是，则触发所述查询处理模块，否则触发所述性能确定模块；所述性能确定模块，进一步用于在所述环温检测模块的触发下确定所述电子元件发生性能衰减。优选地，还包括：记录处理模块及数据展示模块；其中，所述记录处理模块，用于以设定时间间隔周期性确定并记录所述目标电子元件在每一个所述时间间隔内以目标频率运行时所分别对应的采样温度值；所述数据展示模块，用于根据各个所述采样温度值以及各个所述采样温度值所分别对应的记录时间点绘制时间-温度二维曲线图表，并提供所述时间-温度二维曲线图表。第三方面，本专利技术提供了一种可读介质，包括执行指令，当电子设备的处理器执行所述执行指令时，所述电子设备执行如第一方面中任一所述的方法。第四方面，本专利技术提供了一种电子设备，包括处理器以及存储有执行指令的存储器，当所述处理器执行所述存储器存储的所述执行指令时，所述处理器执行如第一方面中任一所述的方法。本专利技术提供了一种电子元件性能检测方法、装置、可读介质及电子设备，该方法通过预先确定正常运行的电子设备中目标电子元件以各个工作频率运行时所分别对应的基准温度值，并根据各个基准温度值生成基准温度曲线，该电子设备持续运行时，则实时检测该电子设备中目标电子元件的当前工作频率及当前温度值，然后查询生成的基准温度曲线以确定当前工作频率所对应的基准温度值，并计算当前温度值与从基准温度曲线上查询的基准温度值之间的温度差；如果电子元件未发生性能衰减，则其在不同时刻以相同工作频率工作时所分别对应的温度值应当在一个极小的范围内围绕该工作频率所对应的基准温度值波动，即计算得到的温度差应当相对较小，因此，这里将电子元件以当前工作频率运行时所对应的当前温度值与当前工作频率所对应的基准温度值之间的温度差作为衡量电子元件是否发生性能衰减的依据，当计算的温度差大于第一预设温度时，即可确定电子元件是否发生性能衰减。综上所述，本专利技术提供的技术方案，可确定电子电子元件是否发生性能衰减。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术一实施例提供的一种电子元件性能检测方法的流程示意图；图2为本专利技术一实施例提供的一种电子元件性能检测装置的结构示意图；图3为本专利技术一实施例提供的另一种电子元件性能检测装置的结构示意图；图4为本专利技术一实施例提供的又一种电子元件性能检测装置的结构示意图；图5为本专利技术一实施例提供的一种电子设备的结构示意图。具体实施方式为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合具体实施例及相应的附图对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。如图1所示，本专利技术实施例提供了一种电子元件性能检测方法，包括：步骤101，确定正常运行的电子设备中目标电子元件以各个工作频率运行时所分别对应本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电子元件性能检测方法，其特征在于，包括：确定正常运行的电子设备中目标电子元件以各个工作频率运行时所分别对应的基准温度值，并根据各个所述基准温度值生成基准温度曲线；实时检测所述电子设备中所述目标电子元件的当前工作频率及当前温度值；查询所述基准温度曲线以确定所述当前工作频率所对应的基准温度值；计算所述当前温度值与所述当前工作频率所对应的基准温度值之间的温度差，并确定所述温度差是否大于第一预设温度；当所述温度差大于所述第一预设温度时，确定所述目标电子元件发生性能衰减。

【技术特征摘要】
1.一种电子元件性能检测方法，其特征在于，包括：确定正常运行的电子设备中目标电子元件以各个工作频率运行时所分别对应的基准温度值，并根据各个所述基准温度值生成基准温度曲线；实时检测所述电子设备中所述目标电子元件的当前工作频率及当前温度值；查询所述基准温度曲线以确定所述当前工作频率所对应的基准温度值；计算所述当前温度值与所述当前工作频率所对应的基准温度值之间的温度差，并确定所述温度差是否大于第一预设温度；当所述温度差大于所述第一预设温度时，确定所述目标电子元件发生性能衰减。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述确定所述目标电子元件发生性能衰减之前，进一步包括：检测所述目标电子元件所对应的各个关联设备的运行参数是否在每一个所述关联设备所分别对应的预设阈值范围之内，如果是，则执行所述确定所述目标电子元件发生性能衰减。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述查询所述基准温度曲线以确定所述当前工作频率所对应的基准温度值之前，进一步包括：检测所述目标电子元件是否发生自动降频，如果是，则执行A1；A1，检测所述当前工作频率是否大于额定工作频率，如果否，执行A2；A2，检测所述电子设备所对应的环境温度是否大于第二预设温度，如果是，则执行所述查询所述基准温度曲线以确定所述当前工作频率所对应的基准温度值，否则执行所述确定所述目标电子元件发生性能衰减。4.根据权利要求1至3中任一所述的方法，其特征在于，在所述实时检测所述电子设备中所述目标电子元件的当前工作频率及当前温度值之后，进一步包括：以设定时间间隔周期性确定并记录所述目标电子元件在每一个所述时间间隔内以目标频率运行时所分别对应的采样温度值；根据各个所述采样温度值以及各个所述采样温度值所分别对应的记录时间点绘制时间-温度二维曲线图表，并提供所述时间-温度二维曲线图表。5.一种电子元件性能检测装置，其特征在于，包括：预处理模块，用于确定正常运行的电子设备中目标电子元件以各个工作频率运行时所分别对应的基准温度值，并根据各个所述基准温度值生成基准温度曲线；检测处理模块，用于实时检测所述电子设备中所述目标电子元件的当前工作频率及当前温度值；查询处理模块，用于查询所述基准...

【专利技术属性】
技术研发人员：周健，沈博，
申请(专利权)人：广东优世联合控股集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44