评估光学模块的测试设备和方法技术

能够同时评估两个或更多光学模块的测试设备，光学模块均处理多路复用属于彼此不同的波长的光学信号的波长多路复用信号。测试设备提供第一测试站和第二测试站。在选择所述波长中的一个之后，第一测试站执行属于所述波长中的一个波长且来自第一光学模块的光学信号的第一评估，且第二站同时执行具有波长中的一个的且来自第二光学模块的光学信号的第二评估。随后，第一测试站执行来自第二光学模块的光学信号的第一评估，而第二测试站执行来自第一光学模块的光学信号的第二评估。

Testing equipment and methods for evaluating optical modules

Testing equipment capable of simultaneously evaluating two or more optical modules that process wavelength multiplexing signals that multiplex optical signals belonging to different wavelengths. The test equipment provides the first test station and the second test station. After selecting one of the wavelengths, the first test station performs a first evaluation of the optical signal belonging to one of the wavelengths and coming from the first optical module, and the second station simultaneously performs a second evaluation of the optical signal having one of the wavelengths and coming from the second optical module. Subsequently, the first test station performs the first evaluation of the optical signal from the second optical module, while the second test station performs the second evaluation of the optical signal from the first optical module.

【技术实现步骤摘要】
评估光学模块的测试设备和方法相关申请交叉引用本申请基于在2017年10月25日提交的日本专利申请No.2017-206163的优先权的权益并对其进行保护，其全部内容通过引用并入本文。
本申请涉及用于评估光学模块的测试设备，具体地，涉及用于评估具有发送和接收波长多路复用信号的功能的光学模块的测试设备。
技术介绍
有必要在发送信号之前使用测试设备对生成光学信号的光学发射器进行评估。日本专利特开No.JP2007-271590A已经公开了这种测试设备。在光学模块内实现的发光器件生成光学信号，测试设备通过该光学信号对光学模块进行评估。一种类型的光学模块具有处理波长多路复用信号的功能，即，发送和/或接收波长多路复用信号。测试设备有必要针对相应波长评估光学模块(如，针对相应波长重置测试功能)，这花费足够的节拍时间(tacttime)。
技术实现思路
本专利技术的一个方面涉及一种用于评估第一光学模块和第二光学模块的测试设备，该第一光学模块和第二光学模块均处理波长多路复用信号，该波长多路复用信号多路复用具有彼此不同的特定的波长的光学信号。属于所述第一光学模块的波长和属于所述第二光学模块的波长实质上彼此相等。本专利技术的测试设备包括：第一测试站、第二测试站和控制器。第一测试站分别使用从所述第一光学模块输出的所述光学信号中的一个和从所述第二光学模块输出的所述光学信号中的另一个执行对所述第一光学模块和第二光学模块的第一评估。第二测试站分别使用所述光学信号中的所述一个和所述光学信号中的所述另一个执行对所述第一光学模块和第二光学模块的第二评估。控制器控制所述第一评估和所述第二评估的切换。所述第一测试站和所述第二测试站在第一时间段中分别同时执行所述第一光学模块的所述第一评估和所述第二光学模块的所述第二评估，且在所述第一时间段之后的第二时间段期间，分别同时执行所述第一光学模块的所述第二评估和所述第二光学模块的所述第一评估。本专利技术的测试设备的特征在于，关于各个波长，重复所述第一光学模块和所述第二光学模块的所述第一评估和所述第二评估。本专利技术的另一个方面涉及一种用于评估第一光学模块和第二光学模块的方法。第一光学模块和第二光学模块处理波长多路复用信号，波长多路复用信号多路复用均具有彼此不同的特定的波长的光学信号。本专利技术的方法包括以下步骤：(a)选择所述波长中的一个波长；(b)向第一测试站提供从所述第一光学模块输出的光学信号中的具有所述一个波长的一个光学信号，以及向第二测试站提供从所述第二光学模块输出的所述光学信号中的具有所述一个波长的另一个光学信号；(c)在第一时间段中，同时执行第一评估和第二评估：使用所述一个光学信号在所述第一测试站处执行所述第一光学模块的第一评估，并且使用所述另一个光学信号在所述第二测试站处执行所述第二光学模块的第二评估；(d)在所述第一时间段后的第二时间段中，同时执行第一评估和第二评估：使用所述另一个光学信号在所述第一测试站处执行所述第二光学模块的所述第一评估，并且使用所述一个光学信号在所述第二测试站处执行所述第一光学模块的所述第二评估；以及针对各个波长，重复步骤(a)至步骤(d)。附图说明将参考附图根据本专利技术的优选实施例的以下详细描述更好地理解前述和其他目的、方面以及优点，其中：图1示出测试设备的功能框图；图2A和图2B放大4选1选择器(4:1选择器)和2选2选择器(2:2选择器)，其中，2选2选择器分别处于平行配置和交叉配置；图3A是在测器件(DUT)中的ROSA的功能框图，且图3B是DUT中的发射器的功能框图；图4示出由实施例的测试设备100执行的评估的顺序；图5示出由根据本实施例的测试设备100完成的操作的流程图；图6示出在图5中示出的流程图之后的由测试设备100完成的操作的流程图，以及图7示意性示出用于评估从DUT到测试站的光学损耗的框图。具体实施方式接着，将参考附图描述根据本专利技术的实施例。然而，本专利技术不限于该实施例，且具有在所附权利要求书以及在权利要求书及其等效物中的特征的所有修改和改变中限定的范围。在附图说明中，彼此相同或类似的标记或符号将指代彼此相同或类似的元件，而不进行重复说明。[测试设备]根据本专利技术的实施例的测试设备100评估在测器件(DUT)40a和40b。图1示出测试设备100的功能框图，测试设备100包括控制器10、光学解复用器(12a、12b、24a和24b)、4选1选择器14a和14b、2选2选择器16、分光器18、测试站20a至20d、测试站20e和20f、光源21、补充光源28、光学放大器30以及3选2选择器32。控制器10可以是例如个人计算机且包括中央处理单元(CPU)和存储器(如，硬盘驱动器(HDD)和/或固态驱动器(SSD))。控制器10可以通过执行存储在存储器中的程序控制和管理针对DUT40a和40b执行的评估。具体地，控制器10可以通过设置4选1选择器14a和14b以及2选2选择器16，选择相应DUT40a和40b中的各光学信号所具有(所属)的波长中的一个。另外，控制器10可以初始化测试站20a至20d并通过管理3选2选择器32，来选择从多波长光源22a和22b至DUT40a和40b的光学路径。光源21包括多波长光源22a和22b、光学衰减器25a和25b、光学多路复用器26a和26b。多波长光源22a可生成波长多路复用信号，该信号例如多路复用均具有彼此不同的相应波长的四个光学信号。光学解复用器24a将波长多路复用信号解复用为四个光学信号，这取决于该四个光学信号的波长。光学衰减器25a独立地衰减从光学解复用器24a提供的光学信号的强度，且光学多路复用器26a将因此衰减的光学信号多路复用为波长多路复用信号。即，光学解复用器24a、光学衰减器25a和光学多路复用器26a可生成波长多路复用信号，该信号多路复用均具有彼此不同的波长的四个光学信号以及由光学衰减器25a独立调节的强度。多波长光源22b、光学解复用器24b、光学衰减器25b和光学多路复用器26b的其他路径具有与上面相同的功能。即，其他路径可生成另一波长多路复用信号，该信号多路复用均具有彼此不同的波长的四个光学信号以及独立调节的强度。补充光源28向光学放大器30提供另一光学信号。光学放大器30放大另一光学信号的强度并将因此放大的另一光学信号提供至3选2选择器32。3选2选择器32生成光学信号La0和另一光学信号Lb0，其中，前一La0是从光学多路复用器26a提供的波长多路复用信号和从光学放大器30提供的放大的光学信号中的一个，而后一Lb0是从光学多路复用器26b提供的另一波长多路复用信号和从光学放大器30提供的放大器光学信号中的一个。这两个光学信号La0和Lb0分别提供给DUT40a和40b。[在测器件(DUT)]DUT40a和40b可以是如C型可插拔(CFP)、四通道小型可插拔28(QSFP28)等类型的光学收发器。DUT40a和40b从3选2选择器32接收波长多路复用信号La0和Lb0并分别生成波长多路复用信号La和Lb。从第一DUT40a输出的波长多路复用信号La和从第二DUT40b输出的另一波长多路复用信号Lb均多路复用具有(属于)彼此不同的波长的四个光学信号。图2A和图2B放大4选1选择器14a和14b以及2选本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于评估第一光学模块和第二光学模块的测试设备，所述第一光学模块和所述第二光学模块处理波长多路复用信号，所述波长多路复用信号多路复用各自具有彼此不同的波长的光学信号，属于所述第一光学模块的波长和属于所述第二光学模块的波长实质上彼此相等，所述测试设备包括：第一测试站，其分别使用从所述第一光学模块输出的所述光学信号中的一个和从所述第二光学模块输出的所述光学信号中的另一个对所述第一光学模块和所述第二光学模块执行第一评估；第二测试站，其分别使用所述光学信号中的所述一个和所述光学信号中的所述另一个对所述第一光学模块和所述第二光学模块执行第二评估；以及控制器，其控制所述第一评估和所述第二评估的切换，以及其中，所述第一测试站和所述第二测试站在第一时间段中分别同时执行所述第一光学模块的所述第一评估和所述第二光学模块的所述第二评估，且在所述第一时间段之后的第二时间段期间，分别同时执行所述第一光学模块的所述第二评估和所述第二光学模块的所述第一评估，以及其中，关于各个波长，重复所述第一光学模块和所述第二光学模块的所述第一评估和所述第二评估。

【技术特征摘要】
2017.10.25 JP 2017-2061631.一种用于评估第一光学模块和第二光学模块的测试设备，所述第一光学模块和所述第二光学模块处理波长多路复用信号，所述波长多路复用信号多路复用各自具有彼此不同的波长的光学信号，属于所述第一光学模块的波长和属于所述第二光学模块的波长实质上彼此相等，所述测试设备包括：第一测试站，其分别使用从所述第一光学模块输出的所述光学信号中的一个和从所述第二光学模块输出的所述光学信号中的另一个对所述第一光学模块和所述第二光学模块执行第一评估；第二测试站，其分别使用所述光学信号中的所述一个和所述光学信号中的所述另一个对所述第一光学模块和所述第二光学模块执行第二评估；以及控制器，其控制所述第一评估和所述第二评估的切换，以及其中，所述第一测试站和所述第二测试站在第一时间段中分别同时执行所述第一光学模块的所述第一评估和所述第二光学模块的所述第二评估，且在所述第一时间段之后的第二时间段期间，分别同时执行所述第一光学模块的所述第二评估和所述第二光学模块的所述第一评估，以及其中，关于各个波长，重复所述第一光学模块和所述第二光学模块的所述第一评估和所述第二评估。2.根据权利要求1所述的测试设备，还包括选择器，其提供输入端口和输出端口，所述输入端口分别接收从所述第一光学模块和所述第二光学模块中的一个输出的光学信号，所述输出端口与所述输入端口中的仅一个输入端口光学耦接，其中，在各个波长中，所述控制器选择所述输入端口中的一个输入端口以与所述输出端口光学耦接。3.根据权利要求1所述的测试设备，还包括2选2选择器，其提供两个输入端口和两个输出端口，所述两个输入端口分别与所述第一光学模块和所述第二光学模块光学耦接，所述两个输出端口分别与所述第一测试站和所述第二测试站耦接，其中，在所述第一时间段，所述输入端口中与所述第一光学模块耦接的一个输入端口与所述输出端口中与所述第一测试站耦接的一个输出端口耦接，且所述输入端口中与所述第二光学模块耦接的另一个输入端口与所述输出端口中与所述第二测试站耦接的另一个输出端口耦接，以及在所述第二时间段，所述输入端口中与所述第一光学模块耦接的所述一个输入端口与所述输出端口中与所述第二测试站耦接的所述另一个输出端口耦接，且所述输入端口中与所述第二光学模块耦接的所述另一个输入端口与所述输出端口中与所述第一测试站耦接的所述一个输出端口耦接。4.根据权利要求1所述的测试设备，还包括第三测试站，其中，所述第一光学模块和所述第二光学模块均提供接收器，所述接收器接收相应的波长多路复用信号，以及其中，在所述第二时间段中，所述第三测试站评估所述第一光学模块中的接收器和所述第二光学模块中的接收器。5.根据权利要求1所述的测试设备，其中，所述控制器校正从所述第一光学模块和所述第二光学模块到所述第一测试站和所述第二测试站中的一个的光学路径上的光学损耗。6.根据权利要求1所述的测试设备，其中，所述第一测试站包括光学波形分析器，所述光学波形分析器通过进入...

【专利技术属性】
技术研发人员：入江刚，荒川敬，高桥克征，
申请(专利权)人：住友电工光电子器件创新株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP