一种MCD的测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及LED测试技术领域，尤其涉及一种MCD的测试装置。其技术方案要点：包括开设有进光孔的底座和安装于所述底座上的分光镜座A和分光镜座B；分光镜座B开设有与进光孔连通的连通孔和设置于连通孔远离进光孔一端的波长测试孔，波长测试孔的中轴线与连通孔中轴线垂直；波长测试孔远离连通孔的端部连接有用于测试LED波长的波长测试组件；分光镜座A开设有与连通孔连通且中轴线与连通孔中轴线平行的光强测试孔；光强测试孔远离连通孔的端部连接有用于测试LED光强的MCD测试组件；连通孔和光强测试孔交接处安装有与连通孔中心轴线成45°的半透半反镜，能够同时进行LED波长测试和光强测试，节省时间和人力成本。

A Testing Device for MCD

The utility model relates to the technical field of LED testing, in particular to a MCD testing device. The main points of the technical scheme include: a base with an intake hole and a spectroscopic base A and B mounted on the base; a connecting hole connected with the intake hole and a wavelength testing hole located at one end of the connecting hole away from the intake hole; the central axis of the wavelength testing hole is perpendicular to the central axis of the connecting hole; and an end connection of the wavelength testing hole away from the connecting hole is used for measuring. The wavelength test module for testing the wavelength of LED; the light intensity test hole connected with the connecting hole A and parallel to the central axis of the connecting hole; the end of the light intensity test hole far away from the connecting hole is connected with the MCD test module for testing the light intensity of LED; the junction of the connecting hole and the light intensity test hole is equipped with a semi-transparent mirror 45 degrees from the central axis of the connecting hole, which can simultaneously carry out the LED wave. Long test and light intensity test save time and manpower cost.

【技术实现步骤摘要】
一种MCD的测试装置
本技术涉及LED测试
，尤其涉及一种MCD的测试装置。
技术介绍
在LED的光参数测试中，其中波长和亮度是需要测试的两个关键参数，亮度方面有两种需要测试，MW（光功率）、MCD。“MCD”：光通量的空间密度，即单位立体角的光通量，叫发光强度，是衡量光源发光强弱的量。目前，需要掌握LED的光参数，现有的测试方式大部分都是独立进行LED亮度的测试和独立进行LED波长的测试，使LED的光参数测试过程过于繁杂，浪费时间与人力资源。
技术实现思路
针对现有技术存在的不足，本技术的目的一在于提供一种MCD的测试装置，能够同时进行LED波长测试和光强测试，有利于节省时间成本和人力资源成本。本技术的上述技术目的一是通过以下技术方案得以实现的：一种MCD的测试装置，其特征在于，包括开设有进光孔的底座和安装于所述底座上的分光镜座A和分光镜座B；分光镜座B开设有与进光孔连通的连通孔和设置于连通孔远离进光孔一端的波长测试孔，波长测试孔的中轴线与连通孔中轴线垂直；波长测试孔远离连通孔的端部连接有用于测试LED波长的波长测试组件；分光镜座A开设有与连通孔连通且中轴线与连通孔中轴线平行的光强测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种MCD的测试装置，其特征在于，包括开设有进光孔(11)的底座(1)和安装于所述底座(1)上的分光镜座A(2)和分光镜座B(3)；分光镜座B(3)开设有与进光孔(11)连通的连通孔(31)和设置于连通孔(31)远离进光孔(11)一端的波长测试孔(32)，波长测试孔(32)的中轴线与连通孔(31)中轴线垂直；波长测试孔(32)远离连通孔(31)的端部连接有用于测试LED波长的波长测试组件(5)；分光镜座A(2)开设有与连通孔(31)连通且中轴线与连通孔(31)中轴线平行的光强测试孔(21)；光强测试孔(21)远离连通孔(31)的端部连接有用于测试LED光强的MCD测试组件(4)；连通孔(3...

【技术特征摘要】
1.一种MCD的测试装置，其特征在于，包括开设有进光孔(11)的底座(1)和安装于所述底座(1)上的分光镜座A(2)和分光镜座B(3)；分光镜座B(3)开设有与进光孔(11)连通的连通孔(31)和设置于连通孔(31)远离进光孔(11)一端的波长测试孔(32)，波长测试孔(32)的中轴线与连通孔(31)中轴线垂直；波长测试孔(32)远离连通孔(31)的端部连接有用于测试LED波长的波长测试组件(5)；分光镜座A(2)开设有与连通孔(31)连通且中轴线与连通孔(31)中轴线平行的光强测试孔(21)；光强测试孔(21)远离连通孔(31)的端部连接有用于测试LED光强的MCD测试组件(4)；连通孔(31)和光强测试孔(21)交接处安装有与连通孔(31)中心轴线成45°的半透半反镜(6)。2.根据权利要求1所述的一种MCD的测试装置，其特征在于，所述分光镜座A(2)和分光镜座B(3)均包括相互抵接的抵接面(22)和安装面(23)，所述安装面(23)内凹用于安装半透半反镜(6)的安装面(23)，所述安装面(23)与连通孔(31)中心轴线成45°，抵接面(22)和安装面(23)为锐角。3.根据权利要求2所述的一种MCD的测试装置，其特征在于，所述抵接面(22)和安装面(23)为45°。4.根据权利要求1所述的一种MCD的测试装置，其特征在于，所述半透半反镜(6)外围设有第二环型橡胶密封圈(61)。5.根据权利要求1所述的一种MCD的测试装置，其特征在于，所述波长测试组件(5)与所述分光镜座B(3)之间设有衰减组件(7)；所述衰减组件(7)包括安装于所述波长测试组件(5)与所述分光镜座B(3)之间的遮光板(71)，所述遮光板(7...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘振辉，王业文，栗巍，杨波，
申请(专利权)人：深圳市矽电半导体设备有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44