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本实用新型涉及LED测试技术领域，尤其涉及一种MCD的测试装置。其技术方案要点：包括开设有进光孔的底座和安装于所述底座上的分光镜座A和分光镜座B；分光镜座B开设有与进光孔连通的连通孔和设置于连通孔远离进光孔一端的波长测试孔，波长测试孔的中轴...
该专利属于深圳市矽电半导体设备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市矽电半导体设备有限公司授权不得商用。

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