【技术实现步骤摘要】
一种在真空热环境下应用的光电测角装置
本专利技术属于真空热环境下测角
，具体涉及一种在真空热环境下应用的光电测角装置。
技术介绍
目前国内外针对在真空热环境下采用光电法对微小角度高精度测试技术的研究极少且不成熟，对结构尺寸的非接触测量主要集中在使用摄影测量或视觉测量的方法。真空热环境指真空度优于1.3×10-3Pa，环境温度在-173℃～+50℃。国外针对真空热环境下不同被测对象的特征及不同的测量要求，采用的测量方法比较多：利用全息方法在模拟空间环境下测量天线热变形、利用数字散斑相关方法测量陶瓷材料热变形、利用基于相移原理的测量方法动态测量随时间线性变化的变形量，测量精度不大于±0.1mm等。国内在真空热环境下形变的测量主要是采用摄影测量的方法。但是这些测量方法测量精度不高、往往在实现上较为复杂，并且相关的测量设备成本很高，因此应用范围较为局限，无法满足微小角度变形的高精度测量要求。应用光电测角装置在常温常压下对微小角度测量的方法，测量精度高、测量方法简单易行、技术成熟可靠，应用范围很广。但由于光电测角仪的镜片材料、金属结构材料的不同，其在真空热环境中会出现较大的结构变形，从而引起光学测量系统的结构变化，进而引起测量精度的变化。严重制约光电测角仪在真空热环境中的应用。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种在真空热环境下应用的光电测角装置，实现在真空热环境下对微小角度的高精度测量。本专利技术的技术方案如下：一种在真空热环境下应用的光电测角装置，包括多层隔热片、电加热片、主体、光学镜筒、保护罩、低膨胀基体和镜片；所述的保护罩与低膨胀基体螺接固定；所述的...
【技术保护点】
1.一种在真空热环境下应用的光电测角装置，其特征在于：包括多层隔热片(1)、电加热片(2)、主体(3)、光学镜筒(4)、保护罩(5)、低膨胀基体(6)和镜片(7)；所述的保护罩(5)与低膨胀基体(6)螺接固定；所述的光学镜筒(4)与主体(3)螺接组成测角单元，所述的测角单元位于由保护罩(5)和低膨胀基体(6)围成的空间内，且与低膨胀基体(6)螺接固定；在所述保护罩(5)的外侧壁上设有多层隔热片(1)，在保护罩(5)的内侧壁上设有电加热片(2)；所述的镜片(7)分别通过压圈(8)压紧固定在光学镜筒(4)两端的内壁上。
【技术特征摘要】
1.一种在真空热环境下应用的光电测角装置，其特征在于：包括多层隔热片(1)、电加热片(2)、主体(3)、光学镜筒(4)、保护罩(5)、低膨胀基体(6)和镜片(7)；所述的保护罩(5)与低膨胀基体(6)螺接固定；所述的光学镜筒(4)与主体(3)螺接组成测角单元，所述的测角单元位于由保护罩(5)和低膨胀基体(6)围成的空间内，且与低膨胀基体(6)螺接固定；在所述保护罩(5)的外侧壁上设有多层隔热片(1)，在保护罩(5)的内侧壁上设有电加热片(2)；所述的镜片(7)分别通过压圈(8)压紧固定在光学镜筒(4)两端的内壁上。2.如权利要求1所述的一种在真空热环境下应用的光电测角装置，其特征在于：还包括在所述光学镜筒(4)的内壁上加工有排气孔(9)，以保证在外界环境压力变化时，两镜片(7)之间的气压保持平衡，避免由于气压变化导致镜片(7)位置发生偏移。3.如权利要求2所述的一种在真空热环境下应用的光电测角装置，其特征在于：还包括在所述保护罩(5)的内侧壁上设有热敏电阻。4.如权利要求3所述的一种在真空热环境下应用的光电测角装置，其特征在于：所述主体(3)的材料线膨胀系...
【专利技术属性】
技术研发人员：姜云翔，刘莎，王锴磊，汪涛，赵天承，崔桂利，高秋娟，
申请(专利权)人：北京航天计量测试技术研究所，中国运载火箭技术研究院，
类型：发明
国别省市：北京,11
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